The surface modification and treatment using thermal plasma were reviewed in academic fields. In general, thermal plasma is generated by direct current (DC) and radiofrequency (RF) power sources. Thermal spray coating, a typical commercial process using thermal plasma, is performed by DC thermal plasma, whereas other promising surface modifications have been reported and developed using RF thermal plasma. Beyond the thermal spray coating, physical and chemical surface modifications were attempted widely. Superhydrophobic surface treatment has a very high industrial demand particularly. Besides, RF thermal plasma system for large-area film surface treatment is being developed. Thermal plasma is especially suitable for the surface modification of low-dimensional nanomaterial (e.g., nanotubes) by utilizing high temperature and rapid quenching. It is able to synthesize and modify nanomaterials simultaneously in a one-pot process.
한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
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pp.933-936
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2007
An inductively coupled plasma source with internaltype linear inductive antennas named as "multiple Utype antenna" was developed for the substrate size of $2,300mm\;{\times}\;2,000mm$. High density plasmas on the order of $1.18\;{\times}\;10^{11}\;cm^{-3}$ could be obtained and the RF power of 8kW with good plasma stability.
Transition metal dichalcogenides (TMDCs) are promising layered structure materials for next-generation nano electronic devices. Many investigation on the FET device using TMDCs channel material have been performed with some integrated approach. To use TMDCs for channel material of top-gate thin film transistor(TFT), the study on high-k dielectrics on TMDCs is necessary. However, uniform growth of atomic-layer-deposited high-k dielectric film on TMDCs is difficult, owing to the lack of dangling bonds and functional groups on TMDC's basal plane. We demonstrate the effect of remote oxygen plasma pretreatment of large area synthesized few-layer MoSe2 on the growth behavior of Al2O3, which were formed by atomic layer deposition (ALD) using tri-methylaluminum (TMA) metal precursors with water oxidant. We investigated uniformity of Al2O3 by Atomic force microscopy (AFM) and Scanning electron microscopy (SEM). Raman features of MoSe2 with remote plasma pretreatment time were obtained to confirm physical plasma damage. In addition, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was measured to investigate the reaction between MoSe2 and oxygen atom after the remote O2 plasma pretreatment. Finally, we have uniform Al2O3 thin film on the MoSe2 by remote O2 plasma pretreatment before ALD. This study can provide interfacial engineering process to decrease the leakage current and to improve mobility of top-gate TFT much higher.
Sheik Abdur Rahman;Shenawar Ali Khan;Yunsook Yang;Woo Young Kim
한국응용과학기술학회지
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제40권1호
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pp.71-80
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2023
실버 페이스트는 상대적으로 낮은 열처리로 공정이 가능하기 때문에 전자 소자 응용분야에서 유용한 전극 재료이다. 본 연구에서는 은 페이스트 전극에 대기압 플라즈마 제트를 이용하여 전극 표면을 처리 했다. 이 플라즈마 제트는 11.5 kHz 작동 주파수에서 5.5 ~ 6.5 kV의 고전압을 사용하여 아르곤 분위기에서 생성되었다. 플라즈마 제트는 대기압에서 수행함으로써 인쇄 공정에 더 유용할 수 있다. 플라즈마 처리시간, 인가된 전압, 가스유량에 따라 전극의 표면은 빠르게 친수성화 되었으며 접촉각의 변화가 관찰되었다. 또한, 대면적 샘플에서 플라즈마 처리 후 접촉각의 편차가 없었는데, 이는 기판의 크기에 관계없이 균일한 결과를 얻을 수 있었다는 것을 의미한다. 본 연구의 결과는 대면적 전자소자의 제조 및 향후 응용 분야에서 적층 구조를 형성하는데 매우 유용할 것으로 기대된다.
The plasma processing technologies of thin film deposition and surface treatment technique have been applied to many industrial fields. This study is purposed Large-area uniformity and surface treatment on the stainless substrate. We treat surface of stainless by $CF_4$ plasma. $CF_4$ plasma is generated by using SPM(Scanning plasma method)which is kind a of CVD. Generally, SPM has been used for uniform surface treatment using a crossed electromagnetic field. The optimum discharge condition has been studied for the gas pressure, the magnetic flux density and the distance between substrate and electrodes. In result, contact angle is increased by surface treatment using $CF_4$ Plasma. Therefore we expect that SPM to control contact angle is applied to many industries.
한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.I
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pp.768-773
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2005
We present an overview of our new method of liquid crystal (LC) alignment based on the anisotropic etching of the alignment layers with a directed plasma flux. The method is realized by the use of anode layer source of "race track" geometry generating two "sheets" of accelerated plasma. These sheets are directed obliquely to the treated substrates. The static and dynamic irradiation regimes have been explored. The optimized processing conditions and materials are discussed. The technique yields an excellent uniformity of liquid crystal alignment of planar, tilted and vertical types. It is shown that the new method can be easily adapted for the alignment treatment of large area substrates used in the modern LCD manufacturing process.
Electromagnetic wave simulation was performed to predict characteristics of manufactured cutoff probe at low temperature magnetized plasma medium. Microwave cutoff probe is designed for research the properties of magnetized inductively coupled plasma. It was shown that the cutoff probe method can safely be used for weakly magnetized high density plasma sources. Cutoff probe system with two port network analyzer has been prepared and applied to measure electron density distributions in large area, 13.56MHz driven weakly magnetized inductively coupled plasma source. The results shown that, the plasma frequency confirmed cut-off characteristics in low temperature plasma. Especially, cut-off characteristics was found at upper hybrid resonance frequency in the environment of the magnetic field. In case of a induced weak magnetic field in inductively coupled plasma, plasma density estimated from the cutoff frequency in the same way at unmagnetized plasma due to nearly same plasma frequency and upper hybrid resonance frequency. The plasma density is increased and uniformity is improved by applying a induced weak magnetic field in inductively coupled plasma.
Diamond was uniformly nucleated on large area Si(001) substrate (3cm$\times$4cm) using the low pressure magnetoactive microwave plasma chemical vapor deposition. $CH_4/He$ gas mixture was used as source gas in order to obtain high radical density in the nucleation enhancement step. $CH_3$radical density was measured by means of infrared laser absorption spectroscopy. The effect of substrate bias voltage on diamond nucleation was examined. The results showed that a suitable positive bias voltage appled to the substrate with respect to the chamber could enhance diamond nucleation while a negative bias voltages leaded to deposition of only non-diamond phase carbon.
It has been investigated for the film uniformity and deposition rate of a-C:H films on glass substrate and polymeric materials in the presence of the modulated crossed magnetic field. We used Plasma CVD, i.e, using a crossed electromagnetic field, for uniform depositing thin film. The optimum discharge condition has been discussed for the gas pressure, the magnetic flux density and the distance between substrate and electrodes, As a result, it is found that the optimum discharge conditions are $CH_4$ concentration $CH_4$=10 %, modulated magnetic flux density B=48 Gauss, pressure P=100 mTorr, discharge power supply voltage V=l kV under these experimental conditions. By using these experimental condition, it is possible to prepare the most uniform film extends over about 160 mm of the film width. In this study, we deposited a-C:H thin film on glass substrate, and have a plan that using this condition, study depositing a-C:H thin film on polymeric substrate in next studies.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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