The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.57
no.1
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pp.73-77
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2008
We have investigated dielectric polarization in organic light-emitting diodes using 8-hydroxyquinoline aluminum($Alq_3$) as an electron transport and emissive material. We analyzed the dielectric polarization of organic light-emitting diodes using characteristics of impedance and equivalent circuit of $ITO/Alq_3/Al$. Impedance characteristics was measured complex impedance Z and phase ${\theta}$ in the frequency range of $1{\times}40Hz\;to\;1{\times}10^8Hz$. We obtained complex electrical conductivity, dielectric constant, and loss tangent(tan${\delta}$) of the device at room temperature. And, we obtained the equivalent circuit of $ITO/Alq_3/Al$ through analyzing dielectric constant and dielectric loss tangent. From these analyses, we could interpret a conduction mechanism and dielectric polarization.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1989.06a
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pp.63-65
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1989
Piezoelectric BaTiO$_3$-polymer composite were investigated for dielectric and piezoelectric properties with the barium titanate active particle size. Under the condition of the same density and ceramic volume ratio of composite, the dielectric and piezoelectric constant of composite are increasing as the ceramic particle size in composite are increasing. The surface layer model was quoted to explain these phenomena in our system and experimentally confirmed. The connectivity parameter of modified cube model of composite was calculated from the dielectric constant variation as their particle size. The connectivity parameter X and Y were 77.8% and 98.9% respectively. It means that the barium titanate particle distribution in composite nearly approach to the parallel mode. It was experimentally confirmed that the surface layer has low dielectric and nonferroelectric properties. Dielectric constant and thickness of surface layer were calculated from the equivalent circuit of composite.
Journal of the Korean Society for Marine Environment & Energy
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v.15
no.1
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pp.22-24
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2012
Depending on the status of the engine oil, the dielectric constant is changed. Dielectric constant of oil is related to the characteristic impedance of the probe and the characteristic impedance of the probe determines the reflected signal. In this paper, we derive an equivalent circuit of the probe and using the dielectric constant obtained by measuring the capacitance, the theoretical reflection coefficient of the probe was calculated. In the results, if the engine oil is deteriorated, we can see that the reflection coefficient is increased.
Proceedings of the Korea Electromagnetic Engineering Society Conference
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2000.11a
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pp.87-90
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2000
In this paper. we present a method for a systematic design of a dielectric slab polarizer in the circular waveguide. This structure is realized using a tapered dielectric slab inside a circular waveguide. Commercial software is used to obtain the equivalent dielectric constant of the circular waveguide partially filled with a dielectric slab. The length of the tapered region is determined so that the reflection from the dielectric slab is sufficiently low. A polarizer operating at 10 GHz band is designed, fabricated and tested.
Kim, Dae Kyoung;Jang, Hae-Gyu;Kim, Yong-Tae;Kim, Hoon-Bae;Chae, Hee-Yeop
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.461-461
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2010
For a low dielectric constant inter-metal dielectric application, the low-k SiCOH film with a dielectric constant of 2.8-3.2 has been deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition with decamethylcyclopentasiloxane, cyclohexane, and helium which is carrier gas. In this work, we investigated chemical deposition rate, dielectric constant, characterization of plasma polymer films according to temperature(25C-200C) of substrate and change of component concentration. We measured impedance by using V-I prove during process. From experimental result, deposition rate decrease with increasing temperature. Through real time impedance analysis of chamber, we find corelation between film thickness and impedance by assuming equivalent circuit.
A Modified equivalent circuit by combining a series and parallel of polymer matrix for estimating the dielectric constant ${\bar{K}}_{33}$ values changing the volume percent of $PbTiO_3$, the dependences of frequency for the 713 and dissipation factor for 0 - 3 composites was derived. The difference of the dielectric constant and dissipation factor between the calculated and measured values became smaller at higher volume percent of $PbTiO_3$. There was, good agreement between the calculated and observed results for 70 volume percent of $PbTiO_3$ and 30 volume percent of Eccogel composite at 1(KHz), 25($^{\circ}C$). The optimized variable x was 0.94 in $PbTiO_3$ ceramics. $PbTiO_3$ powder and Eccogel polymer were used as piezoelectric fillers and matrix, respectively.
In this paper, an algorithm for retrieving soil moisture from measurement of microwave reflection at the end of a coaxial canble is presented. Because the wave reflection from the boundary between air and soil layers depends on the dielectric constant of the soil layer, the dielectric constant can be obtained from measured reflection coefficient. At first, an equivalent circuit for the coaxial probe contaced on the soil surface was chosen with two unknown circuit elements. Then, the unknown circuit elements are obtained experrmentally by measuring the reflection constants of 20 soil samples, and consequently, an empirical formula for computing the dielectric constant from the reflection coefficient is obtained. The dielectric constant is mainly influenced by the soil moisture, and the soil moisture can be computed from the dielecfic constant using an existing empirical formula. HP Network Analyzer 8510C was used to measure the magnitude and the phase of the reflection coeffcient at 4.65 GHz, and the measured data set were used to obtain an empirical formula for computing the dielectric constant. The empirical formula obtained in this study was proven by other soil samples.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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v.23
no.4
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pp.522-528
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1986
Based on the modified effective index method, analysis of dielectric rectangular waveguides and directional couplers are presented. Aside from the effective index concept of channel region, the equivalent index concept of cladding region is proposed. The error problem of eigenvalues, which has been experienced when the effective index method is used, is improved. Our approxiamtions give similar accuracy when compared with the results of other regorous approxiamtion techiniques. The advantage of the modified effective index methods is utilized by replacing the directional coupler with the equivalent slab guides, and the coupling constant is calculated by the coupled mode theory. The effectiveness of the equivalent index concept is positively confirmed.
Stoichiometric, uniform, amorphous ZrO$_2$ films with an equivalent oxide thickness of ∼1.5nm and a dielectric constant of ∼18 were deposited by an atomic layer controlled deposition process on silicon for potential application in meta-oxide-semiconductor(MOS) devices. The conduction mechanism is identified as Schottky emission at low electric fields and as Poole-Frenkel emission at high electric fields. the MOS devices showed low leakage current, small hysteresis(〈50mV), and low interface state density(∼2*10e11/cm2eV). Microdiffraction and high-resolution transmission electron microscopy showed a localized monoclinic phase of ${\alpha}$-ZrO$_2$ and an amorphous interfacial ZrSi$\_$x/O$\_$y/ layer which has a correspondign dielectric constant of 11
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.07b
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pp.582-585
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2004
Pb0.5Sr0.5TiO3 (PST) thin films were fabricated by the alkoxide-based sol-gel process using spin-coating method on Pt/Ti/SiO2/Si substrate. The PST films annealed from 500C to 650C for 1h show a perovskite phase and dense microstructure with a smooth surface. The grain size and dielectric constant of PST films increases with the increase in annealing temperature, which reduces the SiO2 equivalent thickness of the PST film. The crystallinity or internal strain in the PST thin films analyzed from the diffraction-peak widths correlate well with the decrease in the dielectric losses. The dielectric constants and dielectric loss (%) of the PST films annealed at 650c (teq : 0.89 nm) were 549 and 0.21%, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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