• 제목/요약/키워드: Embedded memory

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simpleRTJ 클래스 파일의 형식 분석 (Analysis of the simpleRTJ Class File Format)

  • 양희재
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2002년도 추계종합학술대회
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    • pp.373-377
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    • 2002
  • 내장형 시스템은 데스크톱 시스템과 달리 메모리 사용상 큰 제한을 받는다. 자바 프로그램 실행을 위해서는 클래스 파일들이 메모리 상에 배치되어져야 하는데, 클래스 파일은 내부에 상수풀, 클래스 정보, 필드 정보, 그리고 메소드 정보 등을 갖는다. 이 정보들 중 어떤 것들은 디버깅 등의 목적으로 사용되며 또 어떤 것들은 실제 프로그램 실행을 위해 사용되어진다. 본 연구에서는 내장형 자바 시스템을 위한 클래스 파일들의 내부 정보, 즉 형식에 대해 분석해보고, 그것이 메모리 상에 배치되었을 때 요구되어지는 메모리의 양 둥을 해당 정보별로 조사해보았다. 실험은 원천코드가 공개되어져있는 상용제품인 simpleRTJ 내장형 자바 시스템에 대해 이루어졌다.

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임베디드 시스템을 위한 메모리 서브시스템 파라미터의 자동 검출 (Automatic Detection of Memory Subsystem Parameters for Embedded Systems)

  • 하태준;서상민;전보성;이재진
    • 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
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    • 제15권5호
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    • pp.350-354
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    • 2009
  • 임베디드 시스템에서 프로그램 성능을 향상시키기 위해서는 시스템의 하드웨어를 이해하고 활용하는 것이 중요하다. 특히 메모리 서브시스템에 대한 이해는 프로그램을 주어진 하드웨어에 최적화하여 성능을 향상시키는 데 큰 역할을 한다. 본 논문에서는 cache, TLB, DRAM과 같은 메모리 서브시스템의 파라미터를 자동적으로 검출하는 기존의 알고리즘을 임베디드 시스템에 적용해 보고, 새롭게 메모리 뱅크 개수 검출 알고리즘을 제안한다. 제안한 알고리즘은 실제 여러 가지 임베디드 시스템 환경에서 실험을 통해 검증하였고, 실험 결과 메모리 서브시스템의 파라미터를 정확히 검출해 낼 수 있는 것을 확인하였다.

Sampling-based Block Erase Table in Wear Leveling Technique for Flash Memory

  • Kim, Seon Hwan;Kwak, Jong Wook
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제22권5호
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    • pp.1-9
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    • 2017
  • Recently, flash memory has been in a great demand from embedded system sectors for storage devices. However, program/erase (P/E) cycles per block are limited on flash memory. For the limited number of P/E cycles, many wear leveling techniques are studied. They prolonged the life time of flash memory using information tables. As one of the techniques, block erase table (BET) method using a bit array table was studied for embedded devices. However, it has a disadvantage in that performance of wear leveling is sharply low, when the consumption of memory is reduced. To solve this problem, we propose a novel wear leveling technique using Sampling-based Block Erase Table (SBET). SBET relates one bit of the bit array table to each block by using exclusive OR operation with round robin function. Accordingly, SBET enhances accuracy of cold block information and can prevent to decrease the performance of wear leveling. In our experiment, SBET prolongs life time of flash memory by up to 88%, compared with previous techniques which use a bit array table.

AUTOSAR 플랫폼 기반 CDD를 활용한 비휘발성 메모리 수명 연장 기법 (A Non-volatile Memory Lifetime Extension Scheme Based on the AUTOSAR Platform using Complex Device Driver)

  • 신주석;손정호;이은령;오세진;안광선
    • 대한임베디드공학회논문지
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    • 제8권5호
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    • pp.235-242
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    • 2013
  • Recently, the number of automotive electrical and electronic system has been increased because the requirements for the convenience and safety of the drivers and passengers are raised. In most cases, the data for controlling the various sensors and automotive electrical and electronic system used in runtime should be stored on the internal or external non-volatile memory of the ECU(Electronic Control Units). However, the non-volatile memory has a constraint with write limitation due to the hardware characteristics. The limitation causes fatal accidents or unexpected results if the non-volatile memory is not managed. In this paper, we propose a management scheme for using non-volatile memory to prolong the writing times based on AUTOSAR(AUTOmotive Open System Architecture) platform. Our proposal is implemented on the CDD(Complex Device Driver) and uses an algorithm which swaps a frequently modified block for a least modified block. Through the development of the prototype, the proposed scheme extends the lifetime of non-volatile memory about 1.08 to 2.48 times than simply using the AUTOSAR standard.

A Study on the Built-In Self-Test for AC Parameter Testing of SDRAM using Image Graphic Controller

  • Park, Sang-Bong;Park, Nho-Kyung;Kim, Sang-Hun
    • The Journal of the Acoustical Society of Korea
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    • 제20권1E호
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    • pp.14-19
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    • 2001
  • We have proposed BIST method and circuit for embedded 16M SDRAM with logic. It can test the AC parameter of embedded 16M SDRAM using the BIST circuit capable of detecting the address of a fail cell installed in an Merged Memory with Logic(MML). It generates the information of repair for redundancy circuit. The function and AC parameter of the embedded memory can also be tested using the proposed BIST method. It is possible to test the embedded SDRAM without external test pin. The total gate of the BIST circuit is approximately 4,500 in the case of synthesizing by 0.25μm cell library and is verified by Verilog simulation. The test time of each one AC parameter is about 200ms using 2Y-March 14n algorithm.

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Embedded System for Video Coding with Logic-Enhanced DRAM and Configurable Processor

  • Kaya, Toshiyuki;Miyamoto, Ryusuke;Onoye, Takao;Shirakawa, Isao
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2002년도 ITC-CSCC -1
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    • pp.216-219
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    • 2002
  • A novel approach of embedded systems for video coding is introduced with the main theme focused on logic-enhanced DRAM and configurable processor. This approach is aiming at reducing high computational costs and frequent memory accessing, which embedded systems are suffering with in the execution of video coding. According Co the software execution analysis, large size functions with intensive memory accesses are tuned to be executed by the logic-enhanced DRAM while small size functions repeatedly called are to be executed by dedicated instructions, which are newly introduced in the configurable processor. The proposed system can speed up H.263 video coding algorithm 7.4 times in comparison with the conventional embedded processor based system.

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Characteristic Variation of 3-D Solenoid Embedded Inductors for Wireless Communication Systems

  • Shin, Dong-Wook;Oh, Chang-Hoon;Kim, Kil-Han;Yun, Il-Gu
    • ETRI Journal
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    • 제28권3호
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    • pp.347-354
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    • 2006
  • The characteristic variation of 3-dimensional (3-D) solenoid-type embedded inductors is investigated. Four different structures of a 3-D inductor are fabricated by using a low-temperature co-fired ceramic (LTCC) process, and their s-parameters are measured between 50 MHz and 5 GHz. The circuit model parameters of each building block are optimized and extracted using the partial element equivalent circuit method and an HSPICE circuit simulator. Based on the model parameters, the characteristics of the test structures such as self-resonant frequency, inductance, and quality (Q) factor are analyzed, and predictive modeling is applied to the structures composed of a combination of the modeled building blocks. In addition, characteristic variations of the 3-D inductors with different structures using extracted building blocks are also investigated. This approach can provide a characteristic estimation of 3-D solenoid embedded inductors for structural variations.

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내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술 (Programmable Memory BIST and BISR Using Flash Memory for Embedded Memory)

  • 홍원기;최정대;심은성;장훈
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제45권2호
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    • pp.69-81
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    • 2008
  • 메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 이러한 변화는 구성요소들의 크기를 작아지게 만들고, 고장의 감응성이 증가하게 하였다. 그리고 고장은 더욱 복잡하게 되었다. 또한, 칩 하나에 포함되어있는 저장 요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 되었다. 본 논문에서 제안하는 테스트 구조는 내장 테스트를 사용하여 외부 테스트 환경 없이 테스트가 가능하다. 제안하는 내장 테스트 구조는 여러 알고리즘을 적용 가능하므로 높은 효율성을 가진다. 또한 고장 난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장 난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리로 효율적인 재배치가 가능한 복구 기술을 포함한다. 재배치 정보는 고장 난 메모리를 매번 테스트 해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다.

임베디드 시스템 상에서의 고속 트랜잭션을 위한 메인메모리 기반 데이터베이스 시스템 구현 (Implementation of Maim Memory DBMS for Efficient Transactions based on Embedded System)

  • 김영환;손재기;박창원
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2008년도 하계종합학술대회
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    • pp.769-770
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    • 2008
  • Mani Memory DataBase(MMDB) system store their data in main physical memory and provide very high-speed access. Conventional database system are optimized for the particular characteristics of disk storage mechanism. Memory resident systems, on the other hand, use different optimizations to structure and organize data, as well as to make it reliable. This paper provides a brief overview on MMDBs and the results after evaluating the performance of our simple MMDB based on Embedded system.

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센서네트워크를 위한 Dual Priority Scheduling 기반 시스템 소프트웨어 모델링 (System Software Modeling Based on Dual Priority Scheduling for Sensor Network)

  • 황태호;김동순;문연국;김성동;김정국
    • 대한임베디드공학회논문지
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    • 제2권4호
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    • pp.260-273
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    • 2007
  • The wireless sensor network (WSN) nodes are required to operate for several months with the limited system resource such as memory and power. The hardware platform of WSN has 128Kbyte program memory and 8Kbytes data memory. Also, WSN node is required to operate for several months with the two AA size batteries. The MAC, Network protocol, and small application must be operated in this WSN platform. We look around the problem of memory and power for WSN requirements. Then, we propose a new computing model of system software for WSN node. It is the Atomic Object Model (AOM) with Dual Priority Scheduling. For the verification of model, we design and implement IEEE 802.15.4 MAC protocol with the proposed model.

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