$TaO_2$ thin films as gate dielectrics have been proposed to overcome the problems of tunneling current and degradation mobility in achieving a thin equivalent oxide thickness. An extremely thin $SiO_2$ layer is used in order to separate the carrier in MOSFETchannel from the dielectric field fluctuation caused by phonons in the dielectric which decreases the carrier mobility. The electronic and optical properties influenced the device performance to a great extent. The atomic structure of amorphous and crystalline Tantalum oxide ($TaO_2$) gate dielectrics thin film on Si (100) were grown by utilizing atomic layer deposition method was examined using Ta-K edge x-ray absorption spectroscopy. By using X-ray photoelectron spectroscopy and reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) the electronic and optical properties was obtained. In this study, the band gap (3.400.1 eV) and the optical properties of $TaO_2$ thin films were obtained from the experimental inelastic scattering cross section of reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) spectra. EXAFS spectra show that the ordered bonding of Ta-Ta for c-$TaO_2$ which is not for c-$TaO_2$ thin film. The optical properties' e.g., index refractive (n), extinction coefficient (k) and dielectric function ($\varepsilon$) were obtained from REELS spectra by using QUEELS-$\varepsilon$(k, $\omega$)-REELS software shows good agreement with other results. The energy-dependent behaviors of reflection, absorption or transparency in $TaO_2$ thin films also have been determined from the optical properties.
We present dielectric constant measurements of thin films using THz metamaterials fabricated on a quartz substrate. The resonance shifts of the metamaterials exhibit saturation behavior with increasing film thickness. The saturation frequency shift varies with the real part of the dielectric constant, from which the numerical expression for the particular metamaterial design was extracted. We first performed finite-difference time-domain simulations to find an explicit relationship between the saturated frequency shift and the dielectric constant of a thin film, which was confirmed by the experimental results from conventional techniques. In particular, the quartz substrate enables us to determine their values more accurately, because of its low substrate index. As a result, we extracted the dielectric constants of various films whose values have not been addressed previously without precise control of the film thickness.
Ferroelectric $Pb_2(Sc,Nb)O_6$ were prepared under two different sintering conditions using the oxide mixing method and the electrical properties were measured. The sintering conditions were $1350^{\circ}C$ for 25 minutes and $1400^{\circ}C$ for 20 minutes. EDX spectroscopy and XRD were used to determine the crystalline characteristic of the $Pb_2(Sc,Nb)O_6$ compositions Pyrochlore phase showed about 2% in all $Pb_2(Sc,Nb)O_6$ specimens. It expands the growth of crystals in samples sintered at $1400^{\circ}C$ than $1350^{\circ}C$, but all samples were the optimal crystallization. The temperature and frequency dependence of the complex dielectric constant and admittance were measured to analyze the electrical properties. The high dielectric constant of the specimens reflects the good stoichiometry and crystallization. The maximum value of the dielectric constant in the two specimens treated with sintering at $1350^{\circ}C$ and $1400^{\circ}C$ were more than 27,000, and the dielectric loss at room temperature is smaller than 0.05. The maximum dielectric constant decreased with increasing frequency, the transition temperature also increased in $Pb_2(Sc,Nb)O_6$ compositions. The admittance and susceptance values reach a peak at all temperatures, and the magnitude of the peak increases with increasing measuring temperature. Strong frequency dependent of maximum admittance, susceptance, dielectric constant and dielectric loss were observed.
In this study, the phase transition behaviors of lead-free (Na1/2Bi1/2TiO3)(1-x)-(BaTiO3)x (NBT-BT) are investigated by using Brillouin spectroscopy. The elastic properties, sound velocity and absorption coefficient of NBT-BT are characterized as a function of temperature along different crystallographic axes. The temperature dependences of the elastic constants of NBT-BT near the morphotropic phase boundary are determined for the first time. The unpoled NBT-BT single crystals exhibits the typical relaxor behaviors, presenting broad acoustic and dielectric anomalies. The application of electric field induced discontinuous changes in the elastic properties at ~110℃, which indicates field-induced phase transition occurred. The electric field also changes the dielectric constant from more relaxor-like to ferroelectric-like dielectric behavior.
Soliman, Islam El-Sayed;Metawa, Asem El-Sayed;Aboelnasr, Mohamed Abdel Hameed;Eraba, Khairy Tohamy
Korean Journal of Chemical Engineering
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제35권12호
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pp.2452-2463
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2018
Surface treatment of sol-gel bioglass is required to increase its biomedical applications. In this study, a dielectric barrier discharge (DBD) plasma treatment in atmospheric pressure was performed on the surface of [$SiO_2-CaO-P_2O_5-B_2O_3$] sol-gel derived glass. The obtained bioglass was treated by plasma using discharge current 12 mA with an exposure period for 30 min. The type of discharge can be characterized by measuring the discharge current and applied potential waveform and the power dissipation. Apatite formation on the surface of the DBD-treated and untreated samples after soaking in simulated body fluid (SBF) at $37^{\circ}C$ is characterized by Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), X-Ray diffraction (XRD), inductively coupled plasma (ICP-OES) and scanning electron microscopy coupled with energy dispersive spectroscopy (SEM/EDS). We observed a marked increase in the amount of apatite deposited on the surface of the treated plasma samples than those of the untreated ones, indicating that DBD plasma treatment is an efficient method and capable of modifying the surface of glass beside effectively transforming it into highly bioactive materials.
Siloxane thin films were fabricated on a silicon wafer by spin-coating using a siloxane solution made by the sol-gel process. Fluorine was doped using$ CF_4$ plasma treatment. The film was then annealed in-situ state in the nitrogen atmosphere. In order to examine the influence of annealing and fluorine doping on the siloxane thin film, thermogravimetric-differential thermal analysis (TG-DTA), Fourier transform-infrared spectroscopy (FT-IR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) were used and the dielectric constant was determined by the high-frequency capacitance-voltage method. Stable siloxane films could be obtained by in-situ annealing in a nitrogen atmosphere after $CF_4$ plasma treatment, and the dielectric value of the film was $\varepsilon$ 2.5.
The photoinduced electron transfer reactions of N,N,N',N'-tetramethyl-p-phenylenediamine (TMPD) in various polar solvents were studied by measuring time-resolved fluorescence. The temperature dependence on the fluorescence decay rate in acetonitrile, methanol, ethanol and buthanol was carried out to obtain the activation energy and Arrehnius factor for the photoinduced electron transfer reaction. It was found that as the dielectric constant of the solvent increases, the activation energy and the reaction rate increase. This implys that the Arrehnius factor is important in controlling the photoinduced electron transfer reaction rate. In water, TMPD exists in three forms (cationic, protonated and neutral forms) due to the high dielectric constant and strong proton donating power of water. The photoinduced electron transfer reaction was found to be very fast (< 50 ps) and also the long liverd component in the fluorescence decay profile attributable to the photoexcited protonated form of TMPD was observed. Probably, the reaction pathway and the reaction coordinate seem to be different depending on the solvents studied here.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제16권2호
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pp.53-61
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2015
High-energy ball milling was tested as a method for producing Ultra High Molecular Weight Polyethylene (UHMWPE)- based nanodielectrics containing 1 wt% and 5 wt% OctaIsoButylPOSS (OibPOSS). Qualitative and quantitative evaluations were used to explore the compatibility between OibPOSS and PE. Several ball milling variables were optimized in a bid to achieve UHMWPE/OibPOSS nanodielectrics. The morphology, as well as the thermal and the dielectric properties of the samples, were characterized by scanning electron microscopy, thermogravimetric analysis, broadband dielectric spectroscopy, and progressive-stress breakdown tests. The results showed that (i) ball milling was an effective method for producing UHMWPE/OibPOSS dielectric composites, but appeared ineffective in dispersing OibPOSS at the nanoscale, and (ii) the resulting UHMWPE/OibPOSS dielectric composites presented thermal and dielectric properties similar to those of neat UHMWPE.
Background: Evaluation of deoxyribonucleic acid (DNA)-strand break is important to elucidate the biological effect of ionizing radiations. The conventional methods for DNA-strand break evaluation have been achieved by Agarose gel electrophoresis and others using an electrical property of DNAs. Such kinds of DNA-strand break evaluation systems can estimate DNA-strand break, according to a molecular weight of DNAs. However, the conventional method needs pretreatment of the sample and a relatively long period for analysis. They do not have enough sensitivity to detect the strand break products in the low-dose region. Materials and Methods: The sample is water, methanol and plasmid DNA solution. The plasmid DNA pUC118 was multiplied by using Escherichia coli JM109 competent cells. The resonance frequency and Q-value were measured by means of microwave dielectric absorption spectroscopy. When a sample is located at a center of the electric field, resonance curve of the frequency that existed as a standing wave is disturbed. As a result, the perturbation effect to perform a resonance with different frequency is adopted. Results and Discussion: The resonance frequency shifted to higher frequency with an increase in a concentration of methanol as the model of the biological material, and the Q-value decreased. The absorption peak in microwave power spectrum of the double-strand break plasmid DNA shifted from the non-damaged plasmid DNA. Moreover, the sharpness of absorption peak changed resulting in change in Q-value. We confirmed that a resonance frequency shifted to higher frequency with an increase in concentration of the plasmid DNA. Conclusion: We developed a new technique for an evaluation of DNA damage. In this paper, we report the evaluation method of DNA damage using microwave dielectric absorption spectroscopy.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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