A Study of the Acclerated Degradation Phenomena on th Amorphous Silicon Thin Film Transistors with Multiple Stress (복합 스트레스에 의한 비정질 실리콘 박막 트랜지스터에서의 가속열화 현상 연구)
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- The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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- v.43 no.7
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- pp.1121-1127
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- 1994
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