We describe a charge pump circuit using VCO (voltage controlled oscillator) for storing information into local memories in neural networks. The VCO is used for adjusting the output voltage of the charge pump to the reference voltage and for reducing the fluctuation generated by the clocking scheme. The charge pump circuit is simulated by using Hynix 0.35um CMOS process parameters. The proposed charge pump operates properly regardless to the temperature and the supply voltage variation.
The charge-pump circuit which is used to generate higher voltage than the available supply voltage has wide applications such as the flash memory of EEPROM Because the demand for high voltage comes from physical mechanism such as the oxide tunneling, the required pumped voltage cannot be scaled as the power supply voltage is scaled. Therefore, an efficient charge-pump circuit that can achieve high voltage from the available low supply voltage is essential. A new Analog Switch p-well CMOS charge pump circuit without the MOS device body effect is processed. By improve the structure of the circuit's transistors to reduce the threshold voltage shift of the devices, the threshold voltage of the device is kept constant. So, the circuit electrical characteristics are higher output voltage within a shorter time than the conventional charge pump. The propose analog switch CMOS charge pump shows compatible performance of the ideal diode or Dickson charge pump.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.16
no.6
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pp.873-879
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2016
A charge pump circuit with very short turn-on time is presented for minimizing reference spurs in CMOS PLL frequency synthesizers. In the source switching charge pump circuit, applying proper voltages to the source nodes of the current source FETs can significantly reduce the unwanted glitch at the output current while not degrading the rising time, thus resulting in low spur at the synthesizer output spectrum. A 1.1-1.6 GHz PLL synthesizer employing the proposed charge pump circuit is fabricated in 65 nm CMOS. The current consumption of the charge pump is $490{\mu}A$ from 1 V supply. Compared to the conventional charge pump, it is shown that the reference spur is improved by dB through minimizing the turn-on time. Theoretical analysis is described to show that the measured results agree well with the theory.
The charge pump affects the performance of PLL. In designing the charge pump, we need to consider various issues such as current mismatch, charge sharing, feedthrough, charge injection, and leakage current. This paper propose the new charge pump circuit which is improved in terms of the current match over the existing high-speed charge pump. The simple method used for reducing current mismatch is the technique that uses a cascode in order to increase the output resistance of the charge pump. However the method limits the output voltage range of the charge pump. So the method is hard to apply as the supply voltage is lowered. Thus this paper proposes a new charge pump circuit using an op amp instead of the cascode. And the new charge pump circuit has an excellent current matching characteristics over a wide output range.
Kim, Tae-Hoon;Lee, Jae-Hyung;Ha, Pan-Bong;Kim, Young-Hee
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2007.10a
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pp.776-780
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2007
In this paper, the charge pump circuit of a VPP generator for a low voltage DRAM is newly proposed. The proposed charge pump is a 2-stage cross coupled charge pump circuit. The charge transfer efficiency is improved, and Distributed Clock Inverter is located in each charge pump stage to reduce clock period so that the pumping current is increased. In addition, the precharge circuit is located at Gate node of charge transfer transistor to solve the problem which is that the Gate node is maintained high voltage because the boosted charge can't discharge, so device reliability is decreased. The simulation result is that pumping current, pumping efficiency and power efficiency is improved. The layout of the proposed VPP generator is designed using $0.18{\mu}m$ Triple-Well process.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.45
no.8
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pp.44-47
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2008
In this paper, a new circuit is proposed to minimize the charging and discharging current mismatch in charge pump for UWB PLL application. By adding a common-gate and a common-source amplifier and building the feedback voltage regulator, the high driving charge pump currents are accomplished. The proposed circuit has a wide operation voltage range, which ensures its good performance under the low power supply. The circuit has been implemented in an IBM 0.13um CMOS technology with 1.2V power supply. To evaluate the design effectiveness, some comparisons have been conducted against other circuits in the literature.
The Transactions of the Korean Institute of Power Electronics
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v.12
no.5
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pp.386-393
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2007
Charge-pump high voltage inverter for Plasma backlight using CIM(Current Injection Method) is proposed in this paper. Adoption of ERC(Energy Recovery Circuit) is a new attempt in high voltage inverter so that it is not only energy recovery but also improvement of discharge stability and system unstability which is interrupted by noise. Using a charge-pump technique enables low voltage switches to be usable, the cost can be reduced. CIM is adopted to achieve high speed energy recovery in proposed circuit. Operations of the proposed circuit are analyzed for each mode. The proposed circuit is verified to be applicable on a 32 inch plasma backlight panel by experimental results.
The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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v.6
no.1
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pp.118-122
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2011
For programming such as writing or erasing of the flash memory, two different kinds of high voltage are required, and the charge pump circuit has been used for this. The charge pump circuit proposed in this paper uses the VCO to adjust the clock frequency in order to match the reference voltage approved from the outside and the charge pump's output. Accordingly, I suggest a circuit that can produce a predictable output, regardless of not only an error by fabrication but also MOSFET's body effect generated in each part of the charge pump.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.2
no.2
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pp.267-273
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1998
In this paper, we designed a charge pump with a differential current switching structure and it was made of a MESFET with high speed switching Property compared with CMOSFETs. The charge pump with a differential current switching structure is analyzed about operating property of circuit in high frequency band. Also we propose a method on it's characteristics estimation. The designed circuit is simulated by HSPICE simulator, and in view of the results we think that the charge pump of this study can be used in circuits of 1 GHZ frequency band grade.
Journal of information and communication convergence engineering
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v.9
no.1
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pp.78-82
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2011
This paper proposes a new circuit for capacitive sensing based on Dickson's charge pump. The proposed touch sensing circuit includes three stages of NMOS diodes and capacitors for charge transfer. The proposed circuit which has a simplified capacitive touch sensor model has been analyzed and simulated by Spectre using Magna EDMOS technology. Looking from the simulation results, the proposed circuit can effectively be used as a capacitive touch sensing circuit. Moreover, a simple structure can provide maximum flexibility for making a digitally-controlled touch sensor driver with lowpower operations.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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