열전 변환 에너지 하베스팅을 위한 저 전력 부스트 컨버터에 사용하는 새로운 Zero Current Sensor (ZCS)를 이 논문에서 제안한다.새로 제안하는 ZCS를 사용하는 Zero Current Switching은 기존 방식인 아날로그 비교기를 사용한 Zero Current Switching방식 보다 파워 측면에서 큰 장점을 보이고 기존의 다른 방식인 딜레이 라인을 이용하는 Zero Current Switching 방식보다 면적에서 큰 장점을 보인다. 새로운 ZCS는 기존의 아날로그 비교기에 고의적으로 offset을 발생시키고 offset의 양을 digital code로 calibration 하여 출력이 나오는 시간을 조절한다. 새로운 ZCS를 이용한 Zero Current Switching은 기존의 아날로그 비교기를 이용한 Zero Current Switching 보다 대략 10배정도 적은 파워를 사용하면서 같은 성능을 보인다.
Cho, Seong-Jin;Kim, Ju Eon;Shin, Dong Ho;Yoon, Dong-Hyun;Jung, Dong-Kyu;Jeon, Hong Tae;Lee, Seok;Baek, Kwang-Hyun
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제15권5호
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pp.504-510
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2015
This paper presents a power and area efficient SAR ADC for multi-channel near threshold-voltage (NTV) applications such as neural recording systems. This work proposes a split dual-capacitive-array (S-DCA) structure with shifted input range for ultra low-switching energy and architecture of multi-channel single-ended SAR ADC which employs only one comparator. In addition, the proposed ADC has the same amount of equivalent capacitance at two comparator inputs, which minimizes the kickback noise. Compared with conventional SAR ADC, this work reduces the total capacitance and switching energy by 84.8% and 91.3%, respectively.
CMOS VLSI 기술에서 고속으로 데이타를 인식하기 위해서는 비교적 낮은 전달 콘덕턴스와 MOS 소자 장치들의 불균형을 극복하는 것이 중요하다. 그러나 CMOS 소자들의 한계 때문에 VLSI 회로설계는 일반적으로 CMOS 동작에 알맞도록 바이폴라 A/D(analog-to-digital)변환기가 사용되었다. 또한 파이프라인으로 종속 연결된 RSA에 의하여 전압 비교가 이뤄지는 VLSI CMOS 비교기를 설계하였다. 따라서 본 논문에서는 파이프라인으로 연결된 CMOS 비교기와 병합한 A/D 변환기를 설계하였다.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제16권6호
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pp.760-770
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2016
A 12-bit 750 kS/s Dual-Sampling Successive Approximation Register Analog-to-Digital Converter (SAR ADC) technique with reduced Capacitive DAC (CDAC) is presented in this paper. By adopting the Adaptive Power Control (APC) technique for the two-stage latched type comparator and using bootstrap switch, power consumption can be reduced and overall system efficiency can be optimized. Bootstrapped switches also are used to enhance the sampling linearity at a high input frequency. The proposed SAR ADC reduces the average switching energy compared with conventional SAR ADC by adopting reduced the Most Significant Bit (MSB) cycling step with Dual-Sampling of the analog signal. This technique holds the signal at both comparator input asymmetrically in sample mode. Therefore, the MSB can be calculated without consuming any switching energy. The prototype SAR ADC was implemented in $0.18-{\mu}m$ CMOS technology and occupies $0.728mm^2$. The measurement results show the proposed ADC achieves an Effective Number-of-Bits (ENOB) of 10.73 at a sampling frequency of 750 kS/s and clock frequency of 25 MHz. It consumes only 0.13 mW from a 5.0-V supply and achieves the INL and DNL of +2.78/-2.45 LSB and +0.36/-0.73 LSB respectively, SINAD of 66.35 dB, and a Figures-of-Merit (FoM) of a 102 fJ/conversion-step.
본 연구는 시간-보간법을 적용한 FLASH analog-to-digital converter (ADC)에 관한 것이다. 시간-보간법은 기존의 FLASH ADC에서 요구되는 전압영역 비교기의 개수를 줄일 수 있으며 이 따른 전력 소모 및 칩 면적의 절약을 기대할 수 있다. 본 연구에서는 5-bit, 즉 31개의 양자화 레벨을 갖는 ADC를 설계 및 구현하였으며, 16개의 양자화 레벨은 기존의 전압영역 비교기 방식을 유지하고, 나머지 15개의 양자화 레벨은 시간영역 비교기를 통하여 처리되도록 구성하여, 기존 5-bit FLASH ADC 대비 전압영역 비교기의 숫자를 48.4% 줄일 수 있었다. 시제품은 14 nm Fin Field-effect transistor (FinFET) 공정으로 제작되었으며 구현면적은 0.0024 mm2, 전력소모는 0.8 V 전원전압에서 0.82 mW로 측정되었으며, 400 MS/s의 변환속도 21 MHz 정현파 입력에 대하여 ADC는 28.03 dB의 신호-대-잡음비 (SNDR), 즉 4.36 유효비트(ENOB)의 성능을 보였다.
아날로그 집적회로 설계 자동화를 위한 레이아웃 자동화 도구를 제안하였다. 구현된 시스템은 완전 주문형 방식을 채택하고 아날로그 레이아웃의 제약 조건을 고려하였다. 기존의 아날로그 레이아웃 자동화 도구들이 가지고 있는 단점을 보완하기 위하여 변수화된 모듈 라이브러리를 개발, 복잡한 아날로그 모듈들의 레이아웃을 지원하여 확장성을 극대화하였다. 또한 배선 과정에는 기존의 디크스트라 알고리즘을 개선한 종적 다중 경로 알고리즘을 적용하였다. 구현된 아날로그 레이아웃 자동화 도구는 비교기, 연산증폭기 그리고 필터등의 시험회로를 대상으로 시험 수행하였다. 기존의 자동화 도구인 OPASYN과 비교하여 웰 합병과 인터디지트형의 모듈로 레이아웃이 수행된 결과를 얻을 수 있었다.
기존에 진성난수 생성기를 위한 베타선 센서 회로의 아날로그 회로와 비교기 회로에 사용되는 파워와 그라운드 라인은 서로 공유하므로 비교기 회로의 디지털 스위칭에 의해 발생되는 파워와 그라운드 라인에서의 전압강하가 CSA를 포함한 아날로그 회로의 출력 신호 전압이 감소하는 원인이었다. 그래서 본 논문에서는 디지털 스위칭 노이즈의 source인 비교기 회로에 사용되는 파워와 그라운드 라인을 아날로그 회로의 파워와 그라운드 라인과 분리하므로 CSA(Charge Sensitive Amplifier) 회로를 포함한 아날로그 회로의 출력신호전압이 감소되는 것을 줄였다. 그리고 VREF(=1.195V) 전압을 VREF_VCOM과 VREF_VTHR 전압으로 변환해주는 전압-전압 변환기 회로는 PMOS current mirror를 통해 IREF를 구동할 때 PMOS current mirror의 드레인 전압이 다른 경우 5.5V의 고전압 VDD에서 channel length modulation effect에 의해 각각의 current mirror를 통해 흐르는 구동 전류가 달라져서 VREF_VCOM과 VREF_VTHR 전압이 감소하는 문제가 있다. 그래서 본 논문에서는 전압-전압 변환기 회로의 PMOS current mirror에 PMOS 다이오드를 추가하므로 5.5V의 고전압에서 VREF_VCOM과 VREF_VTHR의 전압이 down되지 않도록 하였다.
This paper presents new interpolation algorithm for measuring high resolution position information which is propered to nano servo control motor using analog quadrature encoder. In the past, there is a large memory and two high price A/D converter for high resolution analog quadrature encoder interpolation. but this paper show that it can make high resolution interpolate using small memory, one A/D converter and comparator. Experimental results show that the proposed algorithm for high resolution position is useful.
There is an increasing interest in high-performance A/D(Analog-to-Digital) converters for use in integrated analog and digital mixed processing systems. Pipeline A/D converter architectures coupled with BiCMOS process technology have the potential for realizing monolithic high-speed and high-accuracy A/D converters. In this paper, the design of 12bit pipeline BiCMOS A/D converter presented. A BiCMOS operational amplifier and comparator suitable for use in the pipeline A/D converter. Test/simulation results of the circuit blocks and the converter system are presented. The main features is low distortion track-and-hold with 0-300MHz input bandwidth, and a proprietary 12bit multi-stage quantizer. Measured value is DNL=${\pm}$0.30LSB, INL=${\pm}$0.52LSB, SNR=66dBFS and SFDR=74dBc at Fin=24.5MHz. Also Fabricated on 0.8um BiCMOS process.
This paper describes the design and fabrication of a high performance digital tuning analog component integrated circuit that contains a television station detector and decoders(H and L types). When the comparator level sampling method is used, this integrated circuit can be used as a stable channel selector for an external circuit with very large signal variation. It has been fabricated using the SST bipolar standard process and its chip size is 2.2x2.1mm\ulcorner As a result, we have succeeded in fabricating the IC that satisfies the D.C characteristics, and the channel station detector and decoder function.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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