• Title/Summary/Keyword: 테스트 생성

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Implementation of Testdata Generation Tool for MPEG-2 TS (MPEG-2 TS 형태의 테스트 데이터 자동 생성기의 구현)

  • 염선화;최병주;박기웅
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2000.10a
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    • pp.427-429
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    • 2000
  • 멜티미디어 표준인 MPEG-2 TS 형태의 테스트 데이터를 자동 생성하는 도구인 TDGT(Test Data Generation Tool)를 설계하고 구현하였다. TDGT는 테스터로부터 기본적인 입력사항을 받아들이고 이를 기반으로 테스트 데이터를 자동 생성한 후 결과물로 테스트 데이터 스크립트 파일과 테스트 데이터 시나리오 파일, 테스트 데이터 커버리지 분석 결과를 테스터에게 제공한다. TDGT는 복잡하고 방대한 테스트 데이터를 생성하는데 요구되는 노력, 시간을 상당히 줄여주며 전문적인 지식이 없는 이도 쉽게 테스트 데이터를 생성할 수 있게 한다. 본 논문은 TDGT가 테스트 데이터를 자동 생성하는 구조와 TDGT의 분석을 제시하였으며 이 시스템의 prototype을 기술한다.

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Test Case Automatic Generation for Fault Localization (결함 위치 추적을 위한 테스트 케이스 자동 생성 기법)

  • Park, Changyong;Kim, Junhee;Ryu, Sungtae;Youn, Hyunsang;Lee, Eunseok
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2012.04a
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    • pp.1235-1238
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    • 2012
  • 오늘날 소프트웨어가 가지는 규모와 복잡성은 날로 심화되고 있으며, 소프트웨어 개발 시 결함을 찾아 내기 위한 테스트에 많은 시간이 소모되고 있는 실정이다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 중요한 기술 중 하나가 결함 위치 추적(Fault Localization)이다. 이 기법을 이용하여 결함을 추적하기 위해서는 다량의 테스트 케이스를 필요로 하며, 추가로 테스트 케이스를 작성하는 것은 또 다른 개발 부하이다. 본 논문에서는 이를 해결하기 위해서 분기별 입력 조합 기반 테스트 케이스 생성방법과 시드 결과 기반 테스트 케이스 생성방법을 제안하였다. 개발자는 본 생성방법을 통해 테스트 케이스 생성에 대한 비용 절감을 기대 할 수 있다. 제안하는 내용의 효용성을 검증하기 위해 실제 예제 코드에 적용하여 평가하였다. 두 가지 방법 모두 무작위 생성한 테스트 케이스에 비해 개발자가 직접 생성하는 것과 유사한 테스트 케이스를 생성하고, 제안 방법으로 생성한 테스트 케이스의 신뢰성을 확인하였다.

Test Case Generation Technique for Interoperability Testing (상호운용성 테스트를 위한 테스트케이스 생성 기법)

  • Lee Ji-Hyun;Noh Hye-Min;Yoo Cheol-Jung;Chang Ok-Bae;Lee Jun-Wook
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.33 no.1
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    • pp.44-57
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    • 2006
  • With the rapid growth of network technology, two or more products from different vendors are integrated and interact with each other to perform a certain function in the latest systems. Thus. interoperability testing is considered as an essential aspect of correctness of integrated systems. Interoperability testing is to test the ability of software and hardware on different machines from different vendors to share data. Most of the researches model communication system behavior using EFSM(Extended Finite State Machines) and use EFSM as an input of test scenario generation algorithm. Actually, there are many studies on systematic and optimal test case generation algorithms using EFSM. But in these researches, the study for generating EFSM model which is a foundation of test scenario generation isn't sufficient. This study proposes an EFSM generating technique from informal requirement analysis document for more complete interoperability testing. and implements prototype of Test Case Generation Tool generating test cases semi-automatically. Also we describe theoretical base and algorithms applied to prototype implementation.

A Study on the Generation System Design for Fault Detect (고장 진단 생성 시스템 설계에 관한 연구)

  • 김철운
    • Journal of the Korea Society of Computer and Information
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    • v.3 no.2
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    • pp.99-104
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    • 1998
  • In this paper I designed test pattern generator which will be completely detected the faults of multi-stage Logic Circuit. 1 generated this pattern using the test pattern generation Logic Circuit. The generated test patterns compared with the exhausted testing was decreased pattern. This test pattern generator will detect the all single stuck-at faults in the multi-stage Logic Circuit. The choice of which of the many I.C testing methods to use can have a effect on the success or failure of the fault detected. One of the most important considerations is cost and designed test pattern generator is very low cost type.

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A Goal-oriented Test Data Generation for Programs with Pointers based on SAT (SAT에 기반한 포인터가 있는 프로그램을 위한 목적 지향 테스트 데이터 생성)

  • Chung, In-Sang
    • Journal of Internet Computing and Services
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    • v.9 no.2
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    • pp.89-105
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    • 2008
  • So far, most of research on automated test data generation(ATDG) deals with programs without pointers. Recently, few works hove been done on ATDG in the presence of pointers, but they ore path-oriented techniques which require the specification of on entire program path to be tested or a program to be executed. This paper presents a new technique for generating test data even without specifying a program path completely. The presented technique is a static technique which transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for ATDG. For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

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Test Case Generation Techniques based on Use Cases for Interoperability Test of Component-Based software (컴포넌트 기반 소프트웨어의 상호운용성 테스트를 위한 유스케이스 기반 테스트 케이스 생성 기법)

  • Yoo, Cheol-Jung;Noh, Hye-Min
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.36 no.5
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    • pp.361-375
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    • 2009
  • The major concern of component users who develop applications using the existing components is to confirm whether a component is collaborating with the different components in accordance with the requirements. Therefore, interoperability testing whose role is to check whether components collaborate with each other within the new operating environment not within the component development content of each component is considered as an importance research topic. In this paper, we propose a test case generation technique for interoperability test of component based software. The proposed technique defines a test model for generating test cases. The proposed technique generates test models from the use case specification and thereafter from these models, test cases for Interoperability testing are derived. In addition, we describe a tool which Implements the procedures for generating test sequences from test models.

A Test Case Generation Techniques Based on J2ME Platform (J2ME 플랫폼 기반의 테스트케이스 생성 기법)

  • Kim Sang-Il;Roh Myong-Ki;Rhew Sung-Yul
    • The KIPS Transactions:PartD
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    • v.13D no.2 s.105
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    • pp.215-222
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    • 2006
  • The importance of mobile software test is being addressed to improve the productivity and reliability of the software. Test automation technique based on mobile platform is required for effective application of mobile software test. That is, a technique is needed to generate test case for mobile platform API. When test case generated, software productivity and reliability are improved, while test duration and cost are decreased. In this paper, we identified test case generation scope through previous works about test automation, suggested keyword driven method, a test case generation technique on J2ME platform, and recognized that proposed method can be applicable to generating test case based on J2ME platform.

An Automatic Test Case Generation Method from Checklist (한글 체크리스트로부터 테스트 케이스 자동 생성 방안)

  • Kim, Hyun Dong;Kim, Dae Joon;Chung, Ki Hyun;Choi, Kyung Hee;Park, Ho Joon;Lee, Yong Yoon
    • KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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    • v.6 no.8
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    • pp.401-410
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    • 2017
  • This paper proposes a method to generate test cases in an automatic manner, based on checklist containing test cases used for testing embedded systems. In general, the items to be tested are defined in a checklist. However, most test case generation strategies recommend to test a system with not only the defined test items but also various mutated test conditions. The proposed method parses checklist in Korean file and figures out the system inputs and outputs, and operation information. With the found information and the user defined test case generation strategy, the test cases are automatically generated. With the proposed method, the errors introduced during manual test case generation may be reduced and various test cases not defined in checklist can be generated. The proposed method is implemented and the experiment is performed with the checklist for an medical embedded system. The feasibility of the proposed method is shown through the test cases generated from the checklist. The test cases are adequate to the coverages and their statistics are correct.

Implementation of pattern generator for efficient IDDQ test generation in CMOS VLSI (CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현)

  • Bae, Seong Hwan;Kim, Gwan Ung;Jeon, Byeong Sil
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.38 no.4
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    • pp.50-50
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    • 2001
  • IDDQ 테스트는 CMOS VLSI 회로에서 발생 가능한 여러 종류의 물리적 결함을 효율적으로 검출 할 수 있는 테스트 방식이다. 본 논문에서는 CMOS에서 발생 빈도가 가장 높은 합선고장을 효과적으로 검출할 수 있는 IDDQ 테스트 알고리즘을 이용하여 패턴 생성기를 개발하였다. 고려한 합선고장 모델은 회로의 레이아웃 정보에 의존하지 않으며, 내부노드 혹은 외부노드에 한정시킨 합선고장이 아닌 테스트 대상회로의 모든 노드에서 발생 가능한 단락이다. 구현된 테스트 패턴 생성기는 O(n2)의 복잡도를 갖는 합선고장과 전압 테스트 방식에 비해 상대적으로 느린 IDDQ 테스트를 위해서 새롭게 제안한 이웃 조사 알고리즘과 고장 collapsing 알고리즘을 이용하여, 빠른 고장 시뮬레이션 시간과 높은 고장 검출율을 유지하면서 적은 수의 테스트 패턴 생성이 가능하다. ISCAS 벤치마크 회로의 모의실험을 통하여 기존의 다른 방식보다 우수한 성능을 보였다.

A Scheme on Software Test Process Reuse for Product Line Practice (Product line 개념에 따른 소프트웨어 테스트 프로세스 재사용 방안)

  • 이윤정;최병주
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2001.04a
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    • pp.673-675
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    • 2001
  • 본 논문에서는 Product line 개념을 활용하여 체계적으로 각 어플리케이션에 적합한 소프트웨어 테스트 프로세스를 생성할 수 있도록 하는 1)“소프트웨어 테스트 프로세스의 재사용 방안”을 제안하고, 2) 이를 자동화한 “소프트웨어 테스트 프로세스 생성 도구”프로토타입을 제시한다. “소프트웨어 테스트 프로세스의 재사용 방안”은 product line 개념에 따라 표준, 방법론과 도메인을 위한 개발 프로세스들의 공통점과 차이점을 분석하여 core asset들을 CBD개념의 컴포넌트들로 개발하고, 이 core asset들을 가지고 컴포넌트의 맞춤 패턴을 이용하여 손쉽게 각 어플리케이션에 적합한 테스트 프로세스를 생성할 수 있도록 한다. “소프트웨어 테스트 프로세스 생성도구”는 “소프트웨어 테스트 프로세스 재사용 방안”의 core asset 개발 단계에서 개발된 core asset들을 저장소에 재사용을 목적으로 저장하며, 프로덕트 개발 단계를 자동화하여 각 어플리케이션에 적합한 테스트 프로세스를 생성한다.

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