• 제목/요약/키워드: 칩 캡슐화성형

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반도체 칩 캡슐화성형 유동해석 및 성형조건 최적화에 관한 연구 (Flow Analysis and Process Conditions Optimization in a Cavity during Semiconductor Chip Encapsulation)

  • 허용정
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제8권4호
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    • pp.67-72
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    • 2001
  • 반도체 칩 캡슐화성형시 칩 캐비티에서의 유동을 보다 엄밀하게 모델링하고 해석하기 위한 연구가 이루어졌다. 리드프레임에서의 구멍부위를 통과하는 유동의 모델링을 시도하였고 리드프레임에서의 열 경계조건을 정확하게 취급하였다. 유동의 이론적 해석을 위해 헬레쇼오 모델을 채택하였고 리드프레임에 의해 아래 위로 분리된 각각의 캐비티로 가정하여 해석하였다. 리드프레임에서 구멍부위를 통과하는 유동은 헬레쇼오 모델링시에 질량 소스(source) 항으로 삽입되었다. 유동해석 프로그램과 콤플렉스 방법에 기반을 둔 최적화 프로그램을 연계하여 미성형 방지를 위한 최적 공정조건을 성공적으로 정확하게 얻어낼 수 있었다.

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반도체 캡슐화 성형 공정에 있어서 패들 변형 해석 (Paddle Shift Analysis During Semiconductor Encapsulation)

  • 한세진;허용정
    • 한국정밀공학회지
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    • 제18권5호
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    • pp.147-156
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    • 2001
  • 본 연구에서는 칩 캡슐화 성형 공정 중의 패들 변형을 해석하기 위한 방법론이 연구되었다. 헬레쇼오 근사 모델에 근거한 유한요소법이 칩 캐비티에서의 유동 해석을 위해 사용되었다. 리드 프레임 상의 구멍을 통한 통과 유동해석을 위한 근사모델이 제안되었다. 본 연구에서 제시된 해석모델에 의해 계산된 값과 실험 값은 잘 일치하였다. 유동해석을 통하여 리드프레임과 패들에 의해 경계를 이루고 있는 상, 하 캐비티간의 압력차가 계산되었다. 최종적으로 패들 변형이 압력차 계산 값을 이용하여 계산되게 된다.

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반도체 칩 캡슐화 성형 공정에 있어서 와이어 스윕 및 패들 변형에 관한 연구 (A Study of Wire Sweep, Pre-conditioning and Paddle Shift during Encapsulation of Semiconductor Chips)

  • 한세진;허용정;이성철
    • 한국정밀공학회지
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    • 제18권2호
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    • pp.102-110
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    • 2001
  • In this paper, methods to analyze wire sweep and paddle shift during the semiconductor ship-encapsulation process have been studied. The analysis of wire sweep includes flow-field analysis in a complicated geometry, drag-force calculation for given flow of fluid, and wire-deformation calculation for given loads. The paddle-shift analysis is used to analyze the deformation of the paddle due to the pressure difference in two cavities. the analysis is done using either analytical solutions or numerical simulation. The analytical solution is used for rough but fast calculation of wire sweep. The numerical solution is used for more accurate calculation of wire-sweep. The numerical results of wire sweep show good agreements with the experimental ones.

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