직접 접합법으로 제조한 SOI 구조에서의 산화 적층 결함의 응집거동 (Gettering Behaviors of Oxidation Induced Stacking Faults in Silicon-on-Insulator structure obtained by Wafer-Direct-Bonding)
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- 한국세라믹학회:학술대회논문집
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- 한국세라믹학회 2000년도 춘계총회,특별강연,심포지움,연구발표회
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- pp.127.1-127.1
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- 2000