• 한국통신학회논문지
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• 제10권3호
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• pp.135-146
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• 1985

임펄스성 잡음과 동일 채널 간섭이 존재하는 환경하에서 페이딩채널을 통과하는 MSK(Minimum Shift Keying)신호의 오율의 일반식을 유도하여 반송파 대 잡음 전력비(CNR), 반송파 대 간섭파 전력비(CIR), 임펄스지수, 가우스성 잡음 대 임펄스성 잡음 전력비 및 페이딩 지수를 파라미터로 하여 시스템의 성능을 오율적 측면에서 평가했다. 해석겨로가, 강한 페이딩하에서는 에러가 주로 가우으성 잡음에 의하여 발생되고 페이딩이 약해지면 가우스성 잡음에 의한 영향이 크게 줄어드는 반면 임펄스성 잡음의 영향은 그다지 줄지 않는다는 것을 알아냈다. 또 신호가 페이딩을 받게 되면 미약한 간섭파일지라도 수신 시스템의 성능을 크게 저하시킨다는 것을 알 수 있다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
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• pp.630-634
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• 2004

본 논문은 802.113 무선 근거리 통신망 (wireless LAN)용 5.25GHz SiGe 저잡음 증폭기 (LNA)의 설계에 대해 다루고 있다. 이러한 저잡음 증폭기는 2단 구조를 가지고, 1V의 공급전압에서 동작하며, 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이는 5.25GHz의 동작주파수에서 17㏈의 전압이득, 2.7㏈의 잡음지수, -l5㏈의 반사계수, -5㏈m의 IIP3 및 -14㏈m의 1㏈ compression point와 같은 우수한 동작특성을 보였다. 바이어스 회로에서 소모되는 0.5mW를 포함하여 전체회로에서 소모되는 총전력은 7mW였다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2008년도 제39회 하계학술대회
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• pp.1410-1411
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• 2008

본 연구에서 인덕터에 PGS를 삽입함으로써 인덕터의 품질계수를 향상하여 LNA의 잡음 지수 특성 향상에 대해 연구하였다. 인덕터의 품질계수를 향상시키기 위해 다구찌 실험계획법을 이용하여 인덕터에 삽입되는 PGS의 도체 면적이 최소화 할수록 품질계수를 높일 수 있다. PGS가 없는 인덕터와 PGS를 삽입한 인덕터를 LNA에 적용 시뮬레이션 하였다. PGS가 없는 인덕터 보다는 PGS가 있는 인덕터를 사용함으로써 LNA의 전력 이득과 잡음 지수 특성을 향상시킬 수 있음을 확인하였다.

• 한국어업기술학회:학술대회논문집
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• 한국어업기술학회 2000년도 추계수산관련학회 공동학술대회발표요지집
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• pp.52-53
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• 2000

실제로 어류는 자연 발생적인 잡음과 인위적 잡음이 혼재하는 환경에서 서식하기 때문에 어류의 청각은 수중에서 발생하는 주위의 잡음에 의해서 영향을 받으며 잡음이 클 경우는 작은 음이 듣기 어렵게 되는 마스킹 현상이 발생하게 된다. 따라서 수중에는 각각의 요인에 의해서 발생하는 매경 잡음들이 항시 혼합되어 있고, 그 음압의 레벨도 변동하기 때문에 수중음을 이용하여 어류를 유집하고 어획하기 위해서는 대상 어종에 의한 청각문턱치뿐만 아니라 배경 잡음에 의한 마스킹 효과를 충분히 조사하는 것이 중요하다.(중략)

• 한국정보통신학회논문지
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• 제8권8호
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• pp.1705-1712
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• 2004

본 논문에서는 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 저가 고주파 BIST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 이러한 BIST 회로는 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2015년도 춘계학술대회
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• pp.824-825
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• 2015

본 논문은 차량 레이더용 24-GHz/77-GHz 이중 대역 CMOS 저 잡음 증폭기를 제안한다. 이러한 회로는 1.8볼트 전원에서 동작하며, 저 전압 전원 공급에서도 높은 전압 이득과 낮은 잡음지수를 가지도록 설계하였다. 제안한 회로는 TSMC $0.13-{\mu}m$ 혼성신호/고주파 CMOS 공정($f_T/f_{MAX}=120/140GHz$)으로 설계되어 있다. 전체 칩 면적을 줄이기 위해 가능한한 많은 부분에 실제 수동형 인덕터 대신 전송선을 이용하였다. 제안한 회로는 최근 발표된 연구결과에 비해 높은 전압 이득, 낮은 잡음지수 및 작은 칩 크기 특성을 보였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2016년도 춘계학술대회
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• pp.702-703
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• 2016

본 논문은 차량 단거리 레이더용 고 이득 24-GHz CMOS 저 잡음 증폭기를 제안한다. 이러한 회로는 1.8볼트 전원에서 동작하며, 저 전압 전원 공급에서도 높은 전압 이득과 낮은 잡음지수를 가지도록 설계하였다. 제안한 회로는 TSMC $0.13-{\mu}m$ 혼성신호/고주파 CMOS 공정($f_T/f_{MAX}=120/140GHz$)으로 설계되어 있다. 제안한 회로는 최근 발표된 연구결과에 비해 높은 전압이득 및 낮은 잡음지수 특성을 보였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
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• pp.635-641
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• 2004

본 논문에서는 802.113 무선 근거리 통신망(wireless LAM)용 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 고가 장비를 사용하지 않고도 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 81ST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 본 연구에서 제작된 BIST 회로는 기존의 고가 검사 장비 대신 고주파 회로의 결함검사나 성능검사에 적용될 수 있다. 이러한 BIST 회로는 1V의 공급전압에서 동작하며, 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정을 이용한다. 본 방법에서는 DUT(Device Under Test: 검사대상이 되는 소자)와 BIST 회로가 동일 칩 상에 설계되어 있기 때문에 측정할 때 단지 디지털 전압계와 고주파 전압 발생기만이 필요하며, 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

• 한국통신학회논문지
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• 제23권7호
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• pp.1777-1784
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• 1998

광 패킷 어드레스 처리기의 광섬유 지연선로 정합여파기 출력으로 나타나는 M-ary 상관 펄스를 검출하기 위해 EDFA 전치증폭기를 사용한 광 패킷 교환노드의 패킷 오율을 측정하였다. 어드레스 처리기에 사용된 PIN 다이오드의 잡음 등가전력, EDFA의 잡음지수와 이득, 그리고 광여파기의 대역폭이 노드의 패킷 오율에 미치는 영향을 비교 평가하였다. PIN 다이오드의 잡음 등가 전력과 EDFA의 이득은 패킷 오율 변화에 영향을 거의 미치지 않았으며, 통과 대역폭이 패킷 전송 속도의 약 10배 보다 적은 광 여파기를 사용한 경우에도 패킷 오율의 변화를 무시할 수 있었다. 그러나 EDFA의 잡음 지수가 증가하면, 본 논문에서 고려된 모든 전송속도와 어드레스 코드셋에서 잡음지수 증가량만큼 파워 페널티가 발생하였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2012년도 춘계학술대회
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• pp.713-715
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• 2012

본 논문은 24GHz 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩을 위한 입력 임피던스, 전압이득 및 잡음지수를 자동으로 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 자체 내부검사(BIST, Built-In Self-Test) 회로를 제안한다. 이러한 BIST 회로는 TSMC $0.13{\mu}m$ 혼성신호/고주파 CMOS 공정 ($f_T/f_{MAX}$=140/120GHz)으로 설계되어 있다. 알고리즘은 LabVIEW로 구현되어 있다. BIST 알고리즘은 입력 임피던스 정합과 출력 직류 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 자동으로 쉽게 고주파 회로의 성능변수를 측정할 수 있기 때문에 시스템-온-칩의 저가 성능 검사의 대안이 될 것으로 기대한다.