• Proceedings of the Korean Operations and Management Science Society Conference
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• 1992.04b
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• pp.309-317
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• 1992

현재 3차원 좌표측정기(Coordinate Measuring Machine:CMM)는 기계가공품의 수치검사(Dimensional inspection)에 널리 사용된다. 검사과정의 자동화를 향상시키기 위해 CMM을 이용한 컴퓨터통합검사시스템이 필요하게 되었다. 이 논문에서는 자유곡면 형상에 대해 CAD지향의 검사개념을 사용하여 CMM을 이용 자동측정하고 그 결과를 토대로 측정한 자유곡면에 대한 형상오차를 분석하는 부분을 다룬다.

• Journal of the Korea Convergence Society
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• v.7 no.5
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• pp.175-180
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• 2016

The demand for accurate freeform apsheric surface is increasing to satisfy the optical performance. In this paper, we develop the algorithm for opto-mechatronics convergence, that reconstruct the surface 3D profiles from the curvarure data along two orthogonal directions. A synthetic freeform surface with 8.4 m diameter was simulated for the testing. The simulation results show that the reconstruction error is 0.065 nm PV(Peak-to-valley) and 0.013 nm RMS(Root mean square) residual difference. Finally the sensitivity to noise is diagnosed for probe position error, the simulation results proving that the suggested method is robust to position error.

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 2001.04a
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• pp.439-442
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• 2001

The Accuracy of a free-form artifact is affected by machine tool errors, machining process errors, environmental causes and other uncertainty. This paper deals with methodological approach about machine tool errors that are defined the relationship between CMM and OMM inspections of the free-form artifact. In order to analyze the measurement data, Reverse engineering was used. In other words, Surface of Free-Form Artifact is generated by NURBS surface approximation method. Finally, Volumetric error map is made to compare surface of CMM data with that of OMM data.

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 1991.04a
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• pp.356-362
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• 1991

자동차, 항공기, 선박등과 같은 산업제품과 전화기, TV브라운관과 같은 가전제품, 심미적 기능을 갖는 제품등과 같은 일상용품등은 많은 부분이 자유곡면(sculptured surface)으로 이루어져 있다. 이러한 해석적으로 정의 하기 어려운 제품 또는 그것을 생산하는데필요한 금형을 가공하는데 있어서 기존에는 석고 모형이나 목형을 이용한 모방 절삭을 하였다. 그러나 근래에는 자유곡면으로이루어진 제품을 설계하고 가공하는데 있어서 CAD/CAM system을 이용하고 있다. 제품의 곡면을 표현하거나 이들을 NC가공하기 위해서는 곡면을 나타내는 형상 정보가 필요 하고 이들 형상정보로 곡면모델링을 하여공구 경로를 구한다. 그러므로 이들 형상정보를 허용한도내에서 적절히 정하여 실제형상에 가까운 곡면을 형성하여야 한다. CAD/CAM 기술의 발달에 따라 다양한 형태의 곡면을 형성하는 기능을 가진 system이 많이 출현되었고 점토, 석고 또는 나무등으로 만든 physical model로 부터 얻어진 형상정보에 의해 surface fitting을 함으로서 자유곡면을 표현하는 방법이 많이 사용되고 있다. 어떠한 곡면을 표현할때는 곡면의 특성을 잘 표현하면서 전체적으로 smooth 한 것이 바람직하다. 그러므로 곡면의 형태를 설계자가 쉽게 이해할 수 있고 적은 수의 patch로도 복잡한 형상을 나타내야 하며 또한 국부적으로 수정이 용이하여야한다. 본 논문에서는 자유곡면을 나타낼 수 있는 수학적 표현 방법에 관하여 논하고, 해석적 곡면으로 부터 형상정보를 얻어 곡면 모델링을 한 후의 Ferguson곡면, UBS와 NUBS의 차이점을 분석하고, 이들 곡면과 해석적 곡면으로부터 얻은 실제곡면과의 오차를 측정하여 실제형상에 가까운 모델링 곡면을 찾고자 하였다.. 라. MCl(M:K$^{+}$, $Na^{+}$, NH$_{4}$$^{+}$ 및 H$^{+}$) 수용액 메디움에서의 Cd(II), Mg(II) 및 Zn(II)의 Dowex 1-X8, Cl$^{-}$ 수지에 대한 흡착은 역시 어떤 메디움에서도 Cd(II) 흡착이 제일 크며, 다음이 Zn(II) 이고 착이온을 형성않는 Mg(II)이 제일 작았다. 한편 메디움 종류별 D값의 크기순위는 H$^{+}$>K$^{+}$> $Na^{+}$>NH$_{4}$$^{+}$이였다. 메디움의 종류에 따라 D값의 차이가 나는 것은 금속이온의 착이온 형성과 금속이온의 용액내에서의 이온종의 상태와 관련이 있다고 생각된다. 마. MCl(M:K$^{+}$, $Na^{+}$, NH$_{4}$$^{+}$ 및 H$^{+}$)과 MNO$_{3}$ 용리액에 의한 Cd(II), Mg(II) 및 Zn(II)의 용리는 예상한 바와 같이 MCl에서 작은 Dv 값을 갖는데, 이것은 CdCl$_{4}$$^{2-}$ 착이온을 형성하거나 ZnCl$_{4}$$^{2-}$ , ZnCl$_{3}$$^{-}$같은 이온과 MgCl$^{+}$, MgCl$_{2}$같은 이온종을 형성하기 때문인것 같다. 한편 어떠한 용리액에서던지 N

• The Bulletin of The Korean Astronomical Society
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• v.46 no.2
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• pp.56.1-56.1
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• 2021

표준우주모형이 예측하는 천체의 성장 역사를 추적하기 위해서는 보통의 밤하늘 밝기보다 약 1000배 어두운 낮은 표면밝기(Low Surface Brightness, LSB) 우주 탐사가 필요하지만, 관측기술의 한계로 아직 LSB 우주는 거의 미지의 세계에 있다고 할 수 있다. 한국천문연구원에서는 LSB 천체 관측에 최적화된 직경 300 mm K-DRIFT Pathfinder 망원경을 개발하였다. LSB 천체는 ~28 mag/arcsec2 보다 어두운 천체로 표면밝기가 매우 낮기 때문에 망원경 내부의 미광(stray light)을 최소화하는 것이 중요하다. 이를 구현하기 위해 K-DRIFT Pathfinder 망원경에는 선형 비점수차가 제거된 비축 자유곡면 삼 반사경 형태를 적용하였다. 본 연구를 통해 가시광 영역에서 선형 비점수차가 제거된 비축 자유곡면 삼 반사 망원경의 설계, 제작 및 측정 가능성을 검증하였다. 본 발표에서는 K-DRIFT Pathfinder 망원경에 적용된 비축 자유곡면 광학면의 가공, 삼 반사 망원경의 조립 및 정렬 결과를 소개한다.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2006.02a
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• pp.207-208
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• 2006

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.18 no.2
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• pp.130-134
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• 2007

I present a novel curvature profilometer devised fur the profile measurement of aspheric and free-form surfaces on the nanometer scale. A profile is reconstructed from measuring the curvature of a test part of the surface at several locations along a line. For profile measurement of free-farm surfaces, methods based on local part curvature sensing have strong appeal. Unlike full-aperture interferometry they do not require customized null optics. The measurement accuracy of the curvature profilometer was assessed by comparison with a well-calibrated interferometer in NIST. Experimental results prove that the maximum discrepancy turns out to be 37 nm on the 28 mm measurement range for the spherical mirror.

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.25 no.5
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• pp.273-278
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• 2014

We present an algorithm for surface reconstruction from the second-derivative data for free-form aspherics, which uses a subaperture scanning system that measures the local surface profile and determines the three second-derivative values at those local sampling points across the free-form surface. The three second-derivative data were integrated to get a map of x- and y-slopes, which went through a second Southwell integration step to reconstruct the surface profile. A synthetic free-form surface 200 mm in diameter was simulated. The simulation results show that the reconstruction error is 19 nm RMS residual difference. Finally, the sensitivity to noise is diagnosed for second-derivative Gaussian random noise with a signal to noise ratio (SNR) of 16, the simulation results proving that the suggested method is robust to noise.

• Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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• v.15 no.12
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• pp.81-88
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• 1998

Measurement and inspection of freeform surfaces are required in reverse design processes. In the case of surface measurement using a touch probe, probe radius compensation affects measuring accuracy. But current industrial practice depends upon an operator's experience to compensate for probe radius. In this paper, an on-the-machine measuring and inspection system for freeform surfaces is studied. Probe radius compensation methodology is investigated by modeling of B-spline surfaces based on digitized data. The accuracy and reliability of the developed system is verified through various kinds of numerical simulations and on-the-machine experiments.

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 1995.10a
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• pp.911-914
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• 1995

Measurement and inspection of freeform surface are required in reverse design process. In the case of surface measurement using a touch probe, probe radius compensation affects measuring accuracy But current industrial practice depends upon an operator's experience to compensate for probe radius. In this paper, an on-the-machine measuring and inspection system for freeform surfface was developed. Probe radius compensation methodology was studied via modeling of B-spline surfaces based on digitized data. The accuracy and reliability of the measurement system was confirmed through various kinds of experiments.