대 용량 데이터를 사용한 실리콘 웨이퍼 제조공정의 품질특성 불량원인분석 사례 (Case study of analysing the manufacturing process of silicon wafers based on a large set of data to identify the causes of nonconformities)
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- 한국경영과학회:학술대회논문집
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- 대한산업공학회/한국경영과학회 2006년도 춘계공동학술대회 논문집
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- pp.86-91
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- 2006