면방전 구조의 AC-PDP에서 전기장에 의해 기울어진 이온빔에 의한 MgO 보호막의 이차전자방출계수 ($\gamma$ )와 일함수 (${\Phi}w$ ) 측정
(Measurement of Oblique ion-induced by electric fields secondary electron emission coefficient($\gamma$ ) and work function ${\Phi}w$ of the MgO protective layer in plane structure AC-PDPs)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2005년도 춘계학술대회 논문집 디스플레이 광소자 분야
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- pp.135-138
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- 2005