Measurement of Oblique ion-induced by electric fields secondary electron emission coefficient($\gamma$ ) and work function ${\Phi}w$ of the MgO protective layer in plane structure AC-PDPs
(면방전 구조의 AC-PDP에서 전기장에 의해 기울어진 이온빔에 의한 MgO 보호막의 이차전자방출계수 ($\gamma$ )와 일함수 (${\Phi}w$ ) 측정)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 2005.05a
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- pp.135-138
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- 2005