• Title/Summary/Keyword: 무연 솔더

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Preparation and characterization of electroplated lead-free solder alloy (전해 도금을 이용한 무연 솔더 합금 박막 제조)

  • Lee, Hui-Cheol;Jo, Jin-Gi
    • Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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    • 2012.05a
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    • pp.136-136
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    • 2012
  • 최근 전자제품의 크기가 소형화, 고성능화 되어감에 따라 전자제품을 구성하는 부품 크기도 작아지고, 배선의 피치 또한 미세화 되고 있다. 따라서 패키징 과정도 미세하고 정확한 제어를 필요로 하게 되었으며, 전해도금을 통한 정밀 패키징 공정이 도입되고 있다. 그러나 기존에는 패키징용 메인기판과 부품을 연결하는 솔더는 기존의 Sn-Pb 조성의 납을 포함하는 소재가 사용되었다. 하지만 납의 환경적 문제에 의해 사용을 금지하게 된 상태로 이를 대체하기 위한 무연 조성의 솔더가 연구되고 있다.

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Reliability Estimation of Lead and Lead-free Solder Used in BGA Packages (BGA 패키지에 사용된 유/무연 솔더의 신뢰성 평가)

  • Lee Ouk Sub;Hur Man Jae;Myoung No Hoon;Kim Dong Hyeok
    • Journal of Applied Reliability
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    • v.5 no.3
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    • pp.327-342
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    • 2005
  • 전자 패키지가 열을 받을 때 회로기판과 칩의 열팽창계수 차이에 의해 발생되는 응력은 솔더 조인트의 파손에 영향을 미친다. 본 연구에서는 이 영향을 정량적으로 규명하기 위하여 열충격시험기를 이용해 얻어진 솔더 조인트의 전기저항 변화와 수명과의 상관관계를 규명하였고, BGA솔더 조인트의 수명을 정량적으로 도출하였다. 또한 Sn-3.5Ag-0.5Cu 무연 솔더와 63Sn-37Pb 유연 솔더를 위의 실험에 동시에 적용시켜 건전성을 FORM(first-order reliability method)과 Weibull Function Model을 이용해 비교하였다.

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Reliability Estimation of Lead and Lead-free Solder Used in BGA Packages (BGA 패키지에 사용된 유/무연 솔더의 신뢰성 평가)

  • Lee Ouk Sub;Hur Man Jae;Myoung No Hoon;Kim Dong Hyeok
    • Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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    • 2005.06a
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    • pp.287-294
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    • 2005
  • 전자 패키지가 열을 받을 때 회로기판과 칩의 열팽창계수 차이에 의해 발생되는 응력은 솔더 조인트의 파손에 영향을 미친다. 본 연구에서는 이 영향을 정량적으로 규명하기 위하여 열충격시험기를 이용해 얻어진 솔더조인트의 전기저항 변화와 수명과의 상관관계를 규명하였고, BGA 솔더조인트의 수명을 정량적으로 도출하였다. 또한 Sn-3.5Ag-0.5Cu 무연솔더와 63Sn-37Pb 유연솔더를 위의 실험에 동시에 적용시켜 건전성을 FORM(first-order reliability method)과 Weibull Function Model을 이용해 비교하였다.

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Electrically Conductive Adhesive Bonding Technology for Microsystems Packaging (마이크로시스템 패키징에서의 도전성 접착제 접속 기술)

  • Kim Jong-Min;Lee Seung-Mock;Shin Young-Eui
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.23 no.2
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    • pp.18-22
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    • 2005
  • 전자패키징을 포함한 마이크로시스템 패키징의 재료 및 어셈블리 기술에 관련한 도전성 접착제 및 접속 기술을 개략적으로 소개하였다. 이와 같은 도전성 접착제 및 접속 기술은 종래 사용되어 왔던 Pb 솔더의 환경, 인체에의 악영향 등으로 인한 무연(Pb-free) 솔더의 개발과 함께 차세대 솔더의 대체 재료 및 접속 기술로서 주목받고 있다. 도전성 접착제는 이미 반도체 집적회로를 기판에 접합하는 등 널리 사용되고 있지만 최근 도전성 접착제에 대한 수요와 시장 규모가 증가하는 추세이며 더 나아가 그 응용 범위가 점차로 확대되어 가고 있다. 특히 국제적 규약에 의한 무연 솔더의 사용이 의무화됨에 따라 전기적 접속성, 열 도전성, 접합성 등 기본 솔더에 버금가는 특성을 확보하기 위한 새로운 재료의 개발 및 공정에 대한 연구가 필요하다. 선진국에서는 이러한 기술의 필요성을 인식하고 많은 연구 인력, 시설 및 정보 공유 등을 통해 활발한 투자와 연구개발이 진행되고 있다. 이에 한국에서도 국제 경쟁력을 향상시키고 차세대 첨단 산업 분야의 신기술 확보를 위해 체계적인 연구 활동을 위한 노력이 절실히 요구된다.

Experimental and Numerical Study on Board Level Impact Test of SnPb and SnAgCu BGA Assembly Packaging (BGA Type 유.무연 솔더의 기계적 충격에 대한 보드레벨 신뢰성 평가)

  • Lim, Ji-Yeon;Jang, Dong-Young;Ahn, Hyo-Sok
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.15 no.4
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    • pp.77-86
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    • 2008
  • The reliability of leaded and lead-free solders of BGA type packages on a printed circuit board was investigated by employing the standard drop test and 4-point bending test. Tested solder joints were examined by optical microscopy to identify associated failure mode. Three-dimensional finite element analysis(FEM) with ANSYS Workbench v.11 was carried out to understand the mechanical behavior of solder joints under the influence of bending or drop impact. The results of numerical analysis are in good agreement with those obtained by experiments. Packages in the center of the PCB experienced higher stress than those in the perimeter of the PCB. The solder joints located in the outermost comer of the package suffered from higher stress than those located in center region. In both drop and bending impact tests, the lead-free solder showed better performances than the leaded solders. The numerical analysis results indicated that stress and strain behavior of solder joint were dependent on various effective parameters.

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Implementation of Digital Desoldering System for Removing Lead-free Solder (무연 솔더 제거를 위한 디지털 디솔더링 시스템 구현)

  • Oh, Kab-Suk
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.13 no.1
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    • pp.322-328
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    • 2012
  • This paper deals with a digital Desoldering system for removing lead-free solder. We proposed a Desoldering system that is to cope with the changed work environment of the solder materials changing from lead solder to lead-free solder, we can be quickly stable to the set temperature, and continuous operation is possible. Proposed system consists of a Desoldering station and a Desoldering gun. For the PID temperature control, we designed the 8bit MCU peripheral circuit. We had a few experiments to confirm the performance of the proposed system, and compared with the specification of same kind of imports. As a result, proposed system than the imported products showed good performance as follows: the time to reach operating temperature is 11 seconds faster, ripple temperature variation is $1.5^{\circ}C$ lower, temperature recovery rate is about $0.14^{\circ}C$/sec faster.

Study on the solution for the overflow of molten solder during the soldering of fuse cap through CFD analysis (전산유체해석을 통한 퓨즈캡 솔더링 시의 용융솔더 넘침 문제 해결방안 연구)

  • Jeong, Nam-Gyun
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.19 no.10
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    • pp.31-36
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    • 2018
  • Fuses are used to protect electric circuits or devices from excess current. Glass-tube fuses are typically used, but problems have arisen due to the mandated switch from conventional solder to lead-free solder. This study used CFD to simulate the phenomenon of molten solder being poured out of a fuse during the soldering process for a fuse cap and fuse element. In addition, a method is proposed to prevent solder from overflowing, and its effectiveness was verified based on the analysis results. The results show that a sufficient increase of the temperature inside the glass tube before soldering and gravity can help to prevent the solder from overflowing.

Solderability and BGA Joint Reliability of Sn-Ag-Cu-In-(Mn, Pd) Pb-free Solders (Sn-Ag-Cu-In-(Mn, Pd) 무연솔더의 솔더링성과 BGA 접합부 신뢰성)

  • Jang, Jae-Won;Yu, A-Mi;Lee, Jong-Hyun;Lee, Chang-Woo;Kim, Jun-Ki
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.20 no.3
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    • pp.53-57
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    • 2013
  • Although the lowering of Ag content in Sn-3.0Ag-0.5Cu is known to improve the mechanical shock reliability of the solder joint, it is also known to be detrimental to the solderbility. In this study, the quaternary alloying effect of In and the minor alloying effects of Mn and Pd on the solderability, thermal cycling and mechanical shock reliabilities of the low Ag content Sn-1.2Ag-0.7Cu solder were investigated using board-level BGA packages. The solderability of Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In was proved to be comparable to that of Sn-3.0Ag-0.5Cu but its thermal cycling reliability was inferior to that of Sn-3.0Ag-0.5Cu. While the 0.03 wt% Pd addition to the Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In decreased the solderability and reliabilities of solder joint, the 0.1 wt% Mn addition was proved to be beneficial especially for the mechanical shock reliability compared to those of Sn-3.0Ag-0.5Cu and Sn-1.0Ag-0.5Cu compositions. It was considered to be due that the Mn addition decreased the Young's modulus of low Ag content Pb-free solders.