Parallel Accessible Design for Detection of Neighborhood Pattern Sensitive Faults in High Density DRAMs (대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조)
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- Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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- 2004.10a
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- pp.649-651
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- 2004