Si$O_{2}/{Si}_{0.7}{Ge}_{0.3}/SiO_{2}$ 계에서의 계면응집현상에 의한 양자점 형성에 관한 연구
(Quantum Dot Formation by Interface Agglomeration at the Si$O_{2}/{Si}_{0.7}{Ge}_{0.3}/SiO_{2}$ system)
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- 한국재료학회:학술대회논문집
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- 한국재료학회 1997년도 한국재료학회 추계학술발표회
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- pp.110-110
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- 1997