Analysis of the TE Scattering by a Resistive Strip Grating Over a Grounded Dielectric Plane

접지된 유전체 평면위의 저항띠 격자구조에 의한 TE 산란 해석

In this paper, TE(transverse electric) scattering problems by a resistive strip grating on a grounded dielectric plane according to the strip width and grating period, the relative permittivity and thickness of dielectric layer, and incident angles of a TE plane wave are analyzed by applying the FGMM(Fourier-Galerkin Moment Method) known as a numerical procedure. The induced surface current density is simply expanded in a Fourier series by using the exponential function as a simple function. The reflected power gets increased according as the relative permittivity and thickness of dielectric multilayers gets increased, the sharp variations of the reflected power are due to resonance effects were previously called wood's anomallies[7]. To verify the validity of the proposed method, the numerical results of normalized reflected power for the uniform resistivity R = 0 as a conductive strip case show in good agreement with those in the existing paper.

본 논문에서는 스트립 폭과 격자주기, 유전체 층의 비유전율과 두께, 그리고 TE(transverse electric) 평면파의 입사각에 따른 접지된 유전체 평면위의 저항띠 격자구조에 의한 TE 산란 문제를 수치해석 방법인 FGMM(Fourier-Galerkin Moment Method)를 이용하여 해석하였다. 유도되는 표면전류밀도는 간단한 함수인 지수 함수를 사용하여 Fourier 급수로 전개하였다. 유전체층의 비유전율과 두께가 증가함에 따라 반사전력이 증가하였고, 반사전력의 급변점들은 공진효과에 기인한 것으로 과거에 wood's anomallies[7]라고 불리워졌다. 제안된 방법의 검증을 위하여 기존의 완전도체 경우인 균일 저항율 R = 0에 대한 정규화된 반사전력의 수치결과는 기존의 논문들과 일치하였다.