Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2011.07a
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- Pages.1424-1425
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- 2011
Bias Stability of a-IGZO TFT and a New Shift-Register Design Suitable for a-IGZO TFT
비정질 IGZO TFT의 Bias Stability 및 그에 적합한 Shift-Register 설계
- Lee, Young-Wook (Seoul National University) ;
- Woo, Jong-Seok (Seoul National University) ;
- Kim, Sun-Jae (Seoul National University) ;
- Lee, Soo-Yeon (Seoul National University) ;
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Han, Min-Koo
(Seoul National University)
- Published : 2011.07.20
Abstract
비절질 IGZO TFT를 제작하여 양의 DC 및 AC에 대한 bias stability를 측정하였다. 소자특성이 상당부분 양의 방향으로 움직여 전류가 감소하였다. 따라서 기존의 Shift-Register는 양의 스트레스 전압을 지속적으로 받기 때문에 회로가 제대로 동작하지 않을 수 있다. 따라서 우리는 양의 스트레스 전압을 받지않는 새로운 Shift-register를 고안하고 SPICE 시뮬레이션을 통하여 안정한 출력을 확인하였다.
Keywords