Improvement of Reliability in Flip Chip Bumping

플립칩 범핑에서의 신뢰성 향상

  • 정세영 (삼성전자 Device Solution Network 총괄 Memory 사업부 IPT팀) ;
  • 김남석 (삼성전자 Device Solution Network 총괄 Memory 사업부 IPT팀) ;
  • 김순범 (삼성전자 Device Solution Network 총괄 Memory 사업부 IPT팀) ;
  • 이인영 (삼성전자 Device Solution Network 총괄 Memory 사업부 IPT팀) ;
  • 오세용 (삼성전자 Device Solution Network 총괄 Memory 사업부 IPT팀)
  • Published : 2003.11.01