Defect Study of Heavily CL-doped ZnSe Epilayer by means of Pulsed Positron Beam Measurement

양전자수명측정법에 의한 고농도 CL 도핑한 ZnSe의 DX중심의 구조연구

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  • T. Odaira ;
  • R. Suzuki ;
  • T. Mikado ;
  • S. Ishibashi
  • Published : 1996.11.01