Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference (한국재료학회:학술대회논문집)

1996.11a
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Pages.146-146
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1996

Materials Research Society of Korea (한국재료학회)

권호 표지

Positron Annihilation Spectroscopy for Defect Characterization : Application to Si

양전자 소멸 분광에 의한 실리콘에서의 결함 측정

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J. Schaffer (Lafayette College)

이종용 (한남대학교) ;
박태성 (한남대학교) ;
최선웅 (한남대학교) ;
양동석 (충북대학교) ;

Published : 1996.11.01

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Abstract

Keywords