• 한국전자파학회지:전자파기술
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• 제24권3호
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• pp.67-72
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• 2013

• 한국인터넷방송통신학회논문지
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• 제18권4호
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• pp.79-83
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• 2018

EMI 스프레이 코팅막의 차폐효과(Shield Effectiveness, SE)를 측정하기 위한 정확한 방법을 제안하였다. 고주파 시뮬레이션을 한 후에 원형 동축 표준 측정기를 제작하였다. 원형 동축 표준 측정기에 삽입하기 위하여 EMI 스프레이 코팅막의 시료를 가공하였다. 차폐효과 측정을 위한 측정기는 에이질런트 8722ES 벡터 네트워크 분석기를 이용하였다. 이러한 측정기와 측정시료의 구성으로 구리와 은의 혼합 스프레이 코팅 시료의 정확한 차폐효과를 측정하였다. 동박 시료의 차폐효과는 70 dB로 측정되었고, 구리와 은의 혼합 스프레이 코팅 시료의 차폐효과는 60 dB로 측정되었다. 이와 같은 측정 결과로 원형 동축 표준 측정기의 신뢰성을 확인하였다.

• 한국전자파학회논문지
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• 제14권11호
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• pp.1143-1148
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• 2003

CPW와 마이크로스트립선로에서 수십 피코초의 펄스 폭을 갖는 가우시안(Gaussian) 펄스 신호가 진행해 갈 때 기판 및 선로 구조에 따른 분산 및 펄스의 전파 특성을 시간 영역에서 해석하고 측정하였다. 특히, 선로에 사용된 기판의 기본 TE 모드에 대한 차단 주파수( $f_{TE}$ )의 변화에 따른 CPW와 마이크로스트립 선로간의 전송특성을 구하고 비교하였다. 이를 실험적으로 확인하기 위해 $f_{TE}$ 가 다른 기판에 두 가지 50 $\Omega$ 선로를 제작하여 수십 피코초 펄스가 진행되었을 때의 전송 특성을 시간 영역 분석기능이 내장된 VNA(Vector Network Analyzer)를 이용해서 측정하였다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2011년도 제42회 하계학술대회
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• pp.1654-1655
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• 2011

This paper presents an algorithm applied to measure scattering parameters of a Multiport device with a 2-port Vector Network Analyzer (VNA). By employing the conversion of Scattering matrix with different reference impedances at ports, data obtained from 2-port configuration measurements can be synthesized to build the full scattering matrix of this device. A good agreement of estimated and measured parameters verified the performance of the algorithm.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제13권6호
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• pp.589-593
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• 2013

An efficient measurement methodology is proposed to construct the scattering parameters of a multi-port device using a four-port vector network analyzer (VNA) without the external un-terminated ports. By using the four-port VNA, the reflected waves from the un-terminated ports could be minimized. The proposed method significantly enhances the accuracy of the S-parameters with less number of measurements compared to the results of classical renormalization technique which uses two-port VNA. The proposed method is validated from the measured data with the coupled 8-port micro-strip lines.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2006년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문
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• pp.137-138
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• 2006

In this paper, we study the algorithm for the multiport measurements using the 2port VNA(Vector network Analyzer). We explain the conversion algorithm which the open impedance to the matched impedance(50 ohm), and then we apply this algorithm to the 4 port VNA measurement. Finally, we discuss the reliability of this algorithm.

• 한국통신학회논문지
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• 제25권5B호
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• pp.985-991
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• 2000

본 논문에서는 인덕터의 면적을 극소화시키고 인덕턴스와 Q값을 극대화시키기 위한 최적구조의 2GHz 자성박막 인덕터를 설계하고 제작하였다. Eddy-current 표피효과를 위해서 Co90Fe10와 SiO2의 multilayer를 사용하고, multilayer를 적용한 새로운 lumped 소자모델을 고려하여 최적설계를 수행하였다. 2GHz에서 동작하는 새로운 자성박막 인덕터는 photo-lithography와 lift-off기술을 이용하여 Si 기판위에 제작되었다. 50개 이상의 동일한 인덕터들의 주파수 특성은 RF Impedance Analyzer로, 자기공진주파수는 Vector Network 분석기(HP8510)로 측정되었다. 개발된 인덕터들은 1.8~2.3GHz 범위의 자기공진주파수, 47~68nH 범위의 L값, 그리고 1GHz이상의 주파수에서 70~80정도의 Q값을 가지므로 L과 Q가 극대화된 아주 우수한 최적구조의 소형(면적=30.8$\times$30.8mil2) 박막인덕터가 성공적으로 제작되었다.

• 한국전자파학회:학술대회논문집
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• 한국전자파학회 2000년도 종합학술발표회 논문집 Vol.10 No.1
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• pp.238-242
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• 2000

In this paper, the method for dielectric constant and less tangent measurements of microwave substrates using a microstrip line is presented. The two samples of an open-ended line and a short-ended tine are made and complex propagation constant is evaluated from the one-port scattering parameter measurements. This method has been automated fully using a personal computer and a vector network analyzer.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2001년도 하계종합학술대회 논문집(1)
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• pp.413-416
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• 2001

In high frequency range, RF circuit design without considering shielding effect can cause several significant changes due to increase in parasitic capacitance and inductance between RF signal lines and shielding box. In this paper, bandpass filter has been made to measure the shielding effect and its s-parameter has been measured by Vector Network Analyzer (VNA). Equivalent circuit model including the shielding effect has been constructed with the lumped elements extracted from the 3D electromagnetic simulator, Maxwell SI. Then, the validity of the model is verified using microwave circuit simulator, ADS (Advanced Design System).

• Journal of Electrical Engineering and information Science
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• 제2권5호
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• pp.40-44
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• 1997

This paper presents the results of studies made for measuring the relative complex permittivity of PCB sheet material in he frequency a range of 100MHz∼1GHz using vector network analyzer. A measurement cell was developed for this purpose using broad-band impedance method and the dielectric constant and loss tangent of two PCBV sheet materials, glass-epoxy and teflon, were measured. The effect of copper cladding was studied.