본 논문에서는 테스트 시간과 전력소모를 감축할 수 있는 새로운 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 방법을 제안하였다. 제안된 방법은 수정된 스캔 셀 재배열과 하이브리드 적응적 부호화 방법을 사용하여 scan-in전력과 테스트 데이터 량을 줄였으며 하이브리드 테스트 데이터 압축방법은 Golomb Code와 런길이(run-length) 코드를 테스트 데이터내의 런(run) 길이에 따라서 적응적으로 적용하는 방법이다. 또한 scan-in 전력소모를 최소화하기 위해서 스캔 벡터내의 열 해밍거리를 이용하였다. ISCAS89 벤치마크 회로에 적용하여 실험한 결과, 모든 경우에 있어서 테스트 데이터 및 전력소모를 효율적으로 감소시켰으며 압축률은 17%-26%, 평균 전력소모는 8%-22%, 최고전력소모는 13%-60% 정도의 향상률을 보였다.
The elastic modulus is an important parameter to characterize the property of rock. It is common knowledge that the strengths of rocks are significantly different under tension and compression. However, little attention has been paid to the bi-modularity of rock. To validate whether the rock elastic moduli in tension and compression are the same, Brazilian disc, direct tension and compression tests were conducted. A horizontal laser displacement meter and a pair of vertical and transverse strain gauges were applied. Four types of materials were tested, including three types of rock materials and one type of steel material. A comprehensive comparison of the elastic moduli based on different experimental results was presented, and a tension-compression anisotropy model was proposed to explain the experimental results. The results from this study indicate that the rock elastic modulus is different under tension and compression. The ratio of the rock elastic moduli under compression and tension ranges from 2 to 4. The rock tensile moduli from the strain data and displacement data are approximate. The elastic moduli from the Brazilian disc test are consistent with those from the uniaxial tension and compression tests. The Brazilian disc test is a convenient method for estimating the tensile and compressive moduli of rock materials.
Testing time and power consumption during the testing of SoCs are becoming increasingly important with an increasing volume of test data in intellectual property cores in SoCs. This paper presents a new algorithm to reduce the scan-in power and test data volume using a modified scan latch reordering algorithm. We apply a scan latch reordering technique to minimize the column hamming distance in scan vectors. During scan latch reordering, the don't-care inputs in the scan vectors are assigned for low power and high compression. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced test data and low power scan testing can be achieved in all cases.
본 논문은 높은 압축 성능을 가진 테스트 데이터 압축 기법을 제안한다. 제안하는 기법은 돈 케어 리맵핑을 이용한 천이 추가 단계와 천이 이전 단계로 구성된다. 실험 결과는 새로운 기법이 가장 높은 성능의 기법들 중 하나인 RL-huffman보다 높은 압축률을 제공하고 더 작은 하드웨어 면적을 필요로 함을 보여준다. 따라서 이 기법은 테스트 데이터 압축을 위한 실제적인 해법으로 널리 쓰일 수 있다.
We present a new low power scan testing and test data compression method for System-On-a-Chip (SOC). The don't cares in unspecified scan vectors are mapped to binary values for low power and encoded by adaptive encoding method for higher compression. Also, the scan-in direction of scan vectors is determined for low power. Experimental results for full-scanned versions of ISCAS 89 benchmark circuits show that the proposed method has both low power and higher compression.
Purpose: The aim of this preliminary study was to use hand function tests to Hand dexterity levels provided by the type of compression garment and compression bandages in asymptomatic subjects and to collect baseline data for the comparison of hand functions in the patients with chronic arm lymphedema. Methods: The subjects of this study were 32 healthy volunteer female with a mean age of 45.8 years. Grip strength and hand functions were tested in three conditions-no compression, compression garment, and compression bandages-using the nine-hole peg test (NHPT), the box and block test (B&BT), Minnesota Manual Dexterity test (MMDT), and the hand-held Jamar dynamometer. Results: The grip strength was significantly low in the bandage condition (p<0.05). The performance in both compression groups (i.e., bandage and compression garment) decreased as the thickness of the compression material increased (p<0.05). Conclusion: The findings of this study suggest that grip strength and hand function scores are influenced by the characteristics of the compression applied. Future study is needed to determine the level of hand function between patients with chronic arm lymphedema and healthy individuals.
본 논문에서는 IP 코어(core)의 스캔 테스트(scan test)에 있어서 테스트 전력소모를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축방법을 제안한다. 스캔 슬라이스(Scan slice)의 선택적 부호화를 이용한 테스트 데이터 압축에 대한 연구는 많이 진행되어 왔으나 전력소모를 고려하진 않았다. 스캔 슬라이스의 don't care에 값을 할당할 때, 이웃한 슬라이스와 해밍거리가 최소화 되도록 값을 할당하여 스위칭 전력소모가 최소가 되도록 하였다. 테스트 회로에 적용하여 알고리즘을 검증하였다.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제16권4호
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pp.463-469
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2016
This paper presents a compression-friendly low power test scheme in EDT environment. The proposed approach exploits scan slices reusing to reduce the switching activity during shifting for test scheme based on linear decompressor. To avoid the impact on encoding efficiency from resulting control data, a counter is utilized to generate control signals. Experimental results obtained for some larger ISCAS'89 and ITC'99 benchmark circuits illustrate that the proposed test application scheme can improve significantly the encoding efficiency of linear decompressor.
회로가 커짐에 따라 테스트 데이터양이 증가하고, 테스트 적용시간이 길어지고 있다. 따라서 테스트 데이터양과 테스트 적용시간을 줄이기 위해서, 테스트 데이터의 압축/복원을 위한 새로운 방법을 제안하고자 한다. 제안하는 방법은 시드 벡터를 생성할 때, 압축률을 높이기 위해 무상관비트를 사용하는 XOR 트리에 기반을 두고 있다. 시드 벡터가 생성이 되면, 2비트 길이를 가진 코드를 사용하여 시드를 병합한다. 이렇게 병합된 시드는 1 클럭 시간동안에 재사용될 수가 있어, 테스트 데이터 적용시간을 크게 감소시킬 수 있다 제안하는 방법의 효율성은 ISCAS '89 벤치 회로에 대한 실험 결과로 알 수 있다.
스캔 테스트를 위한 테스트 데이터의 양과 파워 소모는 SoC 테스트에서의 최근의 직면한 가장 큰 문제들이다. 따라서 본 논문에서는 저전력 테스트를 고려한 새로운 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안하는 압축 방법은 테스트 데이터 압축을 위해 압축율, 전력 소모 감소율과 하드웨어 오버헤드를 고려하여 최대 효율을 가지도록 하는데 기초하고 있다. 압축율과 전력 감소율을 높이기 위해서 본 논문에서는 IR (Input Reduction) 기법과 MSCIR (Modified Statistical Code using Input Reduction) 압축 코드을 사용하며, 뿐만아니라 이를 위한 사전 작업인 새로운 스캔 플립플롭 순서 재조합 기법 및 테스트 패턴 순서 재조합 방법을 제안한다. 기존의 연구와는 달리 CSR 구조를 사용하지 않고 원래의 테스트 데이터 $T_D$를 사용하여 압축하는 방법을 사용한다. 이렇게 함으로써 제안하는 압축 방법은 기존의 연구에 비해 훨씬 높은 압축율을 가지며 낮은 하드웨어 오버헤드의 디컴프레션 구조와 적은 전력 소모를 가진다. ISCAS '89 벤치 회로에 대찬 기존의 연구와의 비교로서 그 결과를 알 수 있다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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