Recent test data compression techniques raise concerns regarding power dissipation and compression efficiency. This letter proposes a new test data compression scheme, twin symbol encoding, that supports block division skills that can reduce hardware overhead. Our experimental results show that the proposed technique achieves both a high compression ratio and low-power dissipation. Therefore, the proposed scheme is an attractive solution for efficient test data compression.
P45 본 논문에서는 SOC의 내장된 코어를 테스트하기 위한 새로운 DFT 방법인 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 순차적 테스트 데이터 압축 방법은 테스트 데이터양을 줄이기 위하여 공유 비트 압축과 고장 무검출 패턴 압축 방법을 이용하였다. 그리고 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 이용하는 회로는 스캔 DFT 방법을 기반으로 하고 있으며, test-per-clock 방법을 적용하여 매 클럭마다 테스트 할 수 있는 구조를 가지고 있다. 제안된 압축 방법의 실험을 위하여 벤치마크 회로인 ISCASS85와 ISCASS89 완전 스캔 버전을 이용하였으며, ATPG와 고장 시뮬레이션을 위하여 ATALANTA를 사용하였다. 실험 결과 순차적 테스트 데이터 압축 방법의 테스트 데이터의 양이 스캔 DFT를 적용한 회로에 비해 최대 98% 까지 줄어듦을 확인하였다.
Kim, Dooyoung;Ansari, M. Adil;Jung, Jihun;Park, Sungju
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제16권5호
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pp.582-594
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2016
Various test data compression techniques have been developed to reduce the test costs of system-on-a-chips. In this paper, a scan chain reordering algorithm for code-based test data compression techniques is proposed. Scan cells within an acceptable relocation distance are ranked to reduce the number of conflicts in all test patterns and rearranged by a positioning algorithm to minimize the routing overhead. The proposed method is demonstrated on ISCAS '89 benchmark circuits with their physical layout by using a 180 nm CMOS process library. Significant improvements are observed in compression ratio and test power consumption with minor routing overhead.
The material properties of rubber was determined by the experiments of uniaxial tension, uniaxial compression, planer tension, equi-biaxial tension and volumetric compression. In compression test, it is difficult to obtain the pure state of compression stress and strain due to friction force between the specimen and compression platen. In this study, the stress and strain data from the equi-biaxial tension test were converted to compression stress and strain and compared to a pure state of simple compression data when friction was zero. The compression test device with the tapered platen was proposed to overcome the effect of friction. It was fumed out that the relationship of the stress and strain using the tapered platen was in close agreement with the pure compressive state.
코아(core) 기반의 SoC(System-on-Chip) 설계는 테스트에 관련된 많은 어려운 문제를 일으키고 있다. 그 중에서 방대한 분량의 테스트 데이터와 긴 테스트 패턴 인가시간은 SoC 테스트에서의 2가지 주요 문제로 떠오르고 있다. 많은 양의 테스트 데이터에 대한 저장공간과 인가시간을 줄이기 위한 방안으로서 테스트 벡터들의 반복되는 성질을 이용하여 최대한 효율적으로 압축하는 다양한 방법들이 제시되었다. 본 논문에서는 SoC 테스트를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안된 방법은 테스트 벡터 집합을 분할하고 최대한 반복되는 공통부분을 제거함으로써 테스트 데이터를 압축한다. 이 압축방법은 O(n2)의 시간복잡도를 가지며, 간단한 디코딩 하드웨어를 사용한다. 여기서 n은 테스트 벡터 수이다. 제안된 압축방법은 빠르고 쉬운 디코딩을 함께 사용하여 기존의 복잡한 소프트웨어 방식의 압축방법에 견줄만한 수준의 효율성을 보여준다.
본 논문에서는 SoC 테스트를 위한 새로운 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안하는 압축 방법은 테스트 데이터 압축을 위해 압축율과 하드웨어 오버헤드를 고려하여 최대 효율을 가지도록 하는데 기초하고 있다. 압축율을 높이기 위해서 본 논문에서는 IR 기법과 MSCIR 압축 코드를 사용하며, 뿐만아니라 이를 위한 사전 작업인 새로운 맵핑 기법 및 테스트 패턴순서 재조합 방법을 제안한다. 기존의 연구와는 달리 CSR 구조를 사용하지 않고 원래의 테스트 데이터를 사용하여 압축하는 방법을 사용한다. 이렇게 함으로써 제안하는 압축 방법은 기존의 연구에 비해 훨씬 높은 압축율을 가지며 낮은 하드웨어 오버헤드의 디컴프레션 구조를 가진다. ISCAS '89 벤치 회로에 대한 기존의 연구와의 비교로서 그 결과를 알 수 있다.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제15권3호
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pp.397-403
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2015
This paper presents a new SOC test compression scheme in Embedded Deterministic Test (EDT) compression environment. Compressed test data is brought over the TAM from the tester to the cores in SOC and decompressed in the cores. The proposed scheme allows cores tested at the same time to share some test channels. By sharing free variables in these channels across test cubes of different cores decompressed at the same time, high encoding efficiency is achieved. Moreover, no excess control data is required in this scheme. The ability to reuse excess free variables eliminates the need for high precision in matching the number of test channels with the number of care bits for every core. Experimental results obtained for some SOC designs illustrate effectiveness of the proposed test application scheme.
The material properties of rubber was determined by the experiments of uniaxial tension, uniaxial compression, planer tension, equi-biaxial tension and volumetric compression. In compression test, it is difficult to obtain the pure state of compression stress and strain due to friction force between the specimen and compression platen. In this study, the stress and strain data from the equi-biaxial tension test were converted to compression stress and strain and compared to a perfect state of simple compression data when friction was zero. The compression test device with the tapered platen was proposed to overcome the effect of friction. It was turned out that the relationship of the stress and strain using the tapered platen was in close agreement with the pure compressive state.
The pilot tests for the development of biaxial failure envelope of high strength concrete of reactor containments were performed. To apply biaxial loads to concrete, the plate specimens were used. The technical difficulties encountered on the development of a suitable biaxial test setup were discussed. To decide the optimum thickness of plate specimen, the nonlinear finite element analyses using ABAQUS were performed for a 1/8 model of cylindrical specimen(${\Phi}150{\times}300$) and four 1/4 models of plate Specimens ($200{\times}200{\times}T$(=30, 50, 60, 70)mm) under uniaxial compression. Analytical values and test data of relative strength ratio between those specimens with different geometric shapes were also compared. The various test data were obtained under uniaxial compression, uniaxial tension, and biaxial compression and then the stress-strain responses were plotted. The test data indicated that the strength of concrete under biaxial compression, $f_1/f_2=-1/-1$, is 15 percent larger than that under uniaxial compression and the poisson's ratio of concrete is 0.16. Teflon pads employed to eliminate friction between test specimen and loading platens showed an excellent effect under biaxial compression.
오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축됨으로써 테스트 장비의 저장공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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