Communications for Statistical Applications and Methods
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제3권2호
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pp.77-83
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1996
This paper is concerned with an estimation problem for the AR(1) process $Y_t, t=0, {\pm}1, {\cdots}$with time carying autoregressive coefficient, where coefficient itself is also stochastic process. Attention is directed to the problem of finding a consistent estimator of ${\Phi}$, the mean level of autoregressive coefficient. The asymptotic distribution of the resulting consistent estimator of ${\Phi}$, is them discussed. We do not assume any time series model for the time varying autoregressive coefficient.
In this paper, we define the mean life process for the right censored data and show the asymptotic equivalence between two kinds of the mean life processes. We use the Kaplan-Meier and Susarla-Van Ryzin estimates as the estimates of survival function for the construction of the mean life processes. Also we show the asymptotic equivalence between two mean residual life processes as an application and finally discuss some difficulties caused by the censoring mechanism.
Purpose: The purpose of this study is to develop a statistical program for capability analysis of measuring system and measurement process based upon KS Q ISO 22514-7. Methods: R is a powerful open source functional programming language that provides high level graphics and interfaces to other languages. Therefore, in this study, we will develop the statistical program using R language. Results: The R program developed in this study consists of the following five modules. ① Measuring system capability analysis with Type 1 study data: MSCA_Type1.R ② Measuring system capability analysis with Linearity study(Type 4 study) data: MSCA_Type4.R ③ Measurement process capability analysis with Type 1 study & Gage R&R study data: MPCA_T1GRR.R ④ Measurement process capability analysis with Type 4 study & Gage R&R study data: MPCA_T4GRR.R ⑤ Attribute measurement processes capability analysis : AttributeMP.R Conclusion: KS Q ISO 22514-7 evaluates measuring systems and measurement processes on the basis of the measurement uncertainty that was determined according to the GUM(KS Q ISO/IEC Guide 98-3). KS Q ISO 22514-7 offers precise procedures, however, computations are more intensive. The R program of this study will help to evaluate the measurement process.
생산 공정의 다변량 데이터에 기반한 지능적 공정 감시 및 진단 시스템은 조업의 안정성과 고품질의 제품을 달성하고 경쟁력을 유지하기 위해서는 필수적인 업무 중 하나로 간주되고 있는데, 이와 같은 추세는 공정 이상이 발생하는 경우 안정적이고 경제적인 조업에 큰 영향을 미치는 것에 기인한다. 본 연구에서는 다변량 공정 데이터에 기반한 진단기법을 제시하고 이를 시뮬레이션 공정 데이터를 활용하여 그 성능을 평가하고자 한다. 또한 원 데이터의 전처리 과정의 유무와 비선형 방법론의 활용이 진단 성능에 마치는 영향을 시뮬레이션 공정에서 제시된 15개의 공정 이상에 대해 평가하였다. 그 결과 제안된 방법론이 신뢰할 만한 결과를 주었으며 다른 비교 방법론인 전처리 과정이 없거나 선형 방법론을 사용한 타 방법론 대비 우월한 성능을 보여주었다. 제시된 방법론은 공정 데이터에 기반한 방법론으로서 공정에 대한 수학적 모델이나 지식 모델에 비하여 상대적으로 모델링이 간편하며 공정 데이터의 잡음에 강건하다는 장점을 가진다.
Statistical process control (SPC) and engineering process control (EPC) are based on different strategies for process quality improvement. SPC reduces process variability by detecting and eliminating special causes of process variation, while EPC reduces process variability by adjusting compensatory variables to keep the quality variable close to target. Recently there has been need for an integrated process control (IPC) procedure which combines the two strategies. This article considers a scheme that simultaneously applies SPC and EPC techniques to reduce the variation of a process. The process disturbance model under consideration is an IMA(1,1) model with a location shift. The EPC part of the scheme adjusts the process, while the SPC part of the scheme detects the occurrence of a special cause. For adjusting the process repeated adjustment is applied by compensating the predicted deviation from target. For detecting special causes the two kinds of exponentially weighted moving average (EWMA) control chart are applied to the observed deviations: One for detecting location shift and the other for detecting increment of variability. It was assumed that the adjustment of the process under the presence of a special cause may change any of the process parameters as well as the system gain. The effectiveness of the IPC scheme is evaluated in the context of the average cost per unit time (ACU) during the operation of the scheme. One major objective of this article is to investigate the effects of the process parameters to the ACU. Another major objective is to give a practical guide for the efficient selection of the parameters of the two EWMA control charts.
The process capability indices have been widely used in manufacturing industries to provide numerical measures of process potential and performance. This study is concerned with process controls and adjustments by incapability index $C_{pp}$ and its sub-indices. A monitoring for $\^{C}_{pp}$ would provide a convenient way to monitor changes on process capability after statistical control is established, since $C_{pp}$ simultaneously measures process variability and centering. Further, we can separate charting of process location and variability by sub-indices of $C_{pp}$, ($C_{ia}$, $C_{ip}$), without returning to $\={x}$-R chart, even though an out-of-control signals on $\^{C}_{pp}$ control chart is found.
Communications for Statistical Applications and Methods
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제2권2호
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pp.135-145
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1995
A new algorithm was given to successively fit the multiexponential function/nonlinear function to data by a weighted least squares method, using Gauss-Newton, Marquardt, gradient and DUD methods for convergence. This study also considers the problem of linear-nonlimear weighted least squares estimation which is based upon the usual Taylor's formula process.
Empirical Bayes procedure of nonparametric estiamtion of cumulative hazard rates based on censored data is considered using the beta process priors of Hjort(1990). Beta process priors with unknown parameters are used for cumulative hazard rates. Empirical Bayes estimators are suggested and asymptotic optimality is proved. Our result generalizes that of Susarla and Van Ryzin(1978) in the sensor that (i) the cumulative hazard rate induced by a Dirichlet process is a beta process, (ii) our empirical Bayes estimator does not depend on the censoring distribution while that of Susarla and Van Ryzin(1978) does, (iii) a class of estimators of the hyperprameters is suggested in the prior distribution which is assumed known in advance in Susarla and Van Ryzin(1978). This extension makes the proposed empirical Bayes procedure more applicable to real dta sets.
Communications for Statistical Applications and Methods
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제14권1호
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pp.155-167
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2007
Knowing the time of the process change could lead to quicker identification of the responsible special cause and less process down time, and it could help to reduce the probability of incorrectly identifying the special cause. In this paper, we propose the maximum likelihood estimator (MLE) for the process change point when a control chart is used in monitoring the mean of a process in which the observations can be modeled as an AR(1) process plus an additional random error. The performance of the proposed MLE is compared to the performance of the built-in estimator when they are used in EWMA charts based on the residuals. The results show that the proposed MLE provides good performance in terms of both accuracy and precision of the estimator.
It is noted that many econometric time series have long-memory properties. A long-memory process, or strongly dependent process, is characterized by hyperbolic decaying autocorrelations and unbounded spectral density at the origin. Since the long-memory property can be observed by data obtained from rather a long period, there is some possibility of parameter change in the process. In this paper, we consider the estimation of change-point when there is a change in the variance of a long-memory process. The estimator is based on some reasonable statistic and the consistency is shown using Taqqu's strong reduction theorem
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