White emission thin film electroluminecent device was fabricated with ZnS for phosphor layers and BST ferroelectric thin film for insulating layers. The ZnS:Mn and $ZnS:SmF_3$ layers were used for emission of red color. Also the $ZnS:TbF_3$ and $ZnS:AgF_3$ layers were used to emission of green and blue color, respectively. And the fabrication conditions of the BST insulating layers were followings, that is, the composition ratio of target, substrate temperature, working pressure and operating gas ratio were $Ba_{0.5}Sr_{0.5}Ti_{0.3}$, $400^{\circ}C$, 30 mTorr and 9:1, respectively. The thickness of phosphor were 150 nm for each layers and the insulating layers of upper and bottom were 400 nm and 200 nm, respectively. The luminesence threshold voltage was $75\;V_{rms}$ and the maximum brightness of the thin film electroluminecent device was $3200\;cd/m^2$ at $100\;V_{rms}$.
We fabricated PLT thin films on ITO substrate for flat pannel display and investigated the characteristics, then we applicated to electroluminescent device and investigated application possibility. When we fabricated PLT thin films with substrate temperature of $500^{\circ}C$, and pressure of 30 mTorr, the relative deielectric constant and breakdown electricfield of PLT thin films were 120 and 3.2MV/cm. The electric resistivity was $2.0{\times}10^{12}{\Omega}{\cdot}cm$. PLT thin films had polycrystal structure of perovskite and pyrochlore at the higher substrate temperature than $450^{\circ}C$, and had good crystallinity at higher pressure. To use PLT insulator film and ZnS:Mn phosphor, we fabricated thin film electroluminescent device of ITO/PLT/ZnS:Mn/PLT/Al structure. At the result, threshold voltage was $35.2V_{rms}$ and brightness was $2400cd/m^{2}$ at $50V_{rms}$ and 1kHz. Maximum luminescence efficiency was 0.811m/W.
Jo, Hyeon-Deok;Kim, Jin-Seop;Lee, Jong-Hyeon;Lee, Jeong-Hui;Park, Se-Il;Gwon, Seong-Won
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.38
no.10
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pp.699-705
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2001
Six types of planar thermal converters from TC 1 to TC 6 were designed and fabricated for the purpose of being used as practical standards to alternating current. The respective voltage responses in air and in a vacuum of TC 6, which has the smallest thermal loss, were about 4.03mV/mW and about 6.38 mV/mW. Thermal time constant of TC 6, which has also the smallest heater thermal inertia, was about 8 ms. The respective variations of AC-DC voltage and current transfer errors from sample to sample, which were measured by FRDC(fast reversed DC) method, were about $\pm$0.41 ~$\pm$0.85 ppm and about $\pm$0.15~$\pm$1.16 ppm in the frequent range of 40 Hz~10 KHz with appling 1 V and 5 mA rms sine waves to the converters. All converters investigated exhibited sufficiently low AC-DC transfer errors to be used as practical standards.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.8
no.2
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pp.449-455
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2004
This paper presents a novel defect detection method for one chip RF front end with fault detection circuits using input matching measurement. We present a BIST circuit using 40.25{\mu}m$ CMOS technology. We monitor the input transient voltage of the RF front end to differentiate faulty and fault-free RF front end. Catastrophic as well as parametric variation fault models are used to simulate the faulty response of the RF front end. This technique has several advantages with respect to the standard approach based on current test stimulus and frequency domain measurement. Because DUT and fault detection circuits are implemented in the same chip, this test technique only requires use of digital voltmeter (RMS meter) and RF voltage source generator for simpleand inexpensive testing.
In order for thermal degradationIn, excore nuclear flux monitoring system, as a monitoring and signal processing methodology of reactor power, monitors neutron pulses generated during nuclear fission as frequency status, and converts them into DC voltage, and then log values resultantly. The methods realy applied in the nuclear power plant are to construct combination of counters and flip-flops, or diodes and capacitors up to now. These methodes are reliable for relative high frequencies, while not credible for reasonable low frequencies or extreme low values. Therefore, we developed the circuit that converts frequencies into DC voltages, into and into log DC values in the wide range from low Hz to several hundred high kHz. We proved their validities through testing them using real data used in nuclear power plant and analyzed their results. And, these methods will be used to measure the neutron level of excore nuclear flux monitoring system in nuclear power plant.
Voltage Sags are the short-duration reductions in rms voltage caused by faults in the electric supply system and the starting of large loads, such as motors. In this paper, we use the dq transformation(dq stationary frame and dq synchronous rotating frame) for series voltage sag compensation algorithm. Analysis, simulation results are presented for voltage sags on a three-phase balanced voltage source.
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.11
no.1
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pp.31-37
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1991
Acoustic emission(AE) signals detected during metal cutting were applied as the experimental test to sensing tool wear and chipping on the NC vertical milling machine. The in-process detection of cutting tool wear including chipping, cracking and fracture has been investigated by means of AE in spite of vibration or noise through intermittent metal cutting, then the following results were obtained 1) When the tool wear is increased suddenly, or the amplitude of AE signals changes largely, it indicates chipping or breaking of the insert tip. 2) It was confirmed that AE signal is highly sensitive to the cutting speed and tool wear. 3) At the early period of cutting, the wear were large and RMS value increased highly by the influence of minute chipping and cracking, etc. Therefore, the above situations should be considered for the time when the tool would be changed.
The traceability maintenance system for the AC voltage and current has been developed at the frequency range of 20 Hz to 100 Hz without using any compensation technique which is used at thermal converter (TC) ac-dc transfer system at low frequencies. The system uses a digital voltmeter (DVM) as a data acquisition system of the input waveform and stored data in memory. The developed algorithm acquires and processes the sampling data to calculate the root mean square (rms) value of the input voltage of DVM which operates at DC 10 V range for better accuracy. The best uncertainty of the AC voltage measurements is $3 {\mu}V/V$ within the frequency range. The best uncertainty of the AC current measurements is better than the $5 {\mu}A/A$ and mainly depend on the current to voltage converter, ac-dc current shunt or Current Transformer (CT), used for the measurement
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1995.10a
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pp.259-264
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1995
Recently, in order to achieve high flexibilty, monitoring and control strategies of a new type have been developed. This paper investigates the fesability of using scoustic emission signal analysis for the detection of built-up edge during machining. Results for maching SM45C steel show that the presence of a built-up edge can significantil affect the generation of acoustic emission in metal cutting. When the cutting speed comes to the conditions conducive to development of built-up edge, it is shown that the slope of curve-fitted AErms signal undergoes a change. The fesability of utilizing AErms in built-up edge sensing is sugested.
천체 B-선 관측용으로 많이 이용되고 있는 X-선 비례계수관을 실험실형으로 재작하고 그 특성을 조사하였다. X-선 검출기의 구조는 10 $\times$ 20 $\times$ 2cm3 인 검출체적내에 10개의 전극선이 설치되어있는 다중선 비례계수관이며, 검출가스로서 Argon(90%) + CH4 (10%)인 g혼합가스를 사용하였다. 이러한 구조에서 5.9 keV에 대한 에너지 분해능은 16%를 얻었으나, 정상적인 전극연결방법에서는 검출기 끝측에 위치한 전극에서 생기는 electric field 변형매문에, 양극선 배열방향에서 조정된 이득의 군일성이 나쁘게 나타났다. 따라서 다중선들의 각 전극선에 전압보상법(voltage compansation method)을 적용하여 검출기 전반에 걸친 이득의 균일성을 2 % (rms 값) 이내로 보정할 수 있었다. 아울러 신호처리회로 중 에너지분석을 위한 파고분석기, 비 X-선 재거를 위한 상승시간선별기(rise-time discriminator)등을 제작하였으며 이들을 이용한 전반적인 신호처리회로의 구성에 대하여 논하고자 한다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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