• 제목/요약/키워드: rapid thermal process

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PECVD 방법으로 제조된 비정질 Si 박막의 RTP를 이용한 결정화 연구 (Use of a Rapid Thermal Process Technique to study on the crystallization of amorphous Si films fabricated by PECVD)

  • 심찬호;김하나;김성준;김정우;권정열;이헌용
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2005년도 제36회 하계학술대회 논문집 C
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    • pp.2052-2054
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    • 2005
  • TFT-LCD requires to use poly silicon for High resolution and High integration. Thin film make of Poly silicon on the excimer laser-induced crystallization of PECVD(plasma-enhanced chemical vapor deposition)-grown amorphous silicon. In the thin film hydrogen affects to a device performance from bad elements like eruption, void and etc. So dehydrogenation prior to laser exposure was necessary. In this study, use RTP(Rapid Thermal Process) at various temperature from $670^{\circ}C$ to $750^{\circ}C$ and fabricate poly-silicon. it propose optimized RTP window to compare grain size to use poly silicon's SEM pictures and crystallization to analyze Raman curved lines.

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급속열처리를 통한 알루미나 나노템플릿의 기공 균일도 개선에 관한 연구 (A Study on Improved Pore Uniformity of Nano Template Using the Rapid Thermal Processor)

  • 김동희;김진광;권오대;양계준;이재형;임동건
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2005년도 하계학술대회 논문집 Vol.6
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    • pp.637-638
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    • 2005
  • AAO templates were fabricated using a two-step anodization process with pretreatment such as electro polishing and annealing. To reduce process time and get well-aligned pore array, rapid thermal processor by an halogen lamp was employed in vacuum state at $500^{\circ}C$ for various time. The pore array of AAO template annealed at $500^{\circ}C$ for 2 h is comparable to a template annealed in conventional furnace at $500^{\circ}C$ for 30 h. The well-fabricated AAO template has the mean pore diameter of 70 nm, the barrierlayer thickness of 25 nm, and the pore depth of $9{\mu}m$. And the pore density can be as high as $2.0\times10^{10}cm^{-2}$.

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DC 스퍼터링을 이용한 소다라임 유리 기판상에 2차원 황화텅스텐 박막 형성 공정 (DC Sputtering Process of 2-Dimensional Tungsten Disulfide Thin Films on Soda-Lime Glass Substrates)

  • 마상민;권상직;조의식
    • 반도체디스플레이기술학회지
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    • 제17권3호
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    • pp.31-35
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    • 2018
  • Tungsten disulfide($WS_2$) thin films were directly deposited by direct-current(DC) sputtering and annealed by rapid thermal processing(RTP) to materialize two-dimensional p-type transition metal dichalcogenide (TMDC) thin films on soda-lime glass substrates without any complicated exfoliation/transfer process. $WS_2$ thin films deposited at various DC sputtering powers from 80 W to 160W were annealed at different temperatures from $400^{\circ}C$ to $550^{\circ}C$ considering the melting temperature of soda-lime glass. The optical microscope results showed the stable surface morphologies of the $WS_2$ thin films without any defects. The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) results and the Hall measurement results showed stable binding energies of W and S and high carrier mobilities of $WS_2$ thin films.

CF8M과 SA508 용접재의 열화에 따른 파괴인성에 관한 연구 (A Study on Fracture Toughness with Thermal Aging in CF8M/SA508 Welds)

  • 우승완;최영환;권재도
    • 대한기계학회논문집A
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    • 제30권10호
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    • pp.1173-1178
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    • 2006
  • In a primary reactor cooling system(RCS), a dissimilar weld zone exists between cast stainless steel(CF8M) in a pipe and low-alloy steel(SA508 cl.3) in a nozzle. Thermal aging is observed in CF8M as the RCS is exposed for a long period of time to a reactor operating temperature between 290 and $330^{\circ}C$, while no effect is observed in SA508 cl.3. The specimens are prepared by an artificially accelerated aging technique maintained for 300, 1800 and 3600 hrs at $430^{\circ}C$, respectively. The specimens for elastic-plastic fracture toughness tests are according to the process in the thermal notch is created in the heat affected zone(HAZ) of CF8M and deposited zone. From the experiments, the $J_{IC}$ value notched in HAZ of CF8M presented a rapid decrease up to 300 hours at $430^{\circ}C$ and slowly decreased according to the process in the thermal aging time. Also, the $J_{IC}$ value presented a lower value than that of the CF8M base metal. And, the $J_{IC}$ of the deposited zone presented the lowest value of all other cases.

ISFET 이온감지기구의 Site Binding 모형 확장과 그 $Si_3N_4$ 수소이온 감지막에의 적용 (Extension of the Site Binding Model for Ion Sensing Mechanism of ISFET and Its Application to the Hydrogen Ion Sensing $Si_3N_4$ Membrane)

  • 서화일;권대혁;이종현;손병기
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제25권11호
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    • pp.1358-1366
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    • 1988
  • 독립적인 nitridation step이 포함된 급속 열처리 공정을 이용하여 125-180A 두께의 이중 절연박막을 단결정 실리콘 상에 형성하였다. HCl 가스의 첨가량과 공정시간의 변화에 따른 박막 특성의 변화를 고찰하였고, 이에 따른 박막의 전기적 특성을 관찰하였다. HCl 가스의 첨가에 의해 초기의 산화막 두께의 성장은 현저하게 나타났으나, nitridation 후의 박막두께의 변화는 10A 이하로 매우 저조하였다. 이중 절연박막의 항복전압은 HCl 가스의 첨가량에 비례하여 점차 증가하였고, 절연강도는 furnace나 독립적인 nitridation step이 포함되지 않은 급속 열처리 공정으로 형성한 같은 두께의 박막에 비해 높은 것으로 분석되었다.

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HCI 첨가에 의한 RTO/RTN 이중 절연박막의 전기적 특성 변화 (Effects of the Contents of Hydrochloric Gas on the Electrical Properties of the RTO/RTN Dual Dielectric Films)

  • 김윤태;박성호;배남진;김보우;마동성
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제25권11호
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    • pp.1350-1357
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    • 1988
  • 독립적인 nitridation step이 포함된 급속 열처리 공정을 이용하여 125-180A 두께의 이중 절연박막을 단결정 실리콘 상에 형성하였다. HCl 가스의 첨가량과 공정시간의 변화에 따른 박막 특성의 변화를 고찰하였고, 이에 따른 박막의 전기적 특성을 관찰하였다. HCl 가스의 첨가에 의해 초기의 산화막 두께의 성장은 현저하게 나타났으나, nitridation 후의 박막두께의 변화는 10A 이하로 매우 저조하였다. 이중 절연박막의 항복전압은 HCl 가스의 첨가량에 비례하여 점차 증가하였고, 절연강도는 furnace나 독립적인 nitridation step이 포함되지 않은 급속 열처리 공정으로 형성한 같은 두께의 박막에 비해 높은 것으로 분석되었다.

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박막 소자 개발과 보론 확산 시뮬레이터 설계 (Shallow Junction Device Formation and the Design of Boron Diffusion Simulator)

  • 한명석;박성종;김재영
    • 대한공업교육학회지
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    • 제33권1호
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    • pp.249-264
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    • 2008
  • 본 연구에서는 저 에너지 이온 주입과 이중 열처리를 통하여 박막 $p^+-n$ 접합을 형성하였고, 보론 확산 모델을 가지고 새로운 시뮬레이터를 설계하여 이온 주입과 열처리 후의 보론 분포를 재현하였다. $BF_2$ 이온을 가지고 실리콘 기판에 저 에너지 이온 주입을 하였고, 이후 RTA(Rapid Thermal Annealing)와 FA(Furnace Annealing)를 통하여 열처리 과정을 수행하였다. 시뮬레이션을 위한 확산 모델은 점결함의 생성과 재결합, BI 쌍의 생성, 보론의 활성화와 침전 현상 등을 고려하였다. FA+RTA 열처리가 RTA+FA 보다 면저항 측면의 접합 특성에서 우수한 결과를 나타내었고, 시뮬레이터에서도 동일한 결과를 나타내었다. 따라서 본 연구를 통하여 박막접합을 형성할 때 열적 효율성을 고려하면 제안된 확산 시뮬레이터와 FA+RTA 공정 방법의 유용성을 기대할 수 있다.

Sol-gel법으로 제조한 강유전성 Bi3.25La0.75Ti3O12박막의 급속열처리에 따른 전기적 특성에 관한 연구 (A Study on Electrical Properties of Sol-gel Derived Bi3.25La0.75Ti3O12 Thin Films by Rapid Thermal Annealing)

  • 이인재;김병호
    • 한국세라믹학회지
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    • 제40권12호
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    • pp.1189-1196
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    • 2003
  • Sol-gel법으로 강유전성 B $i_{3.25}$L $a_{0.75}$ $Ti_3$ $O_{12}$ (BLT) stock solution을 합성하고 Pt/Ti $O_2$/ $SiO_2$/Si 기판위에 스핀코팅법으로 BLT 박막을 증착하였다. 본 실험에서는 Bi(TMHD)$_3$, La(III)2-Methoxyethoxide, Ti(IV)i-propoxide를 출발물질로 사용하였으며 2-Methoxyethanol을 용매로 사용하였다. 급속열처리(RTA)가 BLT 박막의 결정성장을 촉진시키기 위해 사용되었고, RTA를 실시한 시편과 RTA를 실시하지 않은 시편의 전기적 특성을 비교하였다. RTA를 실시한 후 72$0^{\circ}C$에서 로 열처리 한 BLT 박막의 경우 5V 인가 전압 하에서 2Pr 값은 RTA를 실시하지 않은 경우보다 27% 증가한 20.46$\mu$C/$ extrm{cm}^2$이었다.

DLP 3D 프린팅으로 제작된 고순도 알루미나 세라믹 탈지 공정 연구 (A Study on the Debinding Process of High Purity Alumina Ceramic Fabricated by DLP 3D Printing)

  • 이현빈;이혜지;김경호;류성수;한윤수
    • 한국분말재료학회지
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    • 제27권6호
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    • pp.490-497
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    • 2020
  • The 3D printing process provides a higher degree of freedom when designing ceramic parts than the conventional press forming process. However, the generation and growth of the microcracks induced during heat treatment is thought to be due to the occurrence of local tensile stress caused by the thermal decomposition of the binder inside the green body. In this study, an alumina columnar specimen, which is a representative ceramic material, is fabricated using the digital light process (DLP) 3D printing method. DTG analysis is performed to investigate the cause of the occurrence of microcracks by analyzing the debinding process in which microcracks are mainly generated. HDDA of epoxy acrylates, which is the main binder, rapidly debinded in the range of 200 to 500℃, and microcracks are observed because of real-time microscopic image observation. For mitigating the rapid debinding process of HDDA, other types of acrylates PETA, PUA, and MMA are added, and the effect of these additives on the debinding rate is investigated. By analyzing the DTG in the 25 to 300℃ region, it is confirmed that the PETA monomer and the PUA monomer can suppress the rapid decomposition rate of HDDA in this temperature range.

다공질 실리콘 산화막 Air-Bridge 기판 위에 제작된 MMIC용 공면 전송선 (Coplanar Waveguides Fabricated on Oxidized Porous Silicon Air-Bridge for MMIC Application)

  • 박정용;이종현
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제40권5호
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    • pp.285-289
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    • 2003
  • 본 논문에서는 실리콘 기판상의 전송선로 특성을 개선하기 위하여 표면 마이크로머시닝 기술과 새로운 산화법(H₂O/O₂ 분위기에서 500℃, 1시간 열산화와 1050℃, 2 분간 RTO(Rapid Thermal Oxidation) 공정)을 이용하여 10 ㎛ 두께의 다공질 실리콘 산화막(oxidized porous silicon:OPS) air-bridge 기판 위에 공면 전송선로(Coplanar Waveguide:CPW)를 제작하였다. 간격이 40 ㎛ 신호선이 20 ㎛ 전송선 길이가 2.2 mm인 CPW air-bridge 전송선의 삽입손실은 4 GH에서 -0.28 dB이며, 반사손실은 -22.3 유를 나타내었다. OPS air-bridge 위에 형성된 CPW의 손실이 OPS층 위에 형성된 CPW의 삽입손실보다 약 1 dB 정도 적은 것을 보여주었으며, 반사손실은 35 GHz 범위에서 약 -20 dB를 넘지 않고 있다. 이와 같은 결과로부터 두꺼운 다공질 실리콘 멤브레인 및 air-bridge 구조는 고 저항 실리콘 집적회로 공정에서 고성능, 저가의 마이크로파 및 밀리미터파 회로 응용에 충분히 활용 될 수 있으리라 기대된다.