Low-e glazing is classified as soft low-e glazing and hard low-e glazing. Hard low-e glazing can be temperable and its handling is comfortable because its coating film is a oxide film generated at high temperatures. But there is a fatal weakness that its insulation performance and shielding performance are lower compared to soft low-e glazing by low electrical conductivity of coating film. Soft low-e glazing is excellent because its coating film consists of Ag that is excellent electrical conductivity and it has strength that can supply various product consumers want. But soft low-e glazing has weaknesses that temperable and handling are difficult because Ag is oxidized easily. Therefore this study analyzes thermal performance of glazing by changing filling gas according to applying low-e glazing through simulation to judge performance before making sample. After this process, a comparative experimental study was done through TVS by making temperable low-e glazing.
Flexible opto-electronic devices are developed on the insulating layer deposited stainless steel (STS) substrates. The silicon dioxide ($SiO_2$) material as the diffusion barrier of Fe and Cr atoms in addition to the electrical insulation between the electronic device and STS is processed using the plasma enhanced chemical vapor deposition method. Noble silver (Ag) films of approximately 100 nm thickness have been formed on $SiO_2$ deposited STS substrates by E-beam evaporation technique. The films then were annealed at $650^{\circ}C$ for 20 min using the rapid thermal annealing (RTA) technique. It was investigated the variation of the surface morphology due to the interaction between Ag films and $SiO_2$ layers after the RTA treatment. The results showed the movement of Si atoms in silver film from $SiO_2$. In addition, the structural investigation of Ag annealed at $650^{\circ}C$ indicated that the Ag film has the material property of p-type semiconductor and the bandgap of approximately 1 eV. Also, the films annealed at $650^{\circ}C$ showed reflection with sinusoidal oscillations due to optical interference of multiple reflections originated from films and substrate surfaces. Such changes can be attributed to both formation of $SiO_2$ on Ag film surface and agglomeration of silver film between particles due to annealing.
Shrink film is currently being used for plastic container lavels to avoid the use of glue. Polyethylene terephthalate (PET) bottle lavels also use shrink films in the same PET materials for easy recycling of PET bottles. An air layer is generated between the shrink film and PET bottle surface due to the bent shape of the bottle surface. This air layer can insulate external heat, as air has a relatively lower thermal conductivity. In this study, the insulation property of the air layer was examined by computer simulation. Two PET bottle models were used, one with and the other without an air layer between the PET bottle surface and lavel. The two bottle models were filled with cold liquid and exposed to room temperature for 6 h, and the temperatures of the contents were then compared. The results showed that the temperature of the contents in the bottle with the air layer was lower than that without the air layer by at least $2^{\circ}C$. This study suggests an effective lavel design of PET bottles while ensuring that the temperature of the bottle contents is maintained.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.13
no.6
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pp.509-513
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2000
The physical and electrical characteristics of MgO and Pt thin-films on it deposited by reactive sputtering and rf magnetron sputtering respectively were analyzed with annealing temperature and time by four point probe SEM and XRD. Under annealing conditions of 100$0^{\circ}C$ and 2 hr, MgO thin-film had the properties of improving Pt adhesion to SiO$_2$and insulation without chemical reaction to Pt thin-film and the sheet resistivity and the resistivity of Pt thin-film deposited on it were 0.1288 Ω/ and 12.88 $\mu$$\Omega$.cm respectively. We made Pt resistance pattern on SiO$_2$/Si substrate by life-off method and fabricated Pt thin-film type microheater for thermal microsensors by Pt-wire Pt-paste and SOG(spin-on-glass). In the temperature range of 25~40$0^{\circ}C$ we estimated TCR(temperature coefficient of resistance) and resistance ratio of thin-film type Pt-RTD(resistance thermometer device). We obtained TCR value of 3927 ppm/$^{\circ}C$ close to the bulk Pt value. Resistance values were varied linearly within the range of the measurement temperature. The thermal characteristics of fabricated thin-films type Pt micorheater were analyzed with Pt-RTD integrated on the same substrate. The heating temperature of Pt microheater could be up to 40$0^{\circ}C$ with 1.5 watts of the heating power.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.11
no.10
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pp.826-832
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1998
In this study the thin films with the structure of Si+SiO$_2$+TiN are made by RF supttering method. TiN, which has small diffusion coefficient and low resistivity, is evaporated between SiO$_2$ and Al layers. It investigates the V-R characteristics depending on the thickness of SiO$_2$ which is used as insulation layer and researches its effects on voltage stability of thin film and varistor. These films show very small resistance valus in negative(-) voltage and large and large value in positive voltage band, and with the increase of voltage, resistance value is rapidly reduced and the satisfactory characteristic of varistor is shown at +1[V]. It is found that resistance value of TiN thin film is small and also TiN thin film has more current than the thin film which is not evaporated by TiN thin film. When Al electrode is evaporated of SiO$_2$ thin film, spiking occurs, but the spiking can be prevented with evaporation of TiN between SiO$_2$ and Al layers and this thin films in made easily because of its good attachment. With the increase of voltage, the resistance is changed into non-linear pattern and the bidirectional varistor characteristic is shown and then its theory can be verified by this experiment. Accordingly, when TiN is evaporated of Si Wafer(n-100), it obtains better voltage-resistance than thin film which is not evaporated and also when varistor character is used electrically to automatic control element such as elimination of flame, power distribution arrestor and constant voltage compensation, satisfactory reproducibilities are expected.
Proceedings of the Korean Society for Bio-Environment Control Conference
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1998.05a
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pp.16-21
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1998
우리나라는 시설재배 난방용 에너지로 경유를 90%이상 사용하고 있는데 최근 급격한 유가의 상승으로 생산비중 난방비가 차지하는 비중이 20∼25%에서 30∼40%로 높아져 시설원예 농가의 경제성이 크게 악화되고 있다. 이를 극복하고 안정적인 생산을 계속하기 위하여 보온력 향상이나 자연에너지 이용 기술에 관한 지속적인 기술개발과 보급이 필요할 것으로 생각된다. (중략)
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2001.05a
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pp.11-14
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2001
We give pressure stimulation into organic thin films and then manufacture a device under the accumulation condition that the state surface pressure is 30[mN/m]. LB layers of Arac. acid deposited by LB method were deposited onto slide glass as Y-type film. The physicochemical properties of the LB films were examined by UV absorption spectrum, SEM and AFM. The structure of manufactured device is Au/arachidic acid/Al. the number of accumulated layers are 3~9. Also. we then examined of the MIM device by means of I-V. The I-V characteristic of the device is measured from -3 to +3[V]. The insulation property of a thin film is better as the distance between electrodes is larger.
With respect to the electrode structure and the discharge characteristics, the atmospheric pressure plasma sheet of a thin polyimide film is introduced in this study; here, the flexible plasma device of a dielectric-barrier discharge with the ground electrode and the high-voltage electrode formulated on each surface of a polyimide film whose thickness is approximately $100{\mu}m$, that is operated with a sinusoidal voltage at a frequency of 25 kHz and a low voltage from 1 kV to 2 kV is used. The streamer discharge is appeared along the cross-sectional boundary line between two electrodes at the ignition stage, and the plasma is diffused on the dielectric-layer surface over the high-voltage electrode. In the development of a plasma sheet with thin dielectric films, the avoidance of the insulation breakdown and the reduction of the leakage current have a direct influence on the low-voltage operation.
Recently the research about electron transport characteristic and energy distribute function in mixture gases within Helium, has been used and developed widely as industrial quality improvement of extinguish characteristic, electrical dielectric strength ability of application of each species high voltage apparatus, gas plasma etching progress of work to use manufacture of semiconductor, thin film molding by CVD, insulation film to use ultra LSI, etc. This paper analyze electron transport characteristic in the range E/N $1{\sim}60$[Td], pressure $0.1{\sim}6.0$[Torr] by MCS. It is necessary to seek electron drift velocity, diffusion coefficient, lonization coefficients, characteristic energy, mean energy and electron energy distribution function as electron transport characteristic.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.11a
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pp.354-357
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1999
This paper describes on the electrical and physical charateristics thin-film type Pt-RTD\\`s on Si wafers, in which MgO thin-films were used as medium layer in order to improve adhesion of Pt thin-films to SiO$_2$ layer. The MgO medium layer had the properties of improving Pt adhesion to SiO$_2$ and insulation without chemical reaction to Pt thin-films and the resistivity of Pt thin-films was improved. In the analysis of properties of Pt-RTD, TCR value had 3927 ppm/$^{\circ}C$ and liner in the temperature range of room temperature to 40$0^{\circ}C$
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[게시일 2004년 10월 1일]
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