Preparation and characteristics of electroless Ni-P and Ni-B systems for semiconducting ceramics have been investigated as a function of deposit rate, reducing agent and pH variation. The effect of DMAB as ruducing agent is greater than that of sodium hypophosphite. The nickel electrode prepared from the nickel-phosphorus system with sodium hypophosphite shows low contact resistance of 0.99ohm compared with the resistance of 10chm in the electrode prepared from the nickel-boron system with DMAB. The contact resistance increases with increasing pH valuein the nickel-phosphorus system with sodium hypophosphite. The ratio of Ni to P is about 76.0/24.0 for the contact resistance of 0.99ohm in the above system.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.32
no.2
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pp.172-181
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1999
The effect of the DMAB concentration, temperature, deposition time, and stabilizer concentration on the precipitation reaction of the electroless nickel plating using dimethylamine borane (DMAB) as reducing agent was investigated to by the weight gain and electrochemical method. The deposition rate was dependent with DMAB concentration. The polarization resistance of the precipitation reaction was reduced with DMAB concentration. The precipitation reaction rate of Ni-B deposits was controlled by the oxidation rate of DMAB as the source of electron. The boron content of the deposit was constant at about 5.5wt%, even when DMAB concentration in the solution was increased. The effect of temperature and stabilizer ($Pb(NO_3)_2$) concentration on deposition rate was shown to have co-dependent behaviors.
Cu/PET film composites were prepared by electroless copper plating method. In order to improve adhesion between electroless Cu plated layer and polyester (PET) film, the effect of pretreatment conditions such as etching method and mixed catalyst composition, and accelerator was investigated. Compared to NaOH etching medium, PET film was more finely etched by HCl solution, resulting in an improvement in adhesion between Cu layer and PET film. However, there were no significant differences in electromagnetic interference shielding effectiveness as a function of etching medium. The surface morphology of Cu plated PET film revealed that Pd/Sn colloidal particles became more evenly distributed in the smaller size by increasing the molar ratio of PdCl$_2$ : SnCl$_2$ from 1 : 4 to 1 : 16. With increasing the molar ratio of mixed catalyst, the adhesion and the shielding effectiveness of Cu plated PET film were increased. Furthermore, HCl was turned out to be a better accelerator than NaOH in order to enhance the activity of the mixed PdCl$_2$/SnCl$_2$ catalyst, which facilitated the formation of more uniform copper deposit on the PET film.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.20
no.2
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pp.29-32
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2013
The surface roughness and reflectivity of electroless-plated Sn-3.5 wt%Ag on a LED (light emitting diode) lead frame were investigated. Cu electroplating was carried out prior to electroless plating of Sn-3.5Ag to improve the reflectivity of the Sn-3.5Ag deposit. In order to investigate the effect of stirring speed and temperature of the plating solution, surface roughness and reflectivity was measured. The experimental results revealed that the thickness of the deposit layer increased with stirring speed and temperature of the plating solution. Stirring speed is increased from 100 to 300 rpm, the surface roughness was reduced from 0.513 to 0.266 ${\mu}m$, and the reflectivity increased from 1.67 to 1.84 GAM. As temperature of the plating solution increased from 25 to $45^{\circ}C$, the surface roughness reduced from 0.507 to 0.350 ${\mu}m$, and the reflectivity increased from 1.68 to 1.84 GAM.
The electric resistance and constant current were investigated on the nickel-thallium-phosphorus alloy deposits by electroless-plating. The Ni-Tl-P alloy deposits were achieved with a bath using sodium hypophosphit as the reducing agent and sodium citrate as the comlexing agent. The basic plating solution is composed of 0.1M NiSO$_4$, 0.005${\sim}$0.0IM Tl$_2$S0$_4$, 0.1${\sim}$O.2M sodium hypophosphite and 0.02${\sim}$O.IM sodium citrate and the plating condition were pH 5${\sim}$6, temperrature 80$_4$90${\circ}$C. The results obtained are summarized as follows: 1) The crystal structure of deposit was amorphous structure as deposited state, became microcrystallized centering on Ni(111) plane by heat treatment at 200${\circ}$C, and grew as polycrystalline Ni, Ni$_3$P, Ni$_5$p$_2$,Tl, etc. by heat treatment higher than 350${\circ}$C. The grain size of plated deposits was grown up to 28.3~42.0nm by heat treatment for 1hour at 500${\circ}$C. 2) The electrical resistivity showed a comparatively high value of 192.5$_4$208.3 ${\mu}$${\Omega}$Cm and its thermal stability was great with resistivity value less than 0.22% in the thermal surroundings of 200${\circ}$C. 3) Ni-Tl-P alloy deposit showed such good constant current-making-effect in the variation of electric voltage, heat treatment temperature, and the composition of the deposit that it can be put to practical use as the matter of constant current device.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.8
no.3
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pp.55-62
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2001
With a spread of BGA, CSP and fine pitch devices, the need of flatter surface finish in bare board is becoming more critical in solderability. The electroless Ni/Au plating has a solution of these needs and also has being spread to apply to surface finish for bare board in many electronic goods. But, the electroless Ni/Au plating had several issues such as Ni oxidation and phosphorous contents. Before this study, we studied on the effect of BGA solderability in electroless Ni/Au plating and chose some major factors such as the oxidation property of NiP plating and warpage of board. Firstly, we made test board with various plating conditions and improved the plating property through the improvement of NiP oxidation reducing P content. Also, we minimized the warpage of board with the improvement of inner layer structure and the analysis of warpage. For the evaluation of solderability, we analyzed the warpage of board and the plating property after mounting BGA on the board with optimizing conditions. The solder joint of BGA is investigated by SEM(Scanning Electronic Microscope) and OM(Optical Microscope). The composition of joint is used by EDS(Energy Dispersive Spectroscopy). We analyzed the fracture strength and mode by ball shear teser.
Choi, Ye Ji;Lee, Kyeong Min;Yun, Kug Jin;Lee, Young-Seak
Applied Chemistry for Engineering
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v.30
no.2
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pp.212-218
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2019
To investigate the effect of the oxyfluorination of carbon nanotubes (OF-CNTs) on electroless Ni deposition and electromagnetic interference shielding efficiency (EMI SE), CNTs were treated with a mixture of oxygen and fluorine gases and sequentially deposited with nickel. These samples were then manufactured into thin films on a polyimide film to evaluate their EMI SE. The surface chemical property of OF-CNTs was investigated by X-ray photoelectron spectroscopy. From the results of thermogravimetric and scanning electron microscopic analyses, it was found that both the amount of deposited Ni and the surface morphology changed depending on oxyfluorination. Moreover, the Ni-deposited CNTs pretreated with $O_2:F_2=1:9vol%$ exhibited the maximum EMI SE as approximately 19.4 dB at 1 GHz. These results were attributed to the formation of oxygen and fluorine functional groups on the surface of CNTs due to the oxyfluorination, and the functional groups enabled to deposit a suitable amount of Ni and improve the dispersion in the deposited solution.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.06a
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pp.444-445
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2009
The metallic contact system of silicon solar cell must have several properties, such as low contact resistance, easy application and good adhesion. Ni is shown to be a suitable barrier to Cu diffusion as well as desirable contact metal to silicon. Nickel monosilicide(NiSi) has been suggested as a suitable silicide due to its lower resistivity, lower sintering temperature and lower layer stress than $TiSi_2$. Copper and Silver can be plated by electro & light-induced plating method. Light-induced plating makes use the photovoltaic effect of solar cell to deposit the metal on the front contact. The cell is immersed into the electrolytic plating bath and irradiated at the front side by light source, which leads to a current density in the front side grid. Electroless plated Ni/ Electro&light-induced plated Cu/ Light-induced plated Ag contact solar cells result in an energy conversion efficiency of 16.446 % on $0.2\sim0.6\;{\Omega}{\cdot}cm$, $20\;\times\;20\;mm^2$, CZ(Czochralski) wafer.
In this work, a metal-ligand solution (Cu-EDTA) was prepared based on the molecular precursor method and the solution was spin-coated onto 3D printed flexible photosensitive resin sheets. After being processed by microwave, a laser with a wavelength of 355 nm was utilized to scan the spin-coated sheets and then the sheets were immersed in an electroless copper plating solution to deposit copper wires. With the help of microwave processing, the adhesion between copper wires and substrate was improved which should result from the increase of roughness, decrease of contact angle and the consistent orientation of coated film according to the results of 3D profilometer and SEM. XPS results showed that copper seeds formed after laser scanning. Using the 3D printed flexible sheets as cathode and galvanized iron as anode, electrochemical machining was conducted.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.18
no.5
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pp.475-480
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2017
In this paper, the conductivity of the fine pattern is improved in the insulating substrate by laser-induced forward transfer (LIFT) process. The high laser beam energy generated in conventional laser induced deposition processes induces problems such as low deposition density and oxidation of micro-patterns. These problems were improved by using a polymer coating layer for improved deposition accuracy and conductivity. Chromium and copper were used to deposit micro-patterns on silicon wafers. A multi-pulse laser beam was irradiated on a metal thin film to form a seed layer on an insulating substrate(SiO2) and electroless plating was applied on the seed layer to form a micro-pattern and structure. Irradiating the laser beam with multiple scanning method revealed that the energy of the laser beam improved the deposition density and the surface quality of the deposition layer and that the electric conductivity can be used as the microelectrode pattern. Measuring the resistivity after depositing the microelectrode by using the laser direct drawing method and electroless plating indicated that the resistivity of the microelectrode pattern was $6.4{\Omega}$, the resistance after plating was $2.6{\Omega}$, and the surface texture of the microelectrode pattern was uniformly deposited. Because the surface texture was uniform and densely deposited, the electrical conductivity was improved about three fold.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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