In modern manufacturing, a product consists of many components created by different processes. Variations in the individual component dimensions and in the processes may result in unacceptable final assemblies. Thus, engineers have increased pressure to properly set tolerance specifications for individual components and to control manufacturing processes. When a proper variation stack-up analysis is not performed for all of the components in a functional system, all component parts can be within specifications, but the final assembly may not be functional. Thus, in order to improve the performance of the final assembly, a proper variation stack-up analysis is essential for specifying dimensional tolerances and process control. This research provides a detailed case example of the use of variation stack-up analysis using a Monte Carlo simulation method to improve the defect rate of a complex process, which is the commutator brush track undercut process of an armature assembly of a small motor. Variations in individual component dimensions and process mean shifts cause high defect rate, Since some dimensional characteristics have non-normal distributions and the stack-up function is non-linear, the Monte Carlo simulation method is used.
Radiation hardening is a multiscale phenomenon involving various processes over a wide range of time and length. We present a multiscale model for estimating the amount of radiation hardening in pressure vessel steel in the environment of a light water reactor. The model comprises two main parts: molecular dynamics (MD) simulation and a point defect cluster (PDC) model. The MD simulation was used to investigate the primary damage caused by displacement cascades. The PDC model mathematically formulates interactions between point defects and their clusters, which explains the evolution of microstructures. We then used a dislocation barrier model to calculate the hardening due to the PDCs. The key input for this multiscale model is a neutron spectrum at the inner surface of reactor pressure vessel steel of the Younggwang Nuclear Power Plant No.5. A combined calculation from the MD simulation and the PDC model provides a convenient tool for estimating the amount of radiation hardening.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.10
no.6
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pp.189-192
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2009
The leakage current in a CMOS image sensor (CIS) can have various origins. Leakage current investigations have focused on such things as cobalt-salicide, source and drain scheme, and shallow trench isolation (STI) profile. However, there have been few papers examining the effects on leakage current of nitride stringers that are formed by gate sidewall etching. So this study reports the results of a series of experiments on the effects of a nitride stringer on real display images. Different step heights were fabricated during a STI chemical mechanical polishing process to form different nitride stringer sizes, arsenic and boron were implanted in each fabricated photodiode, and the doping density profiles were analyzed. Electrons that moved onto the silicon surface caused the dark leakage current, which in turn brought up the speckle defect on the display image in the CIS.
The details of the electronic structure of the perfect crystal provides a critically important foundation for understanding the various defect states in uranium dioxide. In order to understand the local defect and impurity mechanism, the calculation of electronic structure of UO$_2$ in the one-electron approximation was carried out, using a semi-empirical tight-binding formalism(LCAO) with and without f-orbitals. The energy band, local and total density of states for both spin states are calculated from the spectral representation of Green’s function. The bonding mechanism in Perfect lattice of UO$_2$ is discussed based upon the calculations of band structure, local and total density of states.
In this paper, a laser scattering mechanism are designed to detect micro defects such as dent, scratch, pinhole, etc. Its influential parameters are experimentally selected and scattering patterns of micro defects have been analyzed for silicon wafer in solar cell. As a result of experiments, scattered lights are rather increased in wafer surface with micro defects, in comparison to no micro ones. Scattering parameters are optimally selected for obtaining robust and high quality laser scattering images of micro defects. It is shown that scattered light components are linearly increased according to the increase of micro defect sizes, and the depth of micro-defects give a large influence on optical deflection.
Although the rotation angle and its spectrum of the magneto-optical Kerr effect are physical quantities determined inherently by the material itself, we found that they can widely be designed by utilizing a one-dimensional photonic crystal with a ferromagnetic defect layer. By suitable choice of the film structure, the rotation angle at a designated narrow wavelength is resonantly enhanced up to as several hundred times larger as ordinary rotation angle of the magnetic. This is originated by the localization of light at the magnetic layer inside the film.
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.30
no.3
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pp.271-281
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2010
Brazing fitting which is one of the aircraft hydraulic power system components is widely used for saving weight and achieving higher reliability. Any inherent defects or damage of fitting can cause system failure and/or physical damage of human body due to highly pressurized fluid. Radiographic testing(RT) technique and additional micro-structure investigation on cut-away surfaces have been accomplished to find out some defect-like-inhomogeneity in the fittings. The radiography results showed that some defect-like-inhomogeneity existed inside body. Additional micro-structure investigation on cut-away surface reveals that the inhomogeneity is due to internal voids. In this study, it can be is said that RT technique can be a useful tool for field acceptance test of hydraulic brazing fitting in short time.
This paper proposes computer visual inspection algorithms for various LCD defects which are found in a manufacturing process. Modular vision processing steps are required in order to detect different types of LCD defects. Those key modules include RGB filtering for pixel defects, gray-scale morphological processing and Hough transform for line defects, and adaptive threshold for spot defects. The proposed algorithms can give users detailed information on the type of defects in the LCD panel, the size of defect, and its location. The machine vision inspection system is implemented using C language in an embedded Linux system for a high-speed real-time image processing. Experiment results show that the proposed algorithms are quite successful.
Aiming at the problem that the gradient-based edge detection operators are sensitive to the noise, causing the pseudo edges, a triqubit-state measurement-based edge detection algorithm is presented in this paper. Combing the image local and global structure information, the triqubit superposition states are used to represent the pixel features, so as to locate the image edge. Our algorithm consists of three steps. Firstly, the improved partial differential method is used to smooth the defect image. Secondly, the triqubit-state is characterized by three elements of the pixel saliency, edge statistical characteristics and gray scale contrast to achieve the defect image from the gray space to the quantum space mapping. Thirdly, the edge image is outputted according to the quantum measurement, local gradient maximization and neighborhood chain code searching. Compared with other methods, the simulation experiments indicate that our algorithm has less pseudo edges and higher edge detection accuracy.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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