The popularity of flat-panel display(FPD), including plasma display panel(PDP) and liquid-crystal display(LCD), has given rise to the need to streamline their production. In these days, PDP is one of the most popular display devices because of its expansion of manufacturing process and simplicity. Bus electrodes, sustain electrodes, barrier ribs and RGB phosphors are patterned on PDP panel to display an image. Since a minute damage on the pattern can cause a serious defect to display, it is important to inspect the pattern precisely. In this paper, an automatic inspection system of repeated pattern in PDP panel has been introduced to find the defect, such as open, short, dirt, island, and so on. And the inspection system has been operated in the mass production line of PDP.
SEOK, Ki Hwan;Kim, Hyung Yoon;Park, Jae Hyo;Lee, Sol Kyu;Lee, Yong Hee;Joo, Seung Ki
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.16
no.2
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pp.166-171
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2016
Nickel silicide is main issue in Polycrystalline silicon Thin Film Transistor (TFT) which is made by Metal Induced Lateral Crystallization (MILC) method. This Nickel silicide acts as a defect center, and this defect is one of the biggest reason of the high leakage current. In this research, we fabricated polycrystalline TFTs with novel method called Edge Cut (EC). With this new fabrication method, we assumed that nickel silicide at the edge of the channel region is reduced. Electrical properties are measured and trap state density also calculated using Levinson & Proano method.
Agani, Nazori;Al-Attas, Syed Abd Rahman;Salleh, Sheikh Hussain Sheikh
제어로봇시스템학회:학술대회논문집
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2004.08a
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pp.2059-2064
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2004
Texture analysis is an important role for automatic visual insfection. This paper presents an application of wavelet extension and Gray level co-occurrence matrix (GLCM) for detection of defect encountered in textured images. Texture characteristic in low quality images is not to easy task to perform caused by noise, low frequency and small dimension. In order to solve this problem, we have developed a procedure called wavelet image extension. Wavelet extension procedure is used to determine the frequency bands carrying the most information about the texture by decomposing images into multiple frequency bands and to form an image approximation with higher resolution. Thus, wavelet extension procedure offers the ability to robust feature extraction in images. Then the features are extracted from the co-occurrence matrices computed from the sub-bands which performed by partitioning the texture image into sub-window. In the detection part, Mahalanobis distance classifier is used to decide whether the test image is defective or non defective.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.17
no.12
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pp.107-114
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2000
Rollers and rolls in the continuous process systems are noes of key components that determine the quality of web products. The condition of rollers and rolls(ex. eccentricity wear) should be consistently monitored in order to maintain the process conditions (ex. tension, edge position) within a required specification. In this paper, a new diagnosis technique is suggested to detect the defect of rollers/rolls (ex. eccentricity, wear) based on frequency domain analysis of web tension signal. The kernel of this technique is to use the spectrum amplitude of tension signal which allows to identify the fault rollers/rolls and to also diagnose the degree of fault in corresponding rollers and rolls. The experimental results proved that the suggested diagnosis technique can be successfully used to identify the defect rollers and rolls as well as to diagnose the degree of the defect of those rollers. The suggested technique can be applied to monitor and diagnose the shape of rollers and rolls in various multi-span web transport systems.
The electrical conductivity of TiO$_2$ doped with 0.05~1.5mol% WO$_3$ was measured in the oxygen partial pressure range of 10\ulcorner~10\ulcorner atm and temperature range of 1100~130$0^{\circ}C$ to investigate the defect types and the electrical properties. The grain size and density were increased as the liquid phase was formed by the doped WO$_3$. The secondary phase and WO$_3$peaks at the sample doped up to 4.0 mol% were not detected from the XRD results. The data(log$\sigma$/logPo$_2$) over 110$0^{\circ}C$ were divided into the four regions. From these experimental results, we proposed the following defect regions. 1) Magneli phase(extended defect), 2) Reduced rutile region which is similar to the behavior of undoped rutile, 3) Nearly stoichiometric Ti\ulcornerW\ulcornerO$_2$region in which extra charge of W\ulcorner cation is expected to be compensated by an electron, 4) Overstoichiometric Ti\ulcornerW\ulcornerO\ulcorner region which is a metal deficiency not to be observed in pure TiO$_2$. The electrical conductivity of w-doped TiO$_2$ was influenced by the measuring temperature, oxygen partial pressure, and the dopig content.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.27
no.11
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pp.7-16
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2010
In this study, wire was used as the filler material for the laser repair welding, and the phenomenon in which the supplied filler material was melted and beaded down into the specimen was examined with varying laser powers and welding speeds. The optimal processing condition was found to be the laser power of 1,300 W, the welding speed and feed wire supply speed of 0.5 ml/in and the defocused distances of +2mm. At this time, the heat input(E) was $65{\sim}75\;J/mm^2$, and no internal defect occurred. When repair welding was carried out as the optimal processing for the part that had an external defect with the radius of 2mm, the filler metal was melted, resulting in the volume smaller than the defect part and thus causing the part unfilled. Therefore, it was found to be necessary to carry out repair welding two to three times by multiple passes rather than does it only once by single pass.
This article deals the theory for solving an inverse problem of plate structures using the frequency-domain information instead of classical time-domain delays or free vibration eigenmodes or eigenvalues. A reduced set of output parameters characterizing the defect is used as a regularization technique to drastically overcome noise problems that appear in imaging techniques. A deconvolution scheme from an undamaged specimen overrides uncertainties about the input signal and other coherent noises. This approach provides the advantage that it is not necessary to visually identify the portion of the signal that contains the information about the defect. The theoretical model for Quantitative nondestructive evaluation, the relationship between the real and ideal models, the finite element method (FEM) for the forward problem, and inverse procedure for detecting the defects are developed. The theoretical formulation is experimentally verified using dynamic responses of a steel plate under impact loading at several points. The signal synthesized by FEM, the residual, and its components are analyzed for different choices of time window. The noise effects are taken into account in the inversion strategy by designing a filter for the cost functional to be minimized. The technique is focused toward a exible and rapid inspection of large areas, by recovering the position of the defect by means of a single accelerometer, overriding experimental calibration, and using a reduced number of impact events.
Organic-inorganic metal halide perovskite has shown a great promise in photovoltaic applications because of the skyrocketing power-conversion efficiencies up to 25.2% and their potentially low production cost. However, it also has critical issue of substantial material degradation during device operation to be overcome for successful commercialization. Understanding the nature of defects and their photochemistry related to material degradation is needed. Furthermore, strategy to passivate defects in perovskite should be adopted to improve the stability of perovskite. In this article, we present predominant defects formation in perovskite that contribute to material degradations in perovskite solar cells. We then discuss how material stability can be improved through reliable defect passivation engineering.
This study explores the ability of non-destructive assay techniques to detect a partial material defect in which 100 g of plutonium are diverted from the center of a 1000 g can of PuO2 powder. Four safeguards measurements techniques: neutron multiplicity counting, calorimetry, gravimetry, and gamma ray spectroscopy are used in an attempt to detect the defect. Several materials are added to the partial defect PuO2 can to replicate signatures of the diverted material. 252Cf is used to compensate for the doubles neutron counts, 241Am is used to compensate for the decay heat, and aluminum is used to compensate for the weight. Although, the doubles and triples difference before and after diversion are statistically indistinguishable with the AWCC in fast and thermal mode, the difference in the singles counts are statistically detectable in both modes. The relatively short half-life of 252Cf leads to a decrease (three sigma uncertainty) in the doubles neutron counts after 161 days. Combining this with the precise quantity of 241Am needed (10.7 g) to mimic the heat signature and the extreme precision in 252Cf mass needed to defeat neutron multiplicity measurements gives reassurance in the International Atomic Energy Agency's ability to detect partial material defects.
Purpose: In this study, we focused on the image processing method to determine the external quality of Fuji apples by identifying surface defects such as scabs and bruises. Method: A CCD camera was used to capture filter images with 24 different wavelengths ranging between 530 nm and 1050 nm. Image subtraction and division operations were performed to distinguish the defect area from the normal areas including calyx, stem, and glaring on the apple surface image. All threshold values of the image were examined to reveal the defect area of pretreated filter images. Results: The developed operation methods were [image (720 nm) - image (900 nm)]/image (700 nm) for bruise detection and [image (740 nm) - image (900 nm)]/image (590 nm) for scab detection, which revealed 81% and 90% recognition ratios, respectively. Conclusions: Our results showed several optimal wavelengths and image processing methods to detect Fuji apple surface defects such as bruises and scabs.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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