• 제목/요약/키워드: chip-in-substrate

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고속프로그램 알고리즘을 이용한 스마트 칩 설계 (Smart Chip Design using High Speed Program Algorithm)

  • 김태민;신건순
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제11권8호
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    • pp.1564-1573
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    • 2007
  • 현재 사용 중인 프린터의 토너에 부착된 토너 잔량 검출 회로는 PCB 회로기판을 사용함으로써 부피가 비교적 큰 상태이므로 보다 경량 소형화된 프린트에 사용하기에는 부적합하다. 본 연구에서는 이와같은 소형화된 회로를 one chip함으로써 경쟁력이 있는 제품을 개발한다. 2005년 이후 출시 된 프린터에 사용되는 토너에는 칩이 필수적으로 부착되어야 한다. 따라서 앞으로의 재생시장에서 사용될 칩의 수요는 점점 커질 것이다. 세계적인 레이저 프린터 메이커들이 프린터에서 사용되는 토너카트리지의 정보를 관리하여 고객 서비스를 한다는 취지로 프린터에 부착되는 칩으로 인해 재생토너의 생산이 불가능하다. 본 연구에서는 재생토너를 생산하기 위해 필수적으로 부착되는 칩을 개발한다.

유리 기판을 투과하는 레이저 빔을 사용한 COG(chip-on-glass) 마운팅 공정 (COG(chip-on-glass) Mounting Using a Laser Beam Transmitting a Glass Substrate)

  • 이종현;문종태;김원용;김용석
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제8권4호
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    • pp.1-10
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    • 2001
  • 유리 기판상에 증착된 패드(pad)의 접합부 가열에 의한 면배열(area array) 형태 선자 패키지의 chip-on-glass(COG) 마운팅 공정이 시도되었다. 패드는 접합층(즉, Cr 또는 Ti)과 상부 코팅층(즉, Ni 또는 Cu)으로 구성되었으며, 이 중 접합층이 유리 기판을 투과하는 UV레이저에 의해 가열되었다. 접합층에 흡수된 레이저 에너지는 열전노 과정을 통하여 패드와 물리적으로 접촉되어 있는 솔더볼의 온도를 상승시켰으며, 리플로우 과정을 통하여 솔더 범프를 형성하였다. 레이저 가열 동안 솔더볼의 온도 이력(profile)을 측정함으로써 레이저 리플로우 솔더링시 접합층 및 상부 코팅층의 영향이 조사되었다. 그 결과들은 접합층의 반사율 측정 견과에 기초하여 논의되었다. 아울러 솔더 범프의 미세구조와 기계적 특성이 조사되었다.

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Ultra-Wide-Band (UWB) Band-Pass-Filter for Wireless Applications from Silicon Integrated Passive Device (IPD) Technology

  • Lee, Yong-Taek;Liu, Kai;Frye, Robert;Kim, Hyun-Tai;Kim, Gwang;Aho, Billy
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제18권1호
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    • pp.41-47
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    • 2011
  • Currently, there is widespread adoption of silicon-based technologies for the implementation of radio frequency (RF) integrated passive devices (IPDs) because of their low-cost, small footprint and high performance. Also, the need for high speed data transmission and reception coupled with the ever increasing demand for mobility in consumer devices has generated a great interest in low cost devices with smaller form-factors. The UWB BPF makes use of lumped IPD technology on a silicon substrate CSMP (Chip Scale Module Package). In this paper, this filter shows 2.0 dB insertion loss and 15 dB return loss from 7.0 GHz to 9.0 GHz. To the best of our knowledge, the UWB band-pass-filter developed in this paper has the smallest size ($1.4\;mm{\times}1.2\;mm{\times}0.40\;mm$) while achieving equivalent electrical performance.

교류자기장에 의한 유도가열체를 이용한 평판 디스플레이용 COG (Chip On Glass) 접속기술 (COG (Chip On Glass) Bonding Technology for Flat Panel Display Using Induction Heating Body in AC Magnetic Field)

  • 이윤희;이광용;오태성
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제12권4호통권37호
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    • pp.315-321
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    • 2005
  • 교류자기장에 의한 유도가열체를 이용하여 LCD 평판 디스플레이 패널의 가열을 최소화하면서 IC 칩을 실장시킬 수 있는 COG 접속기술에 대해 연구하였다. 크기 5mm${\times}$5mm, 두께 $600{\mu}m$의 Cu 도금막으로 제조한 유도가열체에 14 kHz, 230 Oe의 교류자기장을 인가시 60초 이내에 유도가열체의 온도가 Sn-3.5Ag 무연솔더의 리플로우에 필요한 $250^{\circ}C$에 도달하였으며, 유도가열체로부터 2 mm 떨어진 부위에서부터 기판의 온도는 $100^{\circ}C$ 이하로 유지되었다. 이와 같은 Cu 도금막 유도가열체에 14 kHz, 230 Oe의 교류자기장을 120초 동안 인가하여 Sn-3.5Ag 솔더범프를 리플로우 시켜 COG 실장을 하는 것이 가능하였다.

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플립칩 패키지된 40Gb/s InP HBT 전치증폭기 (A Flip Chip Packaged 40 Gb/s InP HBT Transimpedance Amplifier)

  • 주철원;이종민;김성일;민병규;이경호
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2007년도 하계학술대회 논문집 Vol.8
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    • pp.183-184
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    • 2007
  • A 40 Gb/s transimpedance amplifier IC was designed and fabricated with a InP/InGaAs HBTs technology. In this study, we interconnect 40Gbps trans impedance amplifier IC to a duroid substrate by a flip chip bonding instead of conventional wire bonding for interconnection. For flip chip bonding, we developed fine pitch bump with the $70{\mu}m$ diameter and $150{\mu}m$ pitch using WLP process. To study the effect of WLP, electrical performance was measured and analyzed in wafer and package module using WLP. The Small signal gains in wafer and package module were 7.24 dB and 6.93dB respectively. The difference of small signal gain in wafer and package module was 0.3dB. This small difference of gain is due to the short interconnection length by bump. The characteristics of return loss was under -10dB in both wafer and module. So, WLP process can be used for millimeter wave GaAs MMIC with the fine pitch pad and duroid substrate can be used in flip chip bonding process.

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토마토 수경재배에서 FDR(Frequency Domain Reflectometry) 센서를 활용한 무배액 시스템에 적합한 코이어 배지의 Chip과 Dust 비율 구명 (Scheduling Non-drainage Irrigation in Coir Substrate Hydroponics with Different Percentages of Chips and Dust for Tomato Cultivation using a Frequency Domain Reflectometry Sensor)

  • 최은영;최기영;이용범
    • 생물환경조절학회지
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    • 제22권3호
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    • pp.248-255
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    • 2013
  • 본 연구는 토마토 수경재배에서 Frequency Domain Reflectometry(FDR) 센서를 활용한 무배액 시스템에 적합한 코이어 배지의 chip과 dust 비율을 구명하기 위한 기초 실험으로 chip 함량에 따른 일일 급액량, 배액량, 배지의 용적당 수분함량 및 전기전도도, 식물생육, 과실 수량과 수분이용효율 측정을 목적으로 수행되었다. 시판 코이어 슬라브 중 chip과 dust 부피비율이 0 : 100%, 30 : 70%, 50 : 50%, 70 : 30%인 것과 대조구로 시판 rockwool 배지와 2층 슬라브, 즉 1층에 chip함량과 2층에 dust함량이 15 : 85%, 25 : 75%, 35 : 65%인 것을 사용하여 실험하였다. 실험에 사용된 배지 중 0 : 100%와 rockwool 배지는 전 생육기간 동안 배액이 배출되지 않았고 나머지 모든 배지에서도 극소량의 배액이 배출되었다. 일일 평균 급액량은 시판 슬라브와 2층 슬라브 배지 모두에서 chip 함량에 따라 다르게 나타났다. 식물 생육, 상품과 수량 및 수분이용효율은 chip과 dust의 비율이 0 : 100%인 시판 슬라브에서 가장 높게 나타났다. 따라서, FDR센서에 의한 자동급액 방식으로 토마토 작물을 재배 할 때 chip과 dust 부피비율이 0 : 100%인 코이어 배지를 사용할 경우 식물이 더욱 효과적으로 수분을 이용하여 생산량이 증가되면서도 배액을 최소화하거나 배액을 창출하지 않아 환경오염을 감소시킬 수 있다. FDR 센서에 의해 자동 급액되는 시스템에서 1회 급액량과 급액간격 기능을 생육단계별로 조정하여 배지의 물리성에 따른 급액 일정에 대한 세밀한 실험이 앞으로 수행될 계획이다.

RF 응용을 위한 플립칩 기술 (Overview on Flip Chip Technology for RF Application)

  • 이영민
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제6권4호
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    • pp.61-71
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    • 1999
  • 통신분야에서 사용주파수대역의 증가, 제품의 소형화 및 가격경쟁력등의 요구에 따라 RF 소자의 패키징 기술도 플라스틱 패키지 대신에 flip chip interconnection, MCM(multichip module)등과 같은 고밀도 실장기술이 발전해가고 있다. 따라서, 본 논문은 최근 수년간 보고된 응용사례를 중심으로 RF flip chip의 기술적인 개발방향과 장점들을 분석하였고, RF 소자 및 시스템의 개발단계에 따른 적합한 적용기술을 제시하였다. RF flip chip의 기술동향을 요약하면, 1) RF chip배선은 microstrip 대신에 CPW 구조을 선택하며, 2) wafer back-side grinding을 하지 않아서 제조공정이 단순하고 wafer 파손이 적어 제조비용을 낮출 수 있고, 3) wire bonding 패키징에 비해 전기적인 특성이 우수하고 고집적의 송수신 모듈개발에 적합하다는 것이다. 그러나, CPW 배선구조의 RF flip chip 특성에 대한 충분한 연구가 필요하며 RF flip chip의 초기 개발 단계에서 flip chip interconnection 방법으로는 Au stud bump bonding이 적합할 것으로 제안한다.

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레이저 열-압착 본딩을 위한 압전 액추에이터로 구동되는 용융실리카 헤더의 취성특성에 관한 연구 (A study on the brittle characteristics of fused silica header driven by piezoelectric actuator for laser assisted TC bonding)

  • 이동원;하석재;박정연;윤길상
    • Design & Manufacturing
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    • 제13권4호
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    • pp.10-16
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    • 2019
  • Semiconductor chip is bonded to the substrate by melting solder bumps. In general, the chip bonding is applied by a Reflow process or a Thermo-Compression(TC) bonding process. In this paper, we introduce a Laser Assisted Thermo-Compression bonding (LATCB) process to improve the anxiety of the existing process(Reflow, TC bonding). In the LATCB process, the chip is bonded to the substrate by irradiating a laser with a uniform energy density in the same area as the chip to melt only the solder bumps and press the chip with a Transparent Compression Module (TCM). The TCM consists of a fused silica header for penetrating the laser and pressurizing the chip, and a piezoelectric actuator (P.A.) coupled to both ends of the header for micro displacement control of the header. In addition, TCM is a structure that can pressurize the chip and deliver it to the chip and solder bumps without losing the energy of the laser. Fused silica, which is brittle, is vulnerable to deformation, so the header may be damaged when an external force is applied for pressurization or a displacement differenced is caused by piezoelectric actuators at both ends. On the other hand, in order to avoid interference between the header and the adjacent chip when pressing the chip using the TCM, the header has a notch at the bottom, and breakage due to stress concentration of the notch is expected. In this study, the thickness and notch length that the header does not break when the external force (500 N) is applied to both ends of the header are optimized using structural analysis and Coulomb-Mohr failure theory. In addition, the maximum displacement difference of the P.A.s at both ends where no break occurred in the header was derived. As a result, the thickness of the header is 11 mm, and the maximum displacement difference between both ends is 8 um.

Cu 범프와 Sn 범프의 접속구조를 이용한 RF 패키지용 플립칩 공정 (Flip Chip Process for RF Packages Using Joint Structures of Cu and Sn Bumps)

  • 최정열;김민영;임수겸;오태성
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제16권3호
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    • pp.67-73
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    • 2009
  • Cu pillar 범프를 사용한 플립칩 접속부는 솔더범프 접속부에 비해 칩과 기판사이의 거리를 감소시키지 않으면서 미세피치 접속이 가능하기 때문에, 특히 기생 캐패시턴스를 억제하기 위해 칩과 기판사이의 큰 거리가 요구되는 RF 패키지에서 유용한 칩 접속공정이다. 본 논문에서는 칩에는 Cu pillar 범프, 기판에는 Sn 범프를 전기도금하고 이들을 플립칩 본딩하여 Cu pillar 범프 접속부를 형성 한 후, Sn 전기도금 범프의 높이에 따른 Cu pillar 범프 접속부의 접속저항과 칩 전단하중을 측정하였다. 전기도금한 Sn 범프의 높이를 5 ${\mu}m$에서 30 ${\mu}m$로 증가시킴에 따라 Cu pillar 범프 접속부의 접속저항이 31.7 $m{\Omega}$에서 13.8 $m{\Omega}$로 향상되었으며, 칩 전단하중이 3.8N에서 6.8N으로 증가하였다. 반면에 접속부의 종횡비는 1.3에서 0.9로 저하하였으며, 접속부의 종횡비, 접속저항 및 칩 전단하중의 변화거동으로부터 Sn 전기도금 범프의 최적 높이는 20 ${\mu}m$로 판단되었다.

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임피던스 측정을 이용한 세포의 변형성 분석용 미소유체 칩 (Microfluidic chip for characterization of mechanical property of cell by using impedance measurement)

  • 김동일;최은표;최성식;박정열;이상호;윤광석
    • 센서학회지
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    • 제18권1호
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    • pp.42-47
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    • 2009
  • In this paper we propose a microfluidic chip that measures the mechanical stiffness of cell membrane using impedance measurement. The microfluidic chip is composed of PDMS channel and a glass substrate with electrode. The proposed device uses patch-clamp technique to capture and deform a target cell and measures impedance of deformed cells. We demonstrated that the impedance increased after the membrane stretched and blocked the channel.