• ETRI Journal
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• 제32권6호
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• pp.969-971
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• 2010

Based on a de-embedding technique, a new method is proposed which is capable of evaluating chip impedance behavior over absorbed power in flip-chip bonded UHF radio frequency identification transponder ICs. For the de-embedding, four compact co-planar test fixtures, an equivalent circuit for the fixtures, and a parameter extraction procedure for the circuit are developed. The fixtures are designed such that the chip can absorb as much power as possible from a power source without radiating appreciable power. Experimental results show that the proposed modeling method is accurate and produces reliable chip impedance values related with absorbed power.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제17권4호
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• pp.543-551
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• 2017

SOL (Short, Open and Load) calibration based on iterative error sensitivity is proposed in this paper. With advanced SOL calibration, unknown parasitic parameters at on-chip terminations are accurately estimated up to 20 GHz. Artificial terminations are designed on printed circuit board (PCB) to experiment the proposed method. On-chip SHORT, OPEN and LOAD fabricated inside silicon shows the accuracy of proposed calibration method through the comparison with known fixture S-parameter after de-embedding.

• 한국전자파학회논문지
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• 제24권6호
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• pp.633-643
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• 2013

IC 내부의 전원분배망(PDN: Power Delivery Network) 회로를 분석하기 위해서는 IC의 디자인 정보가 담긴 파일이 필요하지만, 상용 IC(Commercial IC)의 경우 보안상의 이유로 디자인 정보를 제공하지 않고 있다. 하지만 온-칩 전원분배망(On-chip PDN) 특성이 포함된 경우에는 PCB와 패키지의 특성만으로는 정확한 해석이 어려우므로 본 연구에서는 IC 내부의 정보가 제공하지 않는 전원분배망(PDN) 회로의 추출에 관하여 연구를 하였다. IC 내부의 전원분배망(PDN)의 주파수에 대한 특성을 추출하기 위하여, IEC62014-3에서 제안하고 있는 추출용 보드를 제작하였고, 추출용 보드를 구성하고 있는 SMA 커넥터, 패드, 전송 선로, 그리고 QFN 패키지의 주파수에 대한 특성들을 분석하였다. 추출된 결과들은 디임베딩(de-embedding) 기술에 적용하여 IC 내부의 전원분배망(PDN) 회로를 S-parameter 기반으로 모델을 추출하였고, 평가용 보드의 전원분배망 결합회로(PDN Co-simulation)모델에 적용하여 측정과 비교한 결과, ~4 GHz까지 잘 일치하였다.

• 마이크로전자및패키징학회지
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• 제28권3호
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• pp.1-7
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• 2021

본 논문에서는 Bare-die Chip 형태의 Drive amplifier를 Ajinomoto Build-up Film (ABF)와 FR-4로 구성된 PCB에 내장함으로써 28 GHz 대역 모듈에서 적용될 수 있는 내장형 능동소자 모듈을 구현하였다. 내장형 모듈에 사용된 유전체 ABF는 유전율 3.2, 유전손실 0.016의 특성을 가지고 있으며, Cavity가 형성되어 Drive amplifier가 내장되는 FR4는 유전율 3.5, 유전손실 0.02의 특성을 가진다. 제안된 내장형 Drive amplifier는 총 2가지 구조로 공정하였으며 측정을 통해 각각의 S-Parameter특성을 확인하였다. 공정을 진행한 2가지 구조는 Bare-die Chip의 패드가 위를 향하는 Face-up 내장 구조와 Bare-die Chip의 패드가 아래를 향하는 Face-down내장 구조이다. 구현한 내장형 모듈은 Taconic 사의 TLY-5A(유전율 2.17, 유전손실 0.0002)를 이용한 테스트 보드에 실장 하여 측정을 진행하였다. Face-down 구조로 내장한 모듈은 Face-up 구조에 비해 Bare-die chip의 RF signal패드에서부터 형성된 패턴까지의 배선 길이가 짧아 이득 성능이 좋을 것이라 예상하였지만, Bare-die chip에 위치한 Ground가 Through via를 통해 접지되는 만큼 Drive amplifier에 Ground가 확보되지 않아 발진이 발생한다는 것을 확인하였다. 반면 Bare-die chip의 G round가 부착되는 PCB의 패턴에 직접적으로 접지되는 Face-up 구조는 25 GHz에서부터 30 GHz까지 약 10 dB 이상의 안정적인 이득 특성을 냈으며 목표주파수 대역인 28 GHz에서의 이득은 12.32 dB이다. Face-up 구조로 내장한 모듈의 출력 특성은 신호 발생기와 신호분석기를 사용하여 측정하였다. 신호 발생기의 입력전력(P_in)을 -10 dBm에서 20 dBm까지 인가하여 측정하였을 때, 구현한 내장형 모듈의 이득압축점(P_1dB)는 20.38 dB으로 특성을 확인할 수 있었다. 측정을 통해 본 논문에서 사용한 Drive amplifier와 같은 Bare-die chip을 PCB에 내장할 때 Ground 접지 방식에 따라 발진이 개선된다는 것을 검증하였으며, 이를 통해 Chip Face-up 구조로 Drive amplifier를 내장한 모듈은 밀리미터파 대역의 통신 모듈에 충분히 적용될 수 있을 것이라고 판단된다.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2013년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.509-510
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• 2013

• ETRI Journal
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• 제32권2호
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• pp.327-329
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• 2010

A fully integrated small form-factor HBT power amplifier (PA) was developed for UMTS Tx applications. For practical use, the PA was implemented with a well configured bottom dimension, and a CMOS control IC was added to enable/disable the HBT PA. By using helix-on-pad integrated passive device output matching, a chip-stacking technique in the assembly of the CMOS IC, and embedding of the bulky inductive lines in a multilayer substrate, the module size was greatly reduced to 2 mm ${\times}$ 2.2 mm. A stage-bypass technique was used to enhance the efficiency of the PA. The PA showed a low idle current of about 20 mA and a PAE of about15% at an output power of 16 dBm, while showing good linearity over the entire operating power range.

• ETRI Journal
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• 제34권1호
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• pp.44-54
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• 2012

Because of the intrinsic lack of internal-system observability and controllability in highly integrated multicore processors, very restricted access is allowed for the debugging of erroneous chip behavior. Therefore, the building of an efficient debug function is an important consideration in the design of multicore processors. In this paper, we propose a flexible on-chip debug architecture that embeds a special logic supporting the debug functionality in the multicore processor. It is designed to support run-stop-type debug functions that can halt and control the execution of the multicore processor at breakpoint events and inspect the possible causes of any errors. The debug architecture consists of the following three functional components: the core debug support block, the multicore debug support block, and the debug interface and control block. By embedding this debug infrastructure, the embedded processor cores within the multicore processor can be debugged simultaneously as well as independently. The debug control is performed by employing a JTAG-based scanning operation. We apply this on-chip debug architecture to build a debugger for a prototype multicore processor and demonstrate the validity and scalability of our approach.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권12호
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• pp.21-26
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• 2004

본 논문에서는 package된 BJT의 RF 등가회로 모델을 optimization과정 없이 직접 추출하는 방법을 개발하였다. 먼저, open 과 short package 구조를 사용하여 plastic package의 기생성분을 측정된 S-파라미터로부터 정확히 제거하였다. 이와 같이 package do-embedding된 S-파라미터로부터 package lead와 chip pad 사이의 bonding wire 인덕턴스와 chip pad 캐패시턴스를 직접 추출하는 간단한 방법을 구축하였다. 그 후에 내부 BJT소자의 소신호 모델변수들은 RF 등가회로로부터 유도된 Z나 Y-파라미터 방정식을 이용하여 결정하였다. 이 방법으로 모델화된 packaged BJT의 S-파라미터는 측정 데이터와 아주 잘 일치하였으며 이는 새로운 추출방법의 정확성을 증명한다.

• 대한전자공학회논문지
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• 제24권6호
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• pp.1068-1073
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• 1987

Traditional circuit partitioning algorithm using the cluster development method, which is suitable for such applications as single chip floor planning or multiple layer PCB system placement, where the clusters are formed so that inter-cluster nets are localized within the I/O connector pins, may not be appropriate for the functiona block placement in truly 3-D electronic modules. 3-D hybrid IC is one such example where the inter-layer routing as well as the intra-layer routing can be maximally incorporated to reduce the overall circuit size, cooling requirements and to improve the speed performance. In this paper, we propose a new algorithm called MBE(Minimum Box Embedding) for the layer assignment of each functional block in 3-D hybrid IC design. The sequence of MBE is as follows` i) force-directed relaxation in 3-D space, ii) exhaustive search for the optimal orientation of the slicing plane and iii) layer assignment. The algorithm is first explaines for a 2-D reduced problem, and then extended for 3-D applications. An example result for a circuit consisting of 80 blocks has been shown.

• 마이크로전자및패키징학회지
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• 제19권3호
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• pp.77-82
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• 2012

본 연구에서는 칩을 기판에 내장하기 위해 상용화된 CSR사의 bluetooth chip을 이용하여 표면의 솔더볼을 제거하고 PCB소재와 공정을 이용하는 embedded active PCB 공정에 관한 연구를 하였다. 솔더볼이 제거된 칩과 PCB는 구리 도금 공정으로 연결되었으나 열 충격시 표면처리를 하지 않았을 시 칩의 표면과 ABF 간의 de-lamination 현상이 발견되었고, 이를 해결하기 위해 칩의 polyimide passivation layer에 디스미어와 플라즈마 공정을 이용하여 조도 형성을 하는 연구를 진행하였다. SEM(Scanning Electron Microscope) 과 AFM(Atomic Force Micrometer)을 통하여 표면을 관찰하였고, XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)를 이용하여 표면의 화학적 구조의 변화를 관찰하였다. 실험결과 플라즈마 처리 시 표면 조도형성이 되었으나 그 밀도가 조밀하지 못하였지만 디스미어 공정과 함께 처리하였을 시 조도의 조밀도가 높아 열 충격을 가하였을 시에도 칩의 polyimide layer와 ABF간의 de-lamination 현상이 발견되지 않았다.