In this paper, non-self-aligned SiGe HBTs with ${f}_\tau$ and${f}_max $above 50 GHz have been fabricated using an RPCVD(Reduced Pressure Chemical Vapor Deposition) system for wireless applications. In the proposed structure, in-situ boron doped selective epitaxial growth(BDSEG) and TiSi$_2$ were used for the base electrode to reduce base resistance and in-situ phosphorus doped polysilicon was used for the emitter electrode to reduce emitter resistance. SiGe base profiles and collector design methodology to increase ${f}_\tau$ and${f}_max $ are discussed in detail. Two SiGe HBTs with the collector-emitter breakdown voltages ${BV}_CEO$ of 3 V and 6 V were fabricated using SIC(selective ion-implanted collector) implantation. Fabricated SiGe HBTs have a current gain of 265 ∼ 285 and Early voltage of 102 ∼ 120 V, respectively. For the $1\times{8}_\mu{m}^2$ emitter, a SiGe HBT with ${BV}_CEO$= 6 V shows a cut-off frequency, ${f}_\tau$of 24.3 GHz and a maximum oscillation frequency, ${f}_max $of 47.6 GHz at $I_c$of 3.7 mA and$V_CE$ of 4 V. A SiGe HBT with ${BV}_CEO$ = 3 V shows ${f}_\tau$of 50.8 GHz and ${f}_max $ of 52.2 GHz at $I_c$ of 14.7 mA and $V_CE$ of 2 V.
We fabricated the polyacrylic acid (PAA)-doped $MgB_2$ bulks and characterized their lattice parameters, actual C substitutions, microstructures, and critical properties. The boron (B) powder was mixed with PAA using N,N-dimethylformamide as solvent and then the solution was dried out at $200^{\circ}C$ and crushed. The C treated B powder and magnesium powder were mixed and compacted by uniaxial pressing at 500 MPa, followed by sintering at $900^{\circ}C$ for 1 h in high purity Ar atmosphere. We observed that the PAA doping increased the MgO amount but decreased the grain size, a-axis lattice constant, and critical temperature ($T_c$), which is indicative of the C substitution for B sites in $MgB_2$. In addition, the critical current density ($J_c$) at high magnetic field was significantly improved with increasing PAA addition: at 5 K and 6.6 T, the $J_c$ of 7 wt% PAA-doped sample was $6.39\;{\times}\;10^3\;A/cm^2$ which was approximately 6-fold higher than that of the pure sample ($1.04\;{\times}\;10^3\;A/cm^2$). This improvement was probably due to the C substitution and the refinement of grain size by PAA doping, suggesting that PAA is an effective dopant in improving $J_c$(B) performance of $MgB_2$.
Si quantum dot (QD) imbedded in a $SiO_2$ matrix is a promising material for the next generation optoelectronic devices, such as solar cells and light emission diodes (LEDs). However, low conductivity of the Si quantum dot layer is a great hindrance for the performance of the Si QD-based optoelectronic devices. The effective doping of the Si QDs by semiconducting elements is one of the most important factors for the improvement of conductivity. High dielectric constant of the matrix material $SiO_2$ is an additional source of the low conductivity. Active doping of B was observed in nanometer silicon layers confined in $SiO_2$ layers by secondary ion mass spectrometry (SIMS) depth profiling analysis and confirmed by Hall effect measurements. The uniformly distributed boron atoms in the B-doped silicon layers of $[SiO_2(8nm)/B-doped\;Si(10nm)]_5$ films turned out to be segregated into the $Si/SiO_2$ interfaces and the Si bulk, forming a distinct bimodal distribution by annealing at high temperature. B atoms in the Si layers were found to preferentially substitute inactive three-fold Si atoms in the grain boundaries and then substitute the four-fold Si atoms to achieve electrically active doping. As a result, active doping of B is initiated at high doping concentrations above $1.1{\times}10^{20}atoms/cm^3$ and high active doping of $3{\times}10^{20}atoms/cm^3$ could be achieved. The active doping in ultra-thin Si layers were implemented to silicon quantum dots (QDs) to realize a Si QD solar cell. A high energy conversion efficiency of 13.4% was realized from a p-type Si QD solar cell with B concentration of $4{\times}1^{20}atoms/cm^3$. We will present the diffusion behaviors of the various dopants in silicon nanostructures and the performance of the Si quantum dot solar cell with the optimized structures.
In this paper, we manufactured the regenerated FBG by the thermal annealing of seed FBG based on UV irradiation. The writing conditions of regenerated FBGs were investigated in four types of optical fiber. FBGs written in $H_2$-free fiber were erased and not regenerated during the thermal annealing. FBG written in $H_2$ loaded Boron co-doped fiber was erased at the temperature of about $580^{\circ}C$ and regenerated about $590^{\circ}C$. However, the extinction of regenerated FBG started at the temperature over $900^{\circ}C$ and then FBG disappeared out. FBG written in $H_2$ loaded Ge high doped fiber was erased and regenerated around the temperature of $800^{\circ}C$ and maintained until the end of the thermal annealing. The reflection of the regenerated FBG was decreased about 12 dB and the center wavelength of the regenerated FBG was shifted about 0.7 nm compared with that of the seed FBG. The thermal characteristics of the regenerated FBG were analyzed by reheating from room temperature to $980^{\circ}C$. As results, the regenerated FBG had survived without a decrease of reflection and the thermal sensitivity was $15pm^{\circ}C$.
Sanyal, Simpy;Dutta, Subhajit;Ju, Minkyu;Mallem, Kumar;Panchanan, Swagata;Cho, Eun-chel;Cho, Young Hyun;Yi, Junsin
Current Photovoltaic Research
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제7권1호
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pp.9-14
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2019
Carrier selective solar cell structure has allured curiosity of photovoltaic researchers due to the use of wide band gap transition metal oxide (TMO). Distinctive p/n-type character, broad range of work functions (2 to 7 eV) and risk free fabrication of TMO has evolved new concept of heterojunction intrinsic thin layer (HIT) solar cell employing carrier selective layers such as $MoO_x$, $WO_x$, $V_2O_5$ and $TiO_2$ replacing the doped a-Si layers on either front side or back side. The p/n-doped hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) layers are deposited by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD), which includes the flammable and toxic boron/phosphorous gas precursors. Due to this, carrier selective TMO is gaining popularity as analternative risk-free material in place of conventional a-Si:H. In this work hole selective materials such as $MoO_x$, $WO_x$ and $V_2O_5$has been investigated. Recently $MoO_x$, $WO_x$ & $V_2O_5$ hetero-structures showed conversion efficiency of 22.5%, 12.6% & 15.7% respectively at temperature below $200^{\circ}C$. In this work a concise review on few important aspects of the hole selective material solar cell such as historical developments, device structure, fabrication, factors effecting cell performance and dependency on temperature has been reported.
Recombinant E.coli ACV 1003 (recA::lacZ) releasing ${\beta}$-galactosidase by a SOS regulon system, when exposed to DNA-damaging compounds, have been used to effectively monitor endocrine disruptors. Low enzyme activity of less than 10 units/mL, corresponding to a $\mu\textrm{g}$/L(ppb) range of an endocrine disruptor (tributyl tin, bisphenol A. etc.), can be rapidly determined, not by a conventional time-consuming and tedious enzyme assay, but by an alternative interferometric biosensor. Heavily boron-doped porous silicon for application as an interferometer, was fabricated by etching to form a Fabry-Perot fringe pattern, which caused a change in the refractive index of the medium including ${\beta}$-galactosidase. In order to enhance the immobilization of the porous silicon surface, a calyx crown derivative (ProLinker A) was applied, instead of a conventional biomolecular affinity method using biotin. This resulted in a denser linked formation. The change in the effective optical thickness versus ${\beta}$-galactosidase activity, showed a linear increase up to a concentration of 150 unit ${\beta}$-galactosidase/mL, unlike the sigmoidal increase pattern observed with the biotin.
Lin, Qianqi;Li, Qian;Batchelor-McAuley, Christopher;Compton, Richard G.
Journal of Electrochemical Science and Technology
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제4권2호
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pp.71-80
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2013
The study of methyl viologen ($MV^{2+}$) mediated oxygen reduction in electrolytic ethanol media possesses potential application in the electrochemical synthesis of hydrogen peroxide mainly due to the advantages of the much increased solubility of molecular oxygen ($O_2$) and high degree of reversibility of $MV^{2+/{\bullet}+}$ redox couple. The diffusion coefficients of both $MV^{2+}$ and $O_2$ were investigated via electrochemical techniques. For the first time, $MV^{2+}$ mediated $O_2$ reduction in electrolytic ethanol solution has been proved to be feasible on both boron-doped diamond and micro-carbon disc electrodes. The electrocatalytic response is demonstrated to be due to the radical cation, $MV^{{\bullet}+}$. The homogeneous electron transfer step is suggested to be the rate determining step with a rate constant of $(1{\pm}0.1){\times}10^5M^{-1}s^{-1}$. With the aid of a simulation program describing the EC' mechanism, by increasing the concentration ratio of $MV^{2+}$ to $O_2$ electrochemical catalysis can be switched from a partial to a 'total catalysis' regime.
Metastable pseudomorphic GeSi layers grown by vapor phase epitaxy on Si(100) substrates were implanted at room temperature. The implantations were performed with 90 KeV As ions to a dose of $1\times 10^{13}\;\textrm{cm}^2$ for $Ge_{0.08}Si_{0.92}$ layers and 709 keV $BF_2^+$ ions to a dose of $3\times 10^{13}\;\textrm{cm}^2$ for $Ge_{0.06}Si_{0.94}$layers. The samples were subsequently annealed for short 10-40 s durations in a lamp furnace with a nitrogen ambient or for a long 30 min period in a vacuum tube furnace. For $Ge_{0.08}Si_{0.92}$samples annealed for a 30 min-longt duration at $700^{\circ}C$ the dopant activation can only reach 50% without introducing significant strain relaxaion whereas samples annealed for short 40s periods (at $850^{\circ}C$) can achieve more than 90% activation without a loss of strain, For $Ge_{0.06}Si_{0.94}$samples annealed for either 40s or 30min at $800^{\circ}C$ full electrical activation of the boron is exhibited in the GeSi epilayer without losing their strain. However when annealed at $900^{\circ}C$ the strain in both implanted and unimplanted layers is partly relaxed after 30min whereas it is not visibly relaxed after 40s.
Novel porous silicon chip exhibiting dual optical properties, both Frbry-Perot fringe (optical reflectivity) and photoluminescence had been developed and used as chemical sensors. Porous silicon samples were prepared by an electrochemical etch of p-type sillicon wafer (boron-doped, <100> orientation, resistivity 1 - 10 ${\Omega}$). The ething solution was prepared by adding an equal volume of pure ethanol to an aqueous solution of HF (48% by weight). The porous silicon was illuminated with a 300 W tungsten lamp for the duration of etch. Ething was carried out as a two-electrode Kithley 2420 preocedure at an anodic current. The surface of porous silicon was characterized by FT-IR instrument. The porosity of samples was about 80%. Three different types of porous silicon, fresh porous silicon (Si-H termianated), oxidized porous silicon (Si-OH terminated), and surface-derivatized porous silicon (Si-R terminated), were prepared by the thermal oxidation and hydrosilylation. Then the samples were exposed to the wapor of various organics vapors. such as chloroform, hexane, methanol, benzene, isopropanol, and toluene. Both reflectivity and photoluminescence were simultaneously measured under the exposure of organic wapors.
반도체 박막의 분석에서 중요한 분석 대상의 하나인 미량 불순물의 정량분석을 위한 표준절차를 확립하고 그에 필요한 인증표준물질의 개발하였으며 이를 이용하여 국내공동분석을 실시하였다. 공동분석에 사용된 붕소가 균질하게 도핑된 박막 인증표준물질과 분석시편은 이온빔 스퍼터증착법에 의해 제작하였으며, 가장 정량적이고 감도가 높은 ICP-MS를 이용한 동위원소희석법으로 인증하였다. 이러한 인증표준물질과 SIMS에 의한 실리콘 내 의 붕소의 정량분석에 대해 이미 확립되어 있는 국제표준절차인 ISO/DIS-14237에 의거하여 국내 공동 분석을 시행하였는데, 이번의 공동분석에서 얻어진 붕소농도의 전체 평균값이 ICP-MS에 의한 인증치에 약 2% 정도의 오차를 보여주고 있어 분석의 정확성이 확인되었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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