Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.411.1-411.1
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2016
In this study, we examined the effects of boron doping on the dielectric reliability of solution processed aluminum oxide ($Al_2O_3$). When boron is doped in aluminum oxide, the hysteresis reliability is improved from 0.5 to 0.4 V in comparison with the undoped aluminum oxide. And the accumulation capacitance is increased when boron was doped, which implying the reduction of the thickness of dielectric film. The improved dielectric reliability of boron-doped aluminum oxide is originated from the small ionic radius of boron ion and the stronger bonding strength between boron and oxygen ions than that of between aluminum and oxygen ions. Strong boron-oxygen ion bonding in aluminum oxide results dielectric film denser and thinner. The leakage current of aluminum oxide also reduced when boron was doped in aluminum oxide.
Transparent conducting aluminum-doped ZnO thin films were deposited using a sol-gel process. In this study, the important deposition parameters were investigated thoroughly to determine the appropriate procedures to grow large area thin films with low resistivity and high transparency at low cost for device applications. The doping concentration of aluminum was adjusted in a range from 1 to 4 mol% by controlling the precursor concentration. The annealing temperatures for the pre-heat treatment and post-heat treatment was $250^{\circ}C$ and 400-$600^{\circ}C$, respectively. The SEM images show that Al doped and undoped ZnO films were quite uniform and compact. The XRD pattern shows that the Al doped ZnO film has poorer crystallinity than the undoped films. The crystal quality of Al doped ZnO films was improved with an increase of the annealing temperature to $600^{\circ}C$. Although the structure of the aluminum doped ZnO films did not have a preferred orientation along the (002) plane, these films had high transmittance (> 87%) in the visible region. The absorption edge was observed at approximately 370 nm, and the absorption wavelength showed a blue-shift with increasing doping concentration. The ZnO films annealed at $500^{\circ}C$ showed the lowest resistivity at 1 mol% Al doping.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.5
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pp.449-453
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1996
In order to improve EL performance, anthracene was doped into the 8-hydroxyquinoline-aluminum (Alq$^3$) light-emitting layer of organic double layered EL cells. The EL cells were fabricated on ITO glass substrates by vacuum deposition. Doping of anthracene to the light-emitting $Alq^3$layer was performed by means of co-evaporation. The doping concentration was changed in the range of 5 to 30 wt.%. It was confirmed that anthracene doping of appropriate concentration increased the available current density and brightness of the EL cells. Carrier mobility of the $Alq^3$ layer was measured by time of flight method. The influence of anthracene doping on the cell performance was discussed.
We have investigated the pristine alkali metal doping effect which is the Fermi level of alkali metal doped Alq3 shifts toward the LUMO. In-situ measurements of synchrotron radiation photoelectron spectroscopy revealed that the interface dipole or bend bending in previous reports are not the pristine alkali metal doping effect
Water glass (WG) and sodium sulfate (SS) were used to prepare polymeric aluminum chloride residue cement mortar (PACRM) by single and compound blending with polymeric aluminum chloride waste residue, respectively. The structural strength and textural characteristics examinations showed that PACRM consistency increased by incorporating WG, but decreased by incorporating SS. When WG and SS were compounded, the mortar consistency initially rose before falling. The compressive strength of PACRM increased and then decreased as WG was increased. The mechanical properties of PACRM were better enhanced by SS than WG, showing no strength deterioration. The main reason for the improved mechanical properties of polymeric aluminum chloride waste residue in the presence of activators is the increased precipitation of reactive substances, such as C-S-H gels, calcium silica, and Ca(OH)2. The density of the specimens with PACRM and the degree of aggregation of hydration products were significantly enhanced by generating more hydration products in the mortar. Further, the cracks and pores were significantly reduced, and the matrix structure was continuous and dense at 5% SS doping and 3% compound doping.
Park, Young-Wook;Kim, Young-Min;Choi, Jin-Hwan;Ju, Byeong-Kwon
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.04a
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pp.81-82
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2006
Doping is a well-known method for improving electroluminescent (EL) efficiency of organic light emitting diodes. In our study, doping with 2 materials simultaneously, we could achieve improved EL efficiency. The emission layer was tris-(8-hydroxyquinoline)aluminum, and the 2 dopants were N,N'-dimethyl-quinacridone (DMQA) and 10-(2-Benzothiazolyl)-2, 3, 6, 7-tetrahydro-1,1,7,7,-tetramethyl 1-1H, 5H, 11H-[1] benzopyrano [6,7,8-ij]quinolizin-11-one (C-545T). The EL intensity of co-doped device was nearly flat, it shows that co-doping technique could be a effective way to improve the EL efficiency. EL efficiency of Single-doped device based on DMQA and C-S45T were ~6.47Cd/A and ~7.45Cd/A, respectively. Co-doped device showed higher EL efficiency of ~8.30Cd/A.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.07b
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pp.1034-1037
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2002
In this study, we fabricated red organic electrolu-minescent device with a doping material (DCJTB), and The cell structure used ITO:indium tin oxide $[20{\Omega}]$/CuPc:Hole injection layer 20nm/NPB: Hole transfer layer 40nm/$Alq_3$ (host) + DCJTB(1% or 3%) (guest) Emitting layer 40nm/$Alq_3$ : Electron transfer layer 30nm/Al :Cathode layer 150nm. the luminescent layer consisted of a host material. 8-hydrozyquinoline aluminum $(Alq_3)$, and DCJTB dye as the dopant. a stable red emission (chromaticity coordinates : x=0.64, y=0.36) was obtained in this cell with the luminance range of $100-600cd/m^2$. we study the electrical and optical properties of devices.
We present that the carrier balance can be improved by doping a hole transport layer of 4,4'- bis[N-(1-napthyl)-N-phenyl-amino]-biphenyl (${\alpha}$-NPD) with a hole blocking material of 2,9-dimethyl- 4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline (BCP). The doping leads to disturb hole transport, which can enhance the balance of electron s and holes concentration in the emitting layer, aluminum tris(8 -hydroxyquinoline) (Alq3), resulting in enhanced electroluminescence (EL) quantum efficiency for the device with the doped ${\alpha}$-NPD.
Kim, Yong-Nam;Lee, Seoung-Soo;Song, Jun-Kwang;Noh, Tai-Min;Kim, Jung-Woo;Lee, Hee-Soo
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.18
no.1
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pp.50-55
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2008
AI-doped ZnO(AZO) thin films have been fabricated on glass substrate by sol-gel method, and the effect of Al precursors and post-annealing temperature on the characteristics of AZO thin films was investigated. The sol was prepared with zinc acetate, EtOH, MEA and Al precursors. In order to dope Al in ZnO, two types of aluminum nitrate and aluminum chloride were used as Al precursor. Zinc concentration was 0.5 mol/l and the content of Al precursor was 1 at% of Zn in the sol. The sol was spin-coated on glass substrate, and the coated films were annealed at 550ue for 2 hand were post-annealed at temperature ranges of $300{\sim}500^{\circ}C$ for 2 h in reducing atmosphere ($N_2/H_2$= 9/1). Structural, electrical and optical propertis of the fabricated AZO thin films were analyzed by XRD, FE-SEM, AFM, hall effect measurement system and UV-visible spectroscopy. Optical and electrical properties of AZO thin films prepared with aluminum nitrate as Al precursor were better than those of films prepared with aluminum chloride. The electrical resistivity and the optical transmittance of films decreased with increasing post-annealing temperatures. The minimum electrical resistivity of $2{\times}10^{-3}$ and the maximum optical transmittance of 91% were obtained for the AZO thin films post-annealed at $550^{\circ}C\;and\;300^{\circ}C$, respectively.
Kim, Jin-Seung;Byeon, Gyeong-Jae;Park, Hyeong-Won;Jo, Jung-Yeon;Lee, -Heon
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2011.05a
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pp.62.1-62.1
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2011
현재 상용화된 LED 또는 태양전지 등의 투명전극(TCO, transparent couducting oxide)재료로 높은 전기전도도와 광투과도를 갖는 ITO (Indium Tin Oxide)가 많이 채택되고 있다. 그러나 이에 사용되는 Indium의 단가가 높다는 문제점이 있어 이를 대체하기 위한 물질의 연구가 많이 이루어지고 있다. 특히 Aluminum을 doping한 ZnO (AZO)는 우수한 전기적, 광학적 특성 등으로 인해 ITO를 대체할 차세대 TCO 물질로 각광받고 있다. 본 연구에서는 sol-gel법을 및 direct patterning법을 이용하여 moth-eye 패턴을 포함하는 AZO 박막을 제작하였다. AZO sol을 제작하기 위하여 2-methoxyethanol, zinc acetate dihydrate 및 doping source로 aluminum nitrate nonahydrate를 사용하였다. 또한 광추출 향상 효과를 갖는 moth-eye 구조의 master stamp를 Polydimethyl siloxane(PDMS)를 이용하여 역상 moth-eye 구조의 mold를 복제하였으며, 이 복제된 mold와 제작된 AZO sol을 이용한 direct patterning법을 통해 나노급 moth-eye 구조를 갖는 AZO 투명전극층을 형성하였다. 제작된 moth-eye 구조를 갖는 AZO 투명전극층의 전기적 특성 평가를 위해, 4-point probe 측정 및 Hall measurement를 시행하였으며, 광학적 특성을 확인하기 위하여 UV-Visable spectrometer를 이용하여 투과도를 측정하였다. 본 연구를 통해 현재 상용화된 광전자 소자에 사용되고 있는 ITO 투명전극을 대체할 차세대 투명전극으로써 AZO 박막의 가능성을 확인하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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