Journal of the Korean Data and Information Science Society
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v.26
no.1
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pp.271-280
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2015
In this paper, the maximum likelihood estimators for parameters are derived under three step-stress accelerated life tests for Type-I hybrid censored data. The exponential distribution and the cumulative exposure model are considered based on the assumption that a log quadratic relationship exits between stress and the mean lifetime ${\theta}$. The test plan to search optimal stress change times minimizing the asymptotic variance of maximum likelihood estimators are presented. A numerical example to illustrate the proposed inferential procedures and some simulation results to investigate the sensitivity of the optimal stress change times by the guessed parameters are given.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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v.17
no.3
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pp.945-952
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2006
Several accelerated life test plans use tests at only two levels of stress and thus, have practical limitations. They highly depend upon the assumption of a linear relationship between stress and time-to-failure and use only two extreme stresses that can cause irrelevant failure modes. Thus 3-level stress plans are preferable. When the lifetime distribution of test unit is exponential with mean lifetime $\theta_i$ at stress $x_i$, i=0, 1, 2, 3, we derive the optimum quadratic plan under the assumption that a quadratic relationship exists between stress and log(mean lifetime), and propose the compound linear plans, as an alternative to the optimum quadratic plan. The proposed compound linear plan is better than two other compromise plans for constant stress testing and nearly as good as the optimum quadratic plan, and has the advantage of simplicity.
Journal of Korean Institute of Industrial Engineers
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v.20
no.1
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pp.39-51
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1994
Almost all accelerated life tests assume that no basic failure mechanism changes within the test stresses. But accelerated life test, considering failure mechanism changes, is needed since failure mechanism changes when accelerating beyond the used stress. This paper studies the analysis when the failure mechanism changes within the test stresses. The piecewise linear regression, which the join point of two lines is estimated, is applied In particular, two accelerated life tests, with and without a change in failure mechanism are examined.
Journal of the Korea Society of Computer and Information
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v.23
no.11
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pp.67-74
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2018
The verification for the design limit margin of the power device for the information communication and surveillance systems using HALT(Highly Accelerated Life Test) reliability test is described. The HALT reliability test performs with a step stress method which change condition until the marginal step in a design and development phase. The HALT test methods are the low temperature(cold) step stress test, the high temperature(hot) step stress test, the thermal shock cyclic stess test, and the high temperature destruct limit(hot DL) step stress test. The power device is checked the operating performance during the test. In this paper, the HALT was performed to find out the design limit margin of the power device.
International Journal of Reliability and Applications
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v.15
no.2
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pp.85-98
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2014
Accelerated life testing (ALT) is a well famous technique in life testing and reliability studies, this is particularly used to induce so high stress leading to failure of the highly reliable units quickly under stipulated duration of time. The step-stress ALT is one of the systematic experimental strategy of ALT applied to fail the units in steps. In this article we focus on two important issues (i) necessity of life tests at higher steps with relevant causes (ii) to develop a new optimum test plan for 3-step SSALT under the modified cumulative exposure model proposed by Khamis and Higgins (1998). It is assumed that the lifetime of test units follows Rayleigh distribution and its scale parameter at constant stress level is assumed to be a log-linear function of the stress. The maximum likelihood estimates of the parameters involved in the step-stress ALT model are obtained. A simulation study is performed for numerical investigation of the proposed new optimum plan 3-step, step-stress ALT. The necessity of the life test units at 3-step step-stress is also numerically examined in comparison to simple step-stress setup.
For the highly reliable products, an accelerated degradation test (ADT) is a useful tool which has been employed in industry to obtain reliability-related information within an affordable amount of time and cost. In an ADT, as all other reliability tests, it is important to carefully design the ADT beforehand to obtain estimates of the quantities of interest as precisely as possible. In this paper, optimal ADTs are developed assuming that the constant-stress loading method is employed and the degradation characteristic follows a Wiener process. Under the constraint that the total cost does not exceed a pre-specified budget, the stress levels, the number of test units allocated to each stress level and the number of measurement (termination time) are determined such that the asymptotic variance of the maximum likelihood estimator of the q-th quantile of the lifetime distribution at the use condition is minimized.
In this paper, we propose goodness of fit test statistics for exponentiality in accelerated life tests data based on KullbackLeibler information functions. This acceleration model is assumed to be a tampered random variable model. The procedure is applicable when the exponential parameter using the data from accelerated life tests is or is not specified under null hypothesis. And we compare the power of the proposed test statistics with KolmogorovSmirnov, Cramer von Mises and AndersonDarling statistics in the small sample.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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v.23
no.4
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pp.843-850
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2012
The inferences of data obtained from periodic inspection and type I censoring for the three step stress accelerated life test are studied in this paper. The failure rate function that a log-quadratic relation of stress and the tampered failure rate model are considered under the exponential distribution. The optimal stress change times which minimize the asymptotic variance of maximum likelihood estimators of parameters is determined and the maximum likelihood estimators of the model parameters are estimated. A numerical example will be given to illustrate the proposed inferential procedures.
In this study, we researched how to estimate life-stress relationship and acceleration factor through performing accelerated life test and analyzing it. The purpose of this study is to predict life of pneumatic cylinder within short time which is widely used in automation manufacturing line. In design of accelerated life test, we selected operating pressure and load that have the most influence on main failure mode of pneumatic cylinder as accelerated factor. We used two-way factorial design for arranging of test condition to accelerated factor and accelerated level.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Technology Engineers
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v.24
no.6
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pp.653-659
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2015
The aim of this study is to develop a technique for the accelerated life test of the capacitor in a propulsion control device of a traction inverter used for a high-speed train. Using this technique, the accelerated life test can possibly estimate the life cycle of a capacitor under various temperature conditions and irregularly applied voltage. The accelerated life test is conducted for the capacitor of the traction inverter. The common proceedings of this test are selection of failure mechanism, determination of accelerated stress, range determination of the accelerated stress, determination of the test condition, and distribution and determination of the sample. From this result, the continuous applied voltage was not considered for the acceleration factors anymore. Therefore, the final result having an acceleration factor of 9.4 (= 13,626/1,445) was observed. Furthermore, the life-shortening acceleration effect for the irregular applied voltage condition can be applied to various situations.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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