Seo, Seung-Kuk;Roh, Jae-Seung;Kim, Suk-Hwan;Chi, Se-Hwan;Kim, Eung-Seon
Carbon letters
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제12권1호
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pp.8-15
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2011
We study the relationships between the thermal emissivity of nuclear graphites (IG-110, PCEA, IG-430 and NBG-18) and their surface structural change by oxidation using scanning electron microscope and X-ray diffraction (XRD). The nonoxidized (0% weight loss) specimen had the surface covered with glassy materials and the 5% and 10% oxidized specimens, however, showed high roughness of the surface without glassy materials. During oxidation the binder materials were oxidized first and then graphitic filler particles were subsequently oxidized. The 002 interlayer spacings of the non-oxidized and the oxidized specimens were about $3.38{\sim}3.39{\AA}$. There was a slight change in crystallite size after oxidation compared to the nonoxidized specimens. It was difficult to find a relationship between the thermal emissivity and the structural parameters obtained from the XRD analysis.
The microstructures of rapidly solidified binary Ti-Al alloys containing $45{\sim}58\;at%Al$ have been studied using C/S (carbon/sulfur), N/O (nitrogen/oxygen) analyser, X-ray fluorescence spectrometer (XRF), X-ray diffractometer (XRD), optical microscope (OM) and scanning electron microscope (SEM). The phases present in the alloys and their distribution were found to be a sensitive function of Al content. Essentially single-phase (${\gamma}$) microstructures were observed to alloys with 45 at%Al, 55 at%Al and 58 at%Al. In other content alloys, two phase (${\alpha}_2$, ${\gamma}$) microstructures were observed. The 48 at%Al, 52 at%Al alloys contain (${\gamma}+{\alpha}_2$) phase and ${\alpha}_2$ phase. These results indicate that rapid solidification affect the solidification path, then metastable phase forming during solidification.
Diamond-like Carbon(DLC) films doping Si were deposited by linear ion source(LIS)-physical vapor deposition method on Si wafer. We have studied the effects of Si content on friction and wear properties of DLC films and the characteristics of the films were investigated using Nano-indentation, Micro raman spectroscopy, Field Emission-Scanning Electron Microscope (FM-SEM) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). The films has been various low-friction and low-stress by varying the flow rates of silane gas. Under the about 2% of Si doping is very suitable for improving the adhesion of films and reducing internal stress while maintaining the surfaces hardness of DLC films. Linear ion source (LIS)를 사용하여 Si wafer위에 Si 이온이 첨가된 DLC 박막을 증착하였다. 참가된Si 이온의 양에 따라 DLC 박막에 미치는 영향을 분석하기 위하여 마찰 계수 및 경도를 비교하였고, Micro raman spectroscopy, Field Emission-Scanning Electron Microscope (FM-SEM) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)를 통하여 표면 상태를 분석하였다. 천체 주입된 가스량의 약 2%까지 Si 이온 주입이 늘어날수록 DLC 박막의 마찰계수는 낮아졌고, 경도는 Si 이온이 주입되지 않았을 경우와 비슷한 값(약 20~23 GPa)을 가졌다. 2% 이상의 주입량에서는 마찰계수는 주입량이 늘어날수록 높아졌으며 경도는 떨어지는 경향을 보였다. 이는 Si이온이 2%이하로 첨가되었을 경우, DLC 박막의 생성시 탄소 이온들의 결합 Stress를 줄여 마찰계수가 줄어든다고 볼 수 있으며, 그 양이 2%이상이 되면 오히려 불순물로 작용하여 DLC 박막의 Stress는 급격히 증가하고 마찰계수도 높아짐을 알 수 있다.
몰리브덴(Molybdenum) 박막은 높은 전기전도성을 가진 금속으로 CIGS계 태양전지의 후면전극으로 많이 사용되고 있다. 스퍼터링법을 통해 증착되는 몰리브덴 박막의 경우, 전기 전도성 및 기판과의 밀착성은 스퍼터 전력 및 압력과 같은 공정 조건에 따라 변화된다. 본 연구에서는 DC 마그네트론 스퍼터링법을 이용하여 몰리브덴 박막을 Ar 가스 분위기에서 압력별로 증착하였다. SEM(scanning electron microscope), XRD(X-ray Diffraction), 4-point probe, 광반사율, Hall measurement를 이용하여 박막의 전기적, 구조적 특성을 분석하였다.
In this research, two thin film deposition techniques, Atomic Layer Deposition and Sputtering are carried out for the fabrication of Yittria Stabilized Zirconia electrolyte for thin film Solid Oxide Fuel Cell. Zirconium to Yittrium ratio for both cases is about 1/8. Scanning Electron Microscope(SEM) image shows that the growth rate per hour for Atomic Layer Deposition is faster than for sputtering. X-ray Photo-electron Spectroscopy(XPS) shows that the peaks of both Zirconia and Yittria shift towards higher bending energy for the case of Atomic Layer deposition and thus are more strongly attached to the substrate. Later, Nyquist plot was used to compare the conductivity of Yittria Stabilized Electrolyte for both cases. The conductivity at $300^{\circ}C$ for Atomic Layer Deposited Yittria Stabilized Zirconia is found to be $5{\times}10^{-4}S/cm$ while that for sputtered Yittria Stabilized Zirconia is $2{\times}10^{-5}S/cm$ at the same temperature. The reason for better performance for Atomic Layered YSZ is believed to be the Nano-structured layer fabrication that aids in along the plane conduction as compared to the columnarly structured Sputtered YSZ.
A large amount of papers about the cubic-to-tetragonal phase transition the ferroelectric domain structures of the BaTiO3 were already reported but there exist still some needs to observe the domain behaviors directly. In this study the domain structures of the tinned plates prepared from ta single crystal grown by the TSSG technique were observed using a polarizing microscope TE and X-ray topography. The spatial relation be-tween the orientation states of domains was investigated and the effects of external stresses and electric fields on the behaviors of ferroelectric and ferroelastic domains were studied. All the 90$^{\circ}$walls cut off in the crystal are the wedge shaped lamellar domains and all the straight boundaries in the observed domain patte군 can be interpreted as the head-to-tail 90$^{\circ}$walls. The irregular overlapped boundaries commonly observed by using a polarizing microscope and X-ray topography are complex combinations of well-known 90$^{\circ}$walls and are domain walls were predominant and were stabilized after surface polishing. In the paraelectric phase region the domain walls vanished but the residual surface strain patterns could be seen at the same positions of the stabilized 90$^{\circ}$a-a walls in the tetragonal phase region, These stabilized walls resulted from the surface strain had a memory effect in domain formation during the repeated phase transitions and could notr be affected by an external electtric field.
The microstructures and mechanical properties of Co-29Cr-6Mo alloy with C and N additions, produced by additive manufacturing using electron beam melting (EBM) method, were studied using X-ray diffraction, electron back scatter diffraction, transmission electron microscope, Vickers hardness tests, and tensile tests, focusing on the influences on the build direction and the various heat treatments after build. It is found that the microstructures for the as built specimens were changed from columnar to equiaxed grain structure with average grain size of approximately $10-20{\mu}m$ due to the heat treatment employing the reverse transformation from a lamellar (hcp + $Cr_2N$) phase to an fcc. Our results will contribute to the development of biomedical Ni-free Co-Cr-Mo-N-C alloys, produced by EBM method, with refined grain size and good mechanical properties, without requiring any hot workings.
The electrolyte effects of the electroplating solution in Cu films grown by ElectroPlating Deposition(EPD) were investigated. The electroplated Cu films were deposited on the Cu(20 nm)/Ti (20 nm)/p-type Si(100) substrate. Potentiostatic electrodeposition was carried out using three terminal methods: 1) an Ag/AgCl reference electrode, 2) a platinum plate as a counter electrode, and 3) a seed layer as a working electrode. In this study, we changed the concentration of a plating electrolyte that was composed of $CuSO_4$, $H_2SO_4$ and HCl. The resistivity was measured with a four-point probe and the material properties were investigated by using XRD(X-ray Diffraction), an AFM(Atomic Force Microscope), a FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope) and an XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy). From the results, we concluded that the increase of the concentration of electrolytes led to the increase of the film density and the decrease of the electrical resistivity of the electroplated Cu film.
We fabricated BiAlO thin film by a solution process with a brush coating to be used as liquid crystal (LC) alignment layer. Solution-processed BiAlO was coated on the glass substrate by brush process. Prepared thin films were annealed at different temperatures of 80℃, 180℃, and 280℃. To verify whether the BiAlO film was formed properly, X-ray photoelectron spectroscopy analysis was performed on Bi and Al. Using a crystal rotation method by polarized optical microscopy, LC alignment state was evaluated. At the annealing temperature of 280℃, the uniform homogenous LC alignment was achieved. To reveal the mechanism of LC alignment by brush coating, field emission scanning electron microscope was used. Through this analysis, spin-coated and brush coated film surface were compared. It was revealed that physical anisotropy was induced by brush coating at a high annealing temperature. Particles were aligned in one direction along which brush coating was made, resulting in a physical anisotropy that affects a uniform LC alignment. Therefore, it was confirmed that brush coating combined with BiAlO thin film annealed at high temperature has a significant potential for LC alignment.
In this study, microstructural characteristics and constituent elements of fiberglass splint and cast are examined using a scanning electron microscope and an energy dispersive X-ray spectrometer. As observed by the scanning electron microscope, fiberglass splint and cast had a porous structure with many bundles of fiberglass textures well assembled. Spaces between bundles of the fiberglass splint are triangular or elliptical shaped and the long-axis diameter is measured at about 1 mm. The thickness of fiber bundles covered with plaster is measured at 600 ㎛ and the diameter of a single strand of fiberglass is up to 10 ㎛. The thickness of the fiberglass bundle of the fiberglass splint is measured at about 700 ㎛. Spaces between bundles are formed in the shape of triangles with gentle edges and long-axis diameter of up to 1.4 mm, which is larger than that of the splint. The thickness of a single strand of fiberglass of the plaster-coated cast is 11.5 ㎛, which is thicker than that of fiberglass of the splint. As a result of analyzing constituent elements of the fiberglass cast and the splint with an energy dispersive X-ray spectrometer, Ca, Si, and Al components are identically detected. This result shows that the fiberglass cast has a smoother surface with hardened plaster than the fiberglass splint. The thickness of the fiberglass bundle and the thickness of a single strand of the fiberglass are also larger than those of the fiberglass splint.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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