• 제목/요약/키워드: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

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SURFACE CHARACTERIZATION OF CU ELECTRODES IN ELECTROCHEMICAL REDUCTION OF $CO_2$ BY CORE LEVEL X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY AND VALENCE LEVEL PHOTOELECTRON EMISSION MEASUREMENT

  • Terunuma, Y.;Saitoh, A.;Momose, Y.
    • 한국표면공학회지
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    • 제29권6호
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    • pp.728-734
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    • 1996
  • To obtain the relation in the electrochemical reduction of $CO_2$ in aqueous $KHCO_3$ colution between an activity for the product and the nature of Cu electrode, the electrode surface was characterized by using two methods: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and photoelectron emission (PE) measurement. Electrolyses were performed with Cu electrodes pretreated in several ways. The distribution of the products changed drastically with electrolysis time and the pretreatment method. The features in XPS spectra were closely connected with the product distribution. The oxide film at the electrode surface was gradually reduced to bare Cu metal with electrolysis time, resulting in a variation of the product distribution. PE was measured by verying the wavelength of incident light at several temperatures. The dependence of PE on the measurement temperature changed greatly before and after electrolysis.

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X-선 광전자 분광법 및 라더포드 후방산란법에 의한 개질된 고분자 시료의 표면분석 (Surface Analysis of Modified Polymer Samples by X-Ray Photoelectron Spectroscopy and Rutherford Backscattering Spectroscopy)

  • 박성우;김동환;김영만;박병선;한완수;서배석
    • 분석과학
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    • 제7권3호
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    • pp.301-313
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    • 1994
  • X-선 광전자분광법(XPS)과 라더포드 후방산란법(RBS)은 첨가제 분석, 화학구조 규명은 물론 시료 표면 원소의 정성 및 정량, 결합에너지 준위, 수직분포 분석을 통한 동일성 판정 등에 응용할 수 있다. $XeF_2$와 C-F plasma로 표면을 처리한 polyethylene, acrylonitrile butadien rubber, polypropylene, glass, fiber 및 paper를 XPS와 RBS로 분석한 결과 불소원자가 시료의 표면에 침투한 것을 확인할 수 있었으며, 표면 원소의 분포가 미처리된 시료의 표면원소 분포와 차이가 있었다.

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목련잎 추출액을 이용한 Au Core-Ag Shell 합금 나노입자의 생물학적 합성 (Biological Synthesis of Au Core-Ag Shell Bimetallic Nanoparticles Using Magnolia kobus Leaf Extract)

  • 송재용;김범수
    • Korean Chemical Engineering Research
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    • 제48권1호
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    • pp.98-102
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    • 2010
  • 목련잎 추출액을 이용하여 Au core-Ag shell 합금 나노입자를 합성하였다. 환원제인 식물잎 추출액을 먼저 $HAuCl_4$ 용액과 반응시키고 다음에 $AgNO_3$ 용액과 반응시켜 금 seed와 은 shell을 형성시켰다. 반응시간에 따른 UV-visible spectroscopy의 변화를 모니터링하여 합금 나노입자의 형성을 관찰하였다. 합성된 합금 나노입자를 transmission electron microscopy(TEM), energy dispersive X-ray spectroscopy(EDS), X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) 등으로 특성화 하였다. TEM image로부터 관찰된 합금 나노입자는 삼각형, 오각형, 육각형 등의 평판과 구 구조의 혼합물이었다. EDS와 XPS 분석으로부터 결정된 금/은 합금 나노입자의 원자 은 함량은 각각 34와 65 wt%로 Au core-Ag shell 나노구조가 형성되었음을 알 수 있었다. 이러한 core-shell 형태의 나노구조는 표면 강화 라만 분광 및 생물분자의 고감도 검출 등에 잠재적인 응용이 기대된다.

Interfacial electronic structures of metallic nanoparticles on bare- and functionalized-Au nanoisland templates, and on transition metal oxide supports

  • 손영구
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2011년도 제40회 동계학술대회 초록집
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    • pp.348-348
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    • 2011
  • We present the interfacial electronic structures of electrodeposited Cu and Fe on bare and 1,4-phenylene diisocyanide (PDI)-functionalized Au nanoisland templates (NITs), and Au and Ag nanoparticles on transition metal oxide supports. Our discussion is based on the depth-profiling X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and scanning electron microscopy (SEM).

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Plasma로 활성화된 질소 원자를 사용한 사파이어 기판 표면의 저온 질화처리의 XPS 연구 (XPS study of sapphire substrate surface nitridated by plasma activated nitrogen source)

  • 이지면;백종식;김경국;김동준;김효근;박성주
    • 한국진공학회지
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    • 제7권4호
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    • pp.320-327
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    • 1998
  • 원격 플라즈마 화학기상증착법(Remote Plasma Enhanced-Ultrahigh Vacuum Chemical Vapor Deposition)에 의해 활성화된 질소 원자를 사용하여 사파이어 기판의 표면 을 저온에서 질화처리한 후 표면의 화학적 조성을 조사하였다. 질화처리에 의해 주로 표면 에 형성된 물질은 AIN임을 X-선 광전자 분광방법(X-ray photoelectron spectroscopy:XPS) 을 사용하여 확인하였다. 또한 플라즈마의 RF 출력, 반응 온도 및 시간에 따라서 기판의 Al 과 반응한 질소의 상대적인 양과, 표면 형태를 XPS와 AFM(atomic force microscopy)을 사 용하여 조사하였다. 플라즈마에 의해서 질소는 RF출력에 따라 증가한 후 일정하게 됨을 관 찰하였다. 그러나 질화 처리 온도와 시간의 증가에 따른 AIN의 상대적인 양은 비교적 무관 함을 관찰하였다. 또한 Ar스퍼터링을 통한 XPS의 depth profile을 관찰한 결과 질화층은 깊 이에 따라 3개의 다른 층으로 이루어져 있음을 확인하였다.

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XPS 분석을 통한 CrMoN 코팅의 마찰마모 거동 연구 (Tribological Behavior Analysis of CrMoN Coating by XPS)

  • 양영환;여인웅;박상진;임대순;오윤석
    • 대한금속재료학회지
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    • 제50권8호
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    • pp.549-556
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    • 2012
  • The tribological behavior of CrMoN films with respect to surface chemistry was investigated by using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). All of the films were prepared from a hybrid PVD system consisting of DC unbalanced magnetron (UBM) sputtering and arc ion plating (AIP) sources. The tribological property of the films was evaluated by a friction coefficient using a Ball-on-disk type tribometer. The chemistry of wear track was analyzed by energy dispersive spectroscopy (EDS) and XPS. The friction coefficient was measured to be 0.4 for the CrMoN film, which is lower than that of a monolithic CrN film. EDS and XPS results imply the formation of an oxide layer on the coating surface, which was identified as molybdenum oxide phases, known to be a solid lubricant during the wear test.

산소 플라즈마 처리된 d-PMMA 박막의 표면특성 분석 (Surface Characterization of the d-PMMA Thin Films Treated by Oxygen Plasma)

  • 김성훈;최동진;이정수;최호석
    • 폴리머
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    • 제33권3호
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    • pp.263-267
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    • 2009
  • d-PMMA(deuterated poly(methyl methacrylate)) 박막 표면의 친수성을 향상시키기 위해 산소 플라즈마에 노출시켰다. 이 때 모든 조건은 동일하며, 플라즈마에 대한 노출 시간만을 0초에서 180초까지 변화를 주어 노출 시간에 대한 영향을 접촉각과 X-ray 반사율 장치, 중성자 반사율 장치, XPS(X-ray photoelectron spectroscopy)를 이용해 조사하였다. 노출 시간이 증가할수록 물 접촉각은 작아지며, 산소의 조성은 커짐을 확인함으로써 산소의 조성이 친수성 향상에 큰 영향을 미치는 것을 확인할 수 있었다. 또한, X-ray 반사율 장치를 이용해 얻은 에칭률을 통해서 d-PMMA 박막에 대한 산소 플라즈마의 노출 시간에 따른 물리적 특성을 연구하였으며, X-ray 반사율과 중성자 반사율, 그리고 XPS 측정 결과로부터 산소와 탄소의 조성뿐만 아니라 수소의 조성까지도 얻음으로써 플라즈마 처리된 박막의 화학적 성질을 보다 자세히 연구할 수 있었다.

고전압 방전 플라즈마에 의해 합성한 질화탄소 박막의 열처리 효과 (Effect of Annealing on Carbon Nitride Films Prepared by High Voltage Discharge Plasma)

  • 김종일
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제15권5호
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    • pp.455-459
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    • 2002
  • I have investigated the effects of annealing on a polymeric $\alpha-C_3N_{4.2}$ at high pressure and temperature in the presence of seeds of crystalline carbon nitride films prepared by a high voltage discharge plasma. The samples were evaluated by x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), infrared spectroscopy, Auger electron spectroscopy and x-ray diffraction(XRD). Notably, XPS studies of the film composition before and after annealing demonstrate that the nitrogen composition in $\alpha-C_3N_{4.2}$ material initially containing more than 58% nitrogen decreases during the annealing process and reaches a common, stable composition of ~43%. XPS analysis also shows that the nitrogen composition in the annealed films without polymeric $\alpha-C_3N_{4.2}$ was reduced from 35% to 17%. Furthermore the concentration of the sp$^3$bonded phase increased with the increment of the annealing temperature.

방사광을 이용한 표면분석 기술: XPS

  • 박용섭
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2012년도 제42회 동계 정기 학술대회 초록집
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    • pp.80-80
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    • 2012
  • 본 튜토리알에서는 표면 및 물질분석 기술로 널리 사용되고 있는 X-ray 광전자분광기술(X-ray Photoelectron Spectroscopy)의 원리와 광전자분광계를 구성하는 요소, 그리고 XPS를 이용하여 시료로부터 얻어낼 수 있는 정보가 무엇인지 등에 대해서 알아본다.

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