Spin-coated waterborne polyurethane to protect glass surface from environmental attacks was cured by using microwave heating. The effect of microwave heating on the reaction kinetics, chemical durability, and transmittance of polyurethane was investigated. In comparison to the conventional heating the results show that the microwave heating substantially accelerates the curing process of waterborne polyurethane and the total time for the completion of the reaction is only 1/7 of that in the conventional process. The microwave cured sample showed an excellent caustic resistance compared to conventional cured one. It means that microwave heating produces dense structure during curing process. The dense structure does not affect to the transmittance in the visible region.
Nickel oxide films were prepard by using the electron beam evaporation technique. Coloring and bleaching experiments for cyclic durability were repeated in KOH electrolyte by cyclic voltammetry. Visible spectrophtometry was used to assess the stability of the transmittance in the degraded films. X-ray photoelectron spectroscopy results showed that the grain surface are oxygen-rich compared to the grain interiors in a NiO film. Open circuit memory of colored films is about 400hours in lN KOH. The rate of self discharge was evaluated by measuring the transmittance at 550nm of a fully oxidized NiO film. The rate of self discharge was increased polynomially with time and the film is nearly bleached after about 400hours. It was also found that the degraded film by repeated cycles in the KOH solution changed the grain shape of film surface The film prepared under a vacuum pressure of $3\times10^{-4}$ mbar was found to be rather stable when subjected to the repeated coloring and bleaching cycles in KOH electrolyte. Band theory applied to explain the electrochromic mechanism was discussed.
한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
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pp.648-650
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2009
We investigate nematic liquid crystal (NLC) alignment on ion-beam exposed ZnO films. ZnO is optically transparent material in the visible range. We optimized the deposition parameters such as deposition temperature and gas ratio for high transmittance and resistivity. Using ion-beam treated ZnO films, LC cells are fabricated and the conditions such as exposure energy and time for uniform alignment are found. The NLC molecules align parallel to the ion-beam exposure direction. The electro-optic and response characteristics show the possibility of application of this method in liquid crystal display.
(F,Ga) co-doped ZnO thin film on glass substrate was fabricated via a simple non-alkoxide sol-gel spin-coating. Contrary to the F single doped ZnO thin film, the (F,Ga) co-doped thin film showed a significant reduce in electrical resistivity after a second post-heat-treatment in reducing environment. The resulting decrease in electrical resistivity with Ga co-doping is considered to be resulted from the increases both carrier density and mobility. The optical transmittance of the (F,Ga) co-doped thin film in the visible range showed higher transmittance with Ga co-doping compared with F single doped ZnO thin film.
We fabricated Zinc Oxide transparent conductive thin films with 2wt% of A1203 doping using rf magnetron sputtering. And we investigated electrical and optical characteristics of them which were made with conditions ; rf power 60-300W, thickness of film 3000 11000.angs.. Resistivity, carrier concentration and Hall mobility were investigated for electrical characteristics. Transmittance and optical band gap were investigated with Spectrophotometer in the wavelength range between 200-900 nm. As a result, ZnO thin film fabricated with rf power of 180W and thickness of 5000.angs. showed the best properties. At the best condition, the sample has resistivity of 1*10$\^$-4/.ohm.cm and transmittance of 95% in the visible range.
Transparent and conducting titanium doped indium oxide (TIO) thin films were deposited by RF magnetron sputtering on zinc oxide (ZnO)-coated glass substrates to investigate the effect of the ZnO buffer layer on optical and electrical properties of TIO/ZnO bi-layered films. TIO 90 nm / ZnO 10 nm films having a lower resistivity (3.09×10-3 Ωcm) and a higher visible transmittance (80.3%) than other TIO/ZnO films were prepared in this study. Figure of merit results indicate that a 10 nm thick ZnO thin film is an effective buffer layer that enhances optical transmittance and electrical conductivity of TIO films without intentional substrate heating or post-deposition annealing.
Tin doped indium oxide(ITO) films, which is widely used as a transparent conductor in optoelectronic devices such as solar cell, liquid crystal display, plasma display panel, thermal heater, and other sensors, were prepared by using the capacitively coupled DC magnetron sputtering method. The influence of the substrate temperature, working gas pressure and deposition time on the electrical, optical and morphological properties were investigated experimentally. ITO films with the optimum growth conditions showed resistivity of $2.36{\times}10^{-4}(\Omega}-cm$ and transmittance of 86.28% for a film 680nm thick in the wavelength range of the visible spectrum.
The ZnO:Al thin films were prepared on glass by Facing Target Sputtering (FTS) system. We investigated electrical, optical, and structural properties of AZO thin film with sputtering current $0.1[A]{\sim}0.6[A]$. We obtained the lowest resistivity $2.3{\times}10^{-4}[{\Omega}-cm]$ at sputtering current 0.6[A] from the 4-point probe and the strong (002) peak at sputtering current 0.3[A] from the X-ray Diffractometer (XRD ). The optical transmittance of AZO thin films show a very high transmittance of $80{\sim}95%$ in the visible range and exhibit the absorption edge of about 350nm.
Transparent amorphous In-Si-O (ISO)/Ag/In-Si-O (ISO) has been reported for low emissivity (low-e) applications. Effective Si doping into the $In_2O_3$ matrix led to a completely amorphous ISO film as well as a low resistivity and a high optical transmittance. The optical and electrical performances were examined by measuring transmittance with a UV-VIS spectrophotometer and resistivity with a Hall effect measurement. Consequently, low-e glass with ISO/Ag/ISO showed a high transparency in the visible region and low emissivity in the infrared region, indicating that ISO is a promising amorphous transparent electrode for low-e glass.
Highly transparent conducting aluminum-doped zinc oxide (AZO) thin films were deposited on Corning glass substrate using an Nd:YAG pulsed laser deposition technology. AZO thin films deposited with 650nm thickness showed the best electrical properties of the electrical resistivity of $4.6{\times}10^{-4}[{\Omega}{\cdot}cm]$, a carrier concentration of $9.3{\times}10^{20}[cm^{-3}]$, and a carrier mobility of $31[cm^2/V{\cdot}s]$. Besides, the optical transmittance spectra in visible region (200-800nm) of AZO thin films show an high average transmittance over 90%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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