Undoped InP epilayers with high purity were grown by using $In/PCl_3/H_2$ chloride vapor phase epitaxy. It was found that the growth of InP homoepitaxial layer is optimized at the growth temperature of $630^{\circ}C$ and at the $PCl_3$ molar fraction of $1.2\times10^{-2}$. The carrier concentration of InP epilayer was less than $10^{14} {cm}^{-3}$ from the low temperature (11K) photoluminescence measurement. Growth behavior of undoped InP current blocking layer on reactive ion-etched (RIE) mesas has been investigated for the realization of 1.55 $\mu \textrm m$buried-heterostructure laser diode (BH LD), using chloride vapor phase epitaxy. On the base of InP homoepitaxy, InP current blocking layers were grown at the growth temperatures ranging from $620^{\circ}C$ to $640^{\circ}C$. Almost planar grown surfaces without edge overgrowth were achieved as the growth temperature increased. It implied that higher temperature enhanced the surface diffusion of the growth species on the {111} B planes and suppressed edge overgrowth.
High indium incorporation was observed in InGaAs growth by precursor alternating metalorganic chemical vapor deposition (PAMOCVD). A possible mechanism of high indium incorporation into the crystal in PAMOCVD was proposed by considering the decomposition products of gallium and indium precursors, and thus the different adsorption behavior of the decomposed precursor molecules.
Park, Ji-Hoon;Choi, Jeong-M.;Lee, Kwang-H.;Mun, Sung-Jin;Ko, G.;Im, Seong-Il
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2009.10a
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pp.871-873
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2009
We report on the growth of rubrene ($C_{42}H_{28}$) wire fabricated by thermal evaporation, followed by solvent-vapor annealing for the application of organic thin film transistor. Solvent-vapor annealing was carried out in precisely controlled vapor pressure at elevated temperature. Micro-sized, and elongated rubrene wire was obtained via solvent annealing process reproducibly. Optical image and XRD data shows highly crystalline quality of rubrene wire.
Recently, considerable progress and many breakthroughs have been achieved in the growth of two-dimensional materials, especially transition metal dichalcogenides (TMDCs), which attract significant attention owing to their unique properties originating from their atomically thin layered structure. Chemical vapor deposition (CVD) has shown great promise to fabricate large-scale and high-quality TMDC films with exceptional electronic and optical properties. However, the scalable growth of high-quality TMDCs by CVD is yet to meet industrial criteria. Therefore, growth mechanisms should be unveiled for a deeper understanding and further improvement of growth methods are required. This review summarizes the recent progress in the growth methods of TMDCs through CVD and other modified approaches to gain insights into the growth of large-scale and high-quality TMDCs.
We present the epitaxial growth of high-quality ZnO layers by chemical vapor transport (CVT) technique on (01-12) sapphire with a ZnO buffer layer growth by metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD). The surface of the grown ZnO epitaxial layers has atomically flats and the RMS is 0.11 nm. PL spectrum of as-grown samples exhibits two emissions originated by interactions between photon and free excitons.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.11
no.10
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pp.809-814
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1998
In this study, the metastable state diamond thin films have been deposited on Si substrates from methand-hydrogen and oxygen mixture usin gMicrowave Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (MWPCVD) method. effects experimental parameters MWPCVD including methan concentrations, oxygen additions, operating pressure, deposition time on the growth rate and crystallinity were investigated. diamond thin film was synthesized under the following conditions: methane concentration of 0.5%(0.5sccm)∼5%(5sccm). oxygen concentration of 0∼80%(2.4sccm). operating pressure of 30Torr∼ 70Torr, deposition time of 1∼32hr. SEM, WRD, and Raman spectroscopy were employed to analyse the growth rate and morphology, crystallinity and prefered growth direction, and relative amounts of diamond and non=diamond phases respectively.
We report the chemical vapor deposition growth characteristics of graphene on various catalytic metal substrates such as Ni, Fe, Ag, Au, and Pt. 50-nm-thick metal films were deposited on $SiO_2/Si$ substrates using dc magnetron sputtering. Graphene was synthesized on the metal/$SiO_2$/Si substrates with $CH_4$ gas (1 SCCM) diluted in mixed gases of 10% $H_2$ and 90 % Ar (99 SCCM) using inductively-coupled plasma chemical vapor deposition (ICP-CVD). The highest quality of graphene film was achieved on Ni and Fe substrates at $900^{\circ}C$ and 500 W of ICP power. Ni substrate seemed to be the best catalytic material among the tested materials for graphene growth because it required the lowest growth temperature ($600^{\circ}C$) as well as showing a low ICP power of 200W. Graphene films were successfully grown on Ag, Au, and Pt substrates as well. Graphene was formed on Pt substrate within 2 sec, while graphene film was achieved on Ni substrate over a period of 5 min of growth. These results can be understood as showing the direct CVD growth of graphene with a highly efficient catalytic reaction on the Pt surface.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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v.34
no.9
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pp.355-360
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1985
In this paper, the discharge phenomena of high frequency glow discharge in organic vapor are basically investigted to establish the growth mechanism and preparation technique for organic thin film. According to the increasing of discharge frequency, the discharge firing voltage(Vs) of organic vapor decreases. The dependence of discharge voltage(Vd) on gas pressure is generally in accord with Paschen's Law and Vd decreases as gas flow rate become larger, but increases as dischange current density become higher. And the values of Vd in organic vapor are generally higher than those of inorganic gas.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.16
no.6
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pp.256-259
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2006
The amorphous $SiO_x$ nanowires were synthesized by the vapor phase epitaxy (VPE) method. $SiO_x$ nanowires were formed on silicon wafer of temperatures ranged from $800{\sim}1100^{\circ}C$ and nickel thin film was used as a catalyst for the growth of nanowires. A vapor-liquid-solid (VLS) mechanism is responsible for the catalyst-assisted amorphous $SiO_x$ nanowires synthesis in this experiment. The SEM images showed cotton-like nanostructure of free standing $SiO_x$ nanowires with the length of more than about $10{\mu}m$. The $SiO_x$ nanowires were confirmed amorphous structure by TEM analysis and EDX spectrum reveals that the nanowires consist of Si and O.
Hahm, Myung-Gwan;Hashim, Daniel P.;Vajtai, Robert;Ajayan, Pulickel M.
Carbon letters
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v.12
no.4
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pp.185-193
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2011
Carbon nanotubes (CNTs) have developed into one of the most competitively researched nano-materials of this decade because of their structural uniqueness and excellent physical properties such as nanoscale one dimensionality, high aspect ratio, high mechanical strength, thermal conductivity and excellent electrical conductivity. Mass production and structure control of CNTs are key factors for a feasible CNT industry. Water and ethanol vapor enhance the catalytic activity for massive growth of vertically aligned CNTs. A shower system for gas flow improves the growth of vertically aligned single walled CNTs (SWCNTs) by controlling the gas flow direction. Delivery of gases from the top of the nanotubes enables direct and precise supply of carbon source and water vapor to the catalysts. High quality vertically aligned SWCNTs synthesized using plasma enhance the chemical vapor deposition technique on substrate with suitable metal catalyst particles. This review provides an introduction to the concept of the growth of vertically aligned SWCNTs and covers advanced topics on the controlled synthesis of vertically aligned SWCNTs.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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