• Journal of Information Processing Systems
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• 제4권4호
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• pp.121-132
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• 2008

VLSI chips have been tested using various automatic test equipment (ATE). Although each ATE has a similar structure, the language for ATE is proprietary and it is not easy to convert a test program for use among different ATE vendors. To address this difficulty we propose a tester structure expression language, a tester language with a novel format. The developed language is called the general tester language (GTL). Developing an interpreter for each tester, the GTL program can be directly applied to the ATE without conversion. It is also possible to select a cost-effective ATE from the test program, because the program expresses the required ATE resources, such as pin counts, measurement accuracy, and memory capacity. We describe the prototype environment for the GTL and the tester selection tool. The software size of the prototype is approximately 27,800 steps and 15 manmonths were required. Using the tester selection tool, the number of man-hours required in order to select an ATE could be reduced to 1/10. A GTL program was successfully executed on actual ATE.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제43권2호
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• pp.96-104
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• 2006

본 논문에서는 VLSI구현을 위한 CAN 프로토콜 컨트롤러의 최적화된 구조를 제안하였으며, 제안된 구조를 이용하여 VLSI로 구현하였다. 또한 많은 시간이 소요되는 검증의 문제점을 보완하기 위하여 3단계 검증기법을 제안하였으며 이를 통하여 빠른 속도의 검증이 가능하게 되었다. 제안된 구조는 기존의 CAN 프로토콜 컨트롤러보다 적은 사이즈의 게이트 수를 갖고 있을 뿐만 아니라 호스트 프로세서와의 연결이 용이하게 구성되어 있기 때문에 비용 및 효율성에서 장점을 갖고 있고, 제안된 3단계 검증기법은 반복되는 검증의 수를 줄임으로써 최적화된 검증을 수행하도록 구성되어 있기 때문에 빠른 속도의 검증이 가능하다. 설계된 CAN 프로토콜 컨트롤러는 0.35마이크론 CMOS공정을 이용하여 제작되었다.