• The Magazine of the IEIE
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• v.25 no.11
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• pp.61-72
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• 1998

• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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• v.22 no.10
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• pp.2123-2135
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• 1997

In this paepr, we consider resistive shorts on drain-source, drain-gate, and gate-source as well as opens in MOSFETs included in typical memory cell of VLSI SRAM. Behavior of memeory is observed by analyzing voltage at storage nodes of memeory and IDDQ(quiescent power supply current) through PSPICE simulation. Using this behavioral analysis, an effective testing algorithm of complexity O(N) which can be applied to both functional testing and IDDQ testing simultaeously is proposed. Built-In Self Test(BIST) circuit which detects faults in memories and Built-In Current Sensor(BICS) which monitors the power supply bus for abnormalities in quescent current are developed and imprlemented to improve the quality and efficiency of testing. Implemented BIST and BICS circuits can detect locations of faults and defects in order to repair faulty memories.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.39 no.7
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• pp.74-80
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• 2002

VLSI intergrated circuits like SOC(system on chip) often require a multi-clock design style for functional or performance reasons. The problems of the clock domain transition due to clock skew and clock ordering within a test cycle may result in wrong results. This paper describes a new BIST(Built-in Self Test) architecture for multi-clock systems. In the new scheme, a clock skew is eliminated by a multi-capture. Therfore, it is possible to perform at-speed test for both clock inter-domain and clock intra-domain.

• Proceedings of the Korean Institute of Intelligent Systems Conference
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• 1996.10a
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• pp.106-110
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• 1996

고밀도 집적회로(VLSI)의 설계 과정에 있어 테스트(test)는 매우 중요한 과정으로서, 회로내의 결함(fault)을 찾기 위해 일련의 입력값을 넣어 그 출력값으로 고장 여부를 판단한다. 회로의 테스트를 위하여 사용되는 일련의 입력값을 테스트패턴(test pattern)이라 하며 최고 2n개의 테스트패턴이 생성될 수 있다. 그러므로 얼마나 작은 테스트패턴을 사용하여 회로의 결함 여부를 판단하느냐가 주된 관점이 된다. 기존의 테스트 패턴 생성 알고리즘인 휴리스틱(heuristic)조건에서 가장 큰 문제점은 빈번히 발생하는 백트랙(backtrack)과 이로 인한 시간과 기억장소의 낭비이다. 본 논문에서는 이러한 문제점을 보완하기 위해 퍼지 기법을 이용한 새로운 알고리즘을 제안한다. 제안된 기법에서는 고장신호 전파과정에서 여러개의 전파경로가 존재할 때, 가장 효율적인 경로를 선택하는 단계에서 퍼지 관계곱(Fuzzy Relational Product)을 이용한다. 이 퍼지 기법은 백트랙 수를 줄이고 기억장소와 시간의 낭비를 줄여 테스트 패턴 생성의 효율을 증가시킨다.

• Journal of KIISE:Computer Systems and Theory
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• v.34 no.8
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• pp.377-384
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• 2007

With the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories is rapidly growing. In this paper, We proposed a reallocation algorithm for faulty memory part to efficient reallocation with row and column redundant memory. Reallocation information obtained from faulty memory by only every test. Time overhead problem occurs geting reallocation information as every test. To its avoid, one test resulted from reallocation information can save to flash memory. In this paper, reallocation information increases efficiency using flash memory.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.41 no.5
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• pp.81-90
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• 2004

This paper presents new testability measure based on learning, which can be useful in the deterministic process of test pattern generation algorithms. This testability measure uses the structural information that are obtained by teaming. The proposed testability measure searches for test pattern that can early detect the conflict in case of the hardest decision problems. On the other hand in case of the easiest decision problem, it searches for test pattern that likely results in the least conflict. The proposed testability measure reduces CPU time to generate test pattern that accomplishes the same fault coverage as that of the distance-based measure.

• Journal of the Korea Society of Computer and Information
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• v.6 no.1
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• pp.7-13
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• 2001

As the density of VLSI increases, the conventional logic testing is not sufficient to completely detect the new faults generated in design and fabrication processing. Recently. IDDQ testing becomes very attractive since it can overcome the limitations of logic testing. This paper presents a new BIC for the internal current test in CMOS logic circuit. Our circuit is composed of Magnetoresistive current sensor, level shifter, comparator, reference voltage circuit and a circuit be IDDQ tested as a kind of self-testing fashion by using the proposed BIC.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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• v.35C no.3
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• pp.1-15
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• 1998

In this paper, we propose a partial scan test method which can be applied to large VLSI designs. In this method, it is not necessary to hold neither scanned nor unscanned flip-flops during scan in, test application,or scan out. This test method requires almost identical design for testability modification and test wave form when compared to the full scan test method, and the method is applicable to large VLSI chips. The well known FAN algorithm has been modified to devise to sequential ATPG algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial scan algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial algorithm determined a maximal set of flip-flops which gives high fault coverage when they are unselected. The experimental resutls show that the proposed method allow as large as 20% flip-flops to remain unscanned without much decrease in the full scan fault coverage.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2004.11a
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• pp.129-132
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• 2004

공간 색인구조는 공간 데이터를 효율적으로 관리하기 위한 도구로써, GIS와 같은 공간 데이터베이스의 성능을 결정하는 중요한 요소라 하겠다. 대부분의 응용분야에서 공간 데이터베이스는 보조기억장치에 저장된 방대한 양의 공간데이터 처리를 요구하므로 디스크 접근의 수를 줄이는 것이 전체 데이터베이스의 성능을 향상시키는데 중요한 요소이다. 이 논문에서는 SMR-tree라는 공간색인구조의 여러 응용분야에서 활용 가능성을 기존의 색인구조들과의 비교를 통해 확인한다. SMR-tree는 R-tree 계열의 구조로써 기존의 R-tree계열의 구조들과 동일한 노드의 형태를 가지고 있으나, 여러 개의 data space를 사용하여 data object를 배분함으로써 $R^{+}-tree$의 말단노드 내에 존재하는 잉여공간을 제거하면서 R-tree의 단점인 색인노드들 사이에 중첩을 허용치 않는다. SMR-tree의 성능은 여러 종류의 테스트 데이터(VLSI layout data, Tiger/Line file data)를 사용하여 R-tree, $R^{+}-tree,\;R^{\ast}-tree$와 비교된다. SMR-tree는 높은 공간 활용도와 다른 색인구조에 비해 빠른 질의 성능을 보임으로써 GIS와 같은 공간 데이터베이스를 위한 효율적인 색인구조로 사용이 될 것으로 기대된다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2002.11a
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• pp.433-436
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• 2002

VLSI 칩 설계는 매우 복잡한 공정이기 때문에 여러 단계, 즉 크게 분류하여 구조 설계, 논리 설계, 물리 설계 등의 과정을 거쳐 완성하게 된다. 그리고 각 단계에서는 그 단계에서 사용될 수 있는 소프트웨어의 도움을 받게 되며, 이런 소프트웨어의 도움 없이는 오늘날의 고밀도 칩 설계는 불가능하다. 각 단계에서 사용되는 소프트웨어의 주요한 기능 중 하나가 시뮬레이션 등을 통한 설계의 적합성을 테스트하는 것이라면 또 다른 주요한 기능은 설계자로 하여금 눈으로 확인하며, 변형된 설계의 일부를 눈으로 볼 수 있도록 보여주는 기능이라고 볼 수 있다. 논 본문에서는 칩 설계에서 가장 복잡한 단계라고 볼 수 있는 물리 설계 과정에 사용될 수 있는 Viewer를 설계하고 구현하여 제안한 Viewer를 통하여 회로의 정보를 보여 주며, 또한 상이한 레이아웃을 비교할 수 있도록 도와 준다. 설계된 Viewer 는 비록 초기버전이지만 물리 설계 단계에서 매우 중요한 정보, 예를 들어 critical net, 상이한 배치 등을 눈으로 확인하게 도와줌으로써 물리 설계에 관계된 다른 소프트웨어의 성능 개선을 유도할 수 있으며 또 실제 칩 설계 현장에서 바로 사용될 수 있기 때문에 실용성이 매우 높다.