Journal of the Korean Society of Clothing and Textiles
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v.25
no.8
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pp.1493-1499
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2001
This paper investigated the dyeabiltiy and surface color of Han Jee dyed with Gardenia extract after mordanted with mordants under the various dyeing conditions. The results obtained were as follows 1) λmax of the dyeing Han Jee dyed with Gardenia appeared at 660 and 710nm. 2)K/s value of dyeing Han Jee was increased when dyeing condition, temperature, time was higher. 3) Surface color of Han Jee with mordants changed differently according to the mordants used : 3.2Y by Aluminum acetate, 2.0GY by Copper sulfate, 9.5YR by Iron sulfate. 3.4Y by Tin chloride, and 4.5Y by non-mordanting.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.06a
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pp.444-445
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2007
Aluminum-doped zinc oxide (AZO) films are attractive materials as transparent conductive electrode because they are inexpensive, nontoxic and abundant element compared with indium tin oxide (ITO). AZO films have been deposited on glass (coming 1737) substrates by RF magnetron sputtering system. An ultrathin layer of nickel oxide (NiO) was deposited on the AZO anode to enhance the hole injections in organic light-emitting diodes (OLED). The current density-voltage and luminescence-voltage properties of devices were studied and compared with ITO device.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.16
no.2
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pp.113-119
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2003
We report the electrical properties of copper(II)-phthalocyanine(Cu-Pc) as a hole injaction layer in organic light-emitting diode (OLED). OLEDs were constructed by the following material structure : indium tin oxaide (ITO)/ CuPc/ triphenyl-diamine (TPD)/ tris-(8-hydroxyquinoline)aluminum (Alq3)/4-(Dicyanomethlene)-2-methyl-6-(4-dimethylaminostyryl)-4H-pyran (DCM)/ Al. we observed that the change of recombination zone by using a DCM detection thin layer (6 ${\AA}$) in a Alq$_3$ emitting layer. layer. Recombination zone was moved toward the cathode as the hole mobility increased due to the heat-treatment temperature of cupc layer increased.
Among nondestructive damage detection methods, impedance-based methods have been recognized as an effective technique for damage identification in many kinds of structures. This paper proposes a method to detect cracks in metal structures by combining electro-mechanical impedance (EMI) responses and artificial neural networks (ANN). Firstly, the theories of EMI responses and impedance-based damage detection methods are described. Secondly, the reliability of numerical simulations for impedance responses is demonstrated by comparing to pre-published results for an aluminum beam. Thirdly, the proposed method is used to detect cracks in the beam. The RMSD (root mean square deviation) index is used to alarm the occurrence of the cracks, and the multi-layer perceptron (MLP) ANN is employed to identify the location and size of the cracks. The selection of the effective frequency range is also investigated. The analysis results reveal that the proposed method accurately detects the cracks' occurrence, location, and size in metal structures.
Kim, Gyeong-Taek;Mun, Yeon-Geon;Kim, Ung-Seon;Sin, Sae-Yeong;Park, Jong-Wan
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.08a
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pp.104-104
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2010
현재 디스플레이 시장은 급변하게 변화하고 있다. 특히, 비정질 실리콘의 경우 디스플레이의 채널층으로 주로 상용화되어 왔다. 비정질 실리콘 기반의 박막 트랜지스터는 제작의 경제성 및 균일성을 가지고 있어서 널리 상용화되고 있다. 하지만 비정질 실리콘의 경우 낮은 전자 이동도(< $1\;cm^2/Vs$)로 인하여 디스플레이의 대면적화에 부적합하며, 광학적으로 불투명한 특성을 갖기 때문에 차세대 디스플레이의 응용에 불리한 점이 있다. 이런 문제점의 대안으로 현재 국내외 여러 연구 그룹에서 산화물 기반의 반도체를 박막 트랜지스터의 채널층으로 사용하려는 연구가 진행중이다. 산화물 기반의 반도체는 밴드갭이 넓어서 광학적으로 투명하고, 상온에서 증착이 가능하며, 비정질 실리콘에 비해 월등히 우수한 이동도를 가짐으로 디스플레이의 대면적화에 유리하다. 특히 Zinc Oxide, Tin Oxide, Titanum Oxide등의 산화물이 연구되고 있으며, indium이나 aluminum등을 첨가하여 전기적인 특성을 향상시키려는 노력을 보이고 있다. Tin oxide의 경우 천연적으로 풍부한 자원이며, 낮은 가격이 큰 이점으로 작용을 한다. 또한, $SnO_2$의 경우 ITO나 ZnO 열적으로 화학적 과정에서 더 안정하다고 알려져 있다. 본 연구에서는 $SnO_2$ 기반의 박막 트랜지스터를 DC magnetron sputtering를 이용하여 상온에서 제작을 하였다. 일반적으로, $SnO_2$의 경우 증착 과정에서 산소 분압 조절과 oxygen vacancy 조절를 통하여 박막의 전도성을 조절할 수 있다. 이렇게 제작된 $SnO_2$의 박막을 High-resolution X-ray diffractometer, photoluminescence spectra, Hall effect measurement를 이용하여 전기적 및 광학적 특성을 알 수 있다. 그리고 후열처리 통하여 박막의 전기적 특성 변화를 확인하였다. gate insulator의 처리를 통하여 thin film의 interface의 trap density를 감소시킴으로써 소자의 성능 향상을 시도하였다. 그리고 semiconductor analyzer로 소자의 출력 특성 및 전이 특성을 평가하였다. 그리고 Temperature, Bias Temperature stability, 경시변화 등의 다양한 조건에서의 안정성을 평가하여 안정성이 확보된다면 비정질 실리콘을 대체할 유력한 후보 중의 하나가 될 것이라고 기대된다.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.15
no.4
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pp.59-64
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2008
In this paper, white polymer light emitting diodes(WPLEDs) were fabricated and investigated the electrical and optical properties for the prepared devices. ITO(indium tin oxide) and PEDOT:PSS [poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrene sulfolnate)] as anode and hole injection materials, PFO [poly(9,9-dioctylfluorene)] and MEH-PPV [poly(2-methoxy-5(2-ethylhe xoxy)-1,4-phenylenevinyle)] were used as the light emitting host and guest materials, respectively. The LiF(lithium flouride) and Al(aluminum) were used electron injection materials and cathode materials. Finally, the WPLED with structure of ITO/PEDOT:PSS/PFO:MEH-PPV/LiF/Al was fabricated. The prepared WPLED showed white emission with CIE coordinates of (x=0.36, y=0.35) at the applied voltage of 9V. The maximum current density and luminance were about $740mA/cm^2\;and\;900cd/m^2$ at 13V, respectively. And the maximum current efficiency was 0.37 cd/A at $200cd/m^2$ in luminance.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.9
no.1
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pp.9-13
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2002
Recently, Organic electroluminescent devices (OELDs) have been demonstrated the medium sized full color display with effective multi-layer thin films. In this study, the multi-layer OELDs were prepared on the patterened ITO (indium tin oxide)/glass substrates by the vacuum thermal evaporation method. The low molecule compounds such as $Alq_3$(trim-(8-hydroxyquinoline)aluminum) and CTM (carrier transfer material) as the electron transport and injection layers as well as TPD (triphenyl-diamine) and CuPc (copper phthalocyanine) as the hole transport and injection layers were used. The luminance was rapidly increased above the threshold voltage of 10 V. The luminance and emission spectrum for the OELDs samples with $A1/CTM/Alq_3$/TPD/1TO structures were found to be 430 cd/$m^2$and 512 nm at 17 V showing green color emission. In contrast, the samples with $Li-A1/Alq_3$/TPD/CuPC/1TO multi-structures showed 508 nm in emission spectrum and 650 cd/$m^2$at 17 V in the luminance. The increment of luminance may be ascribed to the improved efficiency of recombination in the region of the emission layers by the deposition of CuPc as hole injection layer and the low work function of the Li-Al electrode compared to the Al electrode.
Kim, Yong-Ho;Yoo, Hyo-Sang;Na, Sang-Su;Son, Hyeon-Taek
Journal of Powder Materials
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v.27
no.2
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pp.139-145
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2020
The powder manufacturing process using the gas atomizer process is easy for mass production, has a fine powder particle size, and has excellent mechanical properties compared to the existing casting process, so it can be applied to various industries such as automobiles, electronic devices, aviation, and 3D printers. In this study, a modified A4032-xSn (x = 0, 1, 3, 5, and 10 wt.%) alloy with low melting point properties is investigated. After maintaining an argon (Ar) gas atmosphere, the main crucible is tilted; containing molten metal at 1,000℃ by melting the master alloy at a high frequency, and Ar gas is sprayed at 10 bar gas pressure after the molten metal inflow to the tundish crucible, which is maintained at 800℃. The manufactured powder is measured using a particle size analyzer, and FESEM is used to observe the shape and surface of the alloy powder. DSC is performed to investigate the change in shape, according to the melting point and temperature change. The microstructure of added tin (Sn) was observed by heat treatment at 575℃ for 10 min. As the content of Sn increased, the volume fraction increased to 1.1, 3.1, 6.4, and 10.9%.
Self assembled monolayers (SAM) are generally used at the anode/organic interface to enhance the carrier injection in organic light emitting devices, which improves the electroluminescence performance of organic devices. This paper reports the use of SAM of 1-decanethiol (H-S(CH2)9CH3) at the cathode/organic interface to enhance the electron injection process for organic light emitting devices. Aluminum (Al), tris-(8-hydroxyquionoline) aluminum (Alq3), N,N'-diphenyl-N,N'-bis(3 -methylphenyl)-1,1'- diphenyl-4,4'-diamine (TPD) and indium-tin-oxide (ITO) were used as bottom cathode, an emitting layer (EML), a hole-transporting layer (HTL) and a top anode, respectively. The results of the capacitancevoltage (C-V), current density -voltage (J-V) and brightness-voltage (B-V), luminance and quantum efficiency measurements show a considerable improvement of the device performance. The dipole moment associated with the SAM layer decreases the electron schottky barrier between the Al and the organic interface, which enhances the electron injection into the organic layer from Al cathode and a considerable improvement of the device performance is observed. The turn-on voltage of the fabricated device with SAM layer was reduced by 6V, the brightness of the device was increased by 5 times and the external quantum efficiency is increased by 0.051%.
Active thin films are ubiquitous in the manufacture of all forms of flat panel display (FPD). One of the most widely employed thin films is indium tin oxide (ITO) and metal films used electrically conductive materials in display industries. ITO is widely used for fabrication of LCD, OLED device, and many kinds of optical applications because of transparency in visible range and its high conductivity and metal films are also widely employed as electrodes in various electric and display industries. It is important that removing specific area of layer, such as ITO or metal film on substrate, to fabricate and repair electrode in display industries. In this work, we demonstrate efficient selective ablation process to ITO and aluminum film on glass using a femtosecond laser (${\lambda}p=1025nm$) respectively. The femtosecond laser with wavelength of 1025nm, pulse duration of 400fs, and the repetition rate of 100kHz was used for selectively removing ITO and Al on glass in the air. We can successfully remove the ITO and Al films with various pulse energies using a femtosecond laser.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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