Effects of thin-film thickness on device instability of amorphous InGaZnO junctionless transistors (박막의 두께가 비정질 InGaZnO 무접합 트랜지스터의 소자 불안정성에 미치는 영향)
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- Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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- v.21 no.9
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- pp.1627-1634
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- 2017