• 제목/요약/키워드: TEM microstructure

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Microstructure of Titania Layers Formed by Plasma Electrolytic Oxidation (PEO) Method

  • Ok, Myoung-Ryul;Kim, Ji Hye;Kang, Eun Young;Hong, Kyung Tae
    • Corrosion Science and Technology
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    • 제5권6호
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    • pp.213-217
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    • 2006
  • Titania coatings were prepared on commercially pure Ti by plasma electrolytic oxidation (PEO) method with various electrolytes and process condition. Coatings were formed under galvanostatic condition with several current density values, and the change of applied voltage with process time was recorded. The microstructure of the titania coatings was observed using XRD, SEM, TEM, and the time-voltage diagrams were analyzed in terms of microstructure evolution.

Negative bias voltage effect에 따른 Cr-Si-N 박막의 미세구조에 대한 연구 (Influence of negative bias voltage on the microstructure of Cr-Si-N films deposited by a hybrid system of AIP plus MS)

  • 신정호;김광호
    • 한국표면공학회:학술대회논문집
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    • 한국표면공학회 2009년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.130-131
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    • 2009
  • AIP(arc ion plating)방법과 마그네슘 스퍼터링(DC reactive magnetron sputtering) 방법을 결합시킨 하이브리드 코팅 시스템으로 Cr-Si-N 코팅막을 합성하였다. 고분해능 TEM 및 SEM 분석들로부터 negative bias voltage에 따른 미세구조의 영향을 나타내었다. negative bias voltage의 증가에 따라 columnar microstructure가 amorphous microstructure로 변화하였다. bias voltage effect에 의해 Cr-Si-N 코팅막내 입자의 크기가 미세해지고 나노 복합체를 잘 형성하였다.

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급속응고된 Al-8wt%Fe 합금의 미세조직 및 고온강도 (Microstructure and High Temperature Strength of Rapidly Solidified Al-8wt%Fe Alloy)

  • 최병준
    • 한국분말재료학회지
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    • 제5권3호
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    • pp.192-198
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    • 1998
  • Microstructure and mechanical properties were examined on rapidly solidified Al-8wt%Fe alloy. High temperature strength test was also undertaken, and it is shown that the refinement in microstructure resulting from extremely rapid cooling rates gives rise to improved high temperature strength, but the elongation to fracture of this material decreases with increasing temperature, particularly in the temperature range up to 30$0^{\circ}C$. Specimens heat-treated for 100 hrs were analyzed with TEM micrographs to understand the thermal stability of this material.

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Transmission Electron Microscopy Specimen Preparation of Delicate Materials Using Tripod Polisher

  • Cha, Hyun-Woo;Kang, Min-Chul;Shin, Keesam;Yang, Cheol-Woong
    • Applied Microscopy
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    • 제46권2호
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    • pp.110-115
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    • 2016
  • Transmission electron microscopy (TEM) is a powerful tool for analyzing a broad range of materials and provides localized information about the microstructure. However, the analysis results are strongly influenced by the quality of the thin foil specimen. Sample preparation for TEM analysis requires considerable skill, especially when the area of interest is small or the material of interest is difficult to thin because of its high hardness and its mechanical instability when thinned. This article selectively reviews recent advances in TEM sample preparation techniques using a tripod polisher. In particular, it introduces two typical types (fl at type and wedge type) of TEM sample preparation and the benefits and drawbacks of each method; finally, a method of making better samples for TEM analysis is suggested.

광학현미경 가열실험대를 이용한 알바이트의 등온가열 실험 연구 (Annealing Experiments of Albite Using Optical Microscope Heating Stage)

  • 박병규;김용준;김윤중
    • 한국광물학회지
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    • 제18권4호통권46호
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    • pp.289-299
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    • 2005
  • 알바이트 분말시료, 박편시료, TEM 시편용 시료를 이용하여 광학현미경 상에서 등온가열 실험을 수행하였다. 시료의 방향성은 광학현미경 및 XRD를 통하여 점검하였으며 TEM의 전자회절도형을 통해 확인하였다. 분말시료의 경우 $1030^{\circ}C$-12 hr에서, TEM 시편용 시료는 $1060^{\circ}C$-6 hr에서 부분 용융이 일어나며 이 이상의 온도에서는 용융으로 인한 시편두께 증가 및 비정질상으로의 변화로 인하여 알바이트 미세구조의 TEM 영상 획득이 어려웠다. 광학현미경과 TEM의 연계를 통한 알바이트 등온가열 실험 결과 알바이트 tweed 미세구조의 TEM 영상을 얻을 수 있는 최적 조건은 대기압 하에서는 $1050^{\circ}C$-12 hr로 파악되었다. 전자현미경 내 직접가열(in situ TEM heating) 실험의 경우 상기한 실험조건에 비해 고진공 상태임을 고려하면 $1050^{\circ}C$보다 다소 높은 온도에서 알바이트 tweed 미세구조를 직접 관찰할 수 있을 것으로 사료된다

스퍼터링 방법으로 성장한 코발트크롬철망간니켈 고엔트로피 질산화물 박막의 구조특성 (Structural Characterization of CoCrFeMnNi High Entropy Alloy Oxynitride Thin Film Grown by Sputtering)

  • 이정국;홍순구
    • 한국재료학회지
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    • 제28권10호
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    • pp.595-600
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    • 2018
  • This study investigates the microstructural properties of CoCrFeMnNi high entropy alloy (HEA) oxynitride thin film. The HEA oxynitride thin film is grown by the magnetron sputtering method using nitrogen and oxygen gases. The grown CoCrFeMnNi HEA film shows a microstructure with nanocrystalline regions of 5~20 nm in the amorphous region, which is confirmed by high-resolution transmission electron microscopy (HR-TEM). From the TEM electron diffraction pattern analysis crystal structure is determined to be a face centered cubic (FCC) structure with a lattice constant of 0.491 nm, which is larger than that of CoCrFeMnNi HEA. The HEA oxynitride film shows a single phase in which constituting elements are distributed homogeneously as confirmed by element mapping using a Cs-corrected scanning TEM (STEM). Mechanical properties of the CoCrFeMnNi HEA oxynitride thin film are addressed by a nano indentation method, and a hardness of 8.13 GPa and a Young's modulus of 157.3 GPa are obtained. The observed high hardness value is thought to be the result of hardening due to the nanocrystalline microstructure.

치과용 열가압 글라스 세라믹스의 기계적 성질과 미세구조 (Mechanical Properties and Microstructure of Dental Heat-Pressable Glass-Ceramics)

  • 이해형;이병택
    • 한국세라믹학회지
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    • 제41권2호
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    • pp.143-150
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    • 2004
  • 본 연구에서는 치아 수복에 사용되는 상용 글라스 세라믹들을 디스크 모양으로 열가압 성형하여 ball-on-3-bal에 의한 이축강도와 압입시험에 의한 파괴인성을 측정하였다. 시편들로부터 XRD, SEM, TEM을 이용하여 결정상과 미세구조를 분석하였다. 글라스 세라믹내의 결정들은 균열의 진행에 대하여 효과적인 저지를 하지 못하였으나 높은 결정화도가 기계적 성질의 향상에 기여하는 것으로 판단된다. Lithium disilicate결정의 글라스 세라믹은 상대적으로 결정함량이 낮은 leucite 세라믹에 비하여 유의하게 높은 이축강도와 파괴인성을 나타내어 치과용 글라스 세라믹으로서 높은 신뢰성이 기대된다.

Microstructure and Third Order Optical Nonlinearities of Ion-Implanted and Thermally Annealed $Cu-SiO_2$ Thin Films

  • 채이;이민영;김현경;문대원
    • Bulletin of the Korean Chemical Society
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    • 제18권8호
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    • pp.886-889
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    • 1997
  • The crystal structure and optical properties of copper nanoparticles, prepared in fused silica by ion-implantation and subsequent heat-treatment, were characterized by X-ray, TEM, linear absorption, and degenerate four-wave mixing (DFWM) technique. The X-ray data show fcc lattice structure of the nanocrystals and their size was measured as 8-20 nanometer by high resolution TEM. Using DFWM, the third-order nonlinear optical coefficient of the Cu-SiO2 thin films was measured as 0.4-1.1×10-8 esu in the surface plasmon resonance absorption region (540-570 nm).