• Applied Microscopy
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• 제44권4호
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• pp.133-137
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• 2014

We suggest a facile transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation method for the direct (polymer-free) transfer of layer-area graphene from Cu substrates to a TEM grid. The standard (polymer-based) method and direct transfer method were by TEM, high-resolution TEM, and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS). The folds and crystalline particles were formed in a graphene specimen by the standard method, while the graphene specimen by the direct method with a new etchant solution exhibited clean and full coverage of the graphene surface, which reduced several wet chemical steps and accompanying mechanical stresses and avoided formation of the oxide metal.

• 한국재료학회:학술대회논문집
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• 한국재료학회 1993년도 추계 학술발표 강연 및 논문 개요집
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• pp.59-59
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• 1993

• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 한국현미경학회 2000년도 제31차 춘계학술대회
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• pp.68-69
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• 2000

• Journal of Microbiology and Biotechnology
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• 제26권2호
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• pp.263-269
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• 2016

Temperate phages have been suggested to carry virulence factors and other lysogenic conversion genes that play important roles in pathogenicity. In this study, phage TEM123 in wild-type Staphylococcus aureus from food sources was analyzed with respect to its morphology, genome sequence, and antibiotic resistance conversion ability. Phage TEM123 from a mitomycin C-induced lysate of S. aureus was isolated from foods. Morphological analysis under a transmission electron microscope revealed that it belonged to the family Siphoviridae. The genome of phage TEM123 consisted of a double-stranded DNA of 43,786 bp with a G+C content of 34.06%. A bioinformatics analysis of the phage genome identified 43 putative open reading frames (ORFs). ORF1 encoded a protein that was nearly identical to the metallo-β-lactamase enzymes that degrade β-lactam antibiotics. After transduction to S. aureus with phage TEM123, the metallo-β-lactamase gene was confirmed in the transductant by PCR and sequencing analyses. In a β-lactam antibiotic susceptibility test, the transductant was more highly resistant to β-lactam antibiotics than S. aureus S133. Phage TEM123 might play a role in the transfer of β-lactam antibiotic resistance determinants in S. aureus. Therefore, we suggest that the prophage of S. aureus with its exotoxin is a risk factor for food safety in the food chain through lateral gene transfer.

• 한국전자파학회논문지
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• 제17권3호
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• pp.287-294
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• 2006

본 논문은 시간 영역에서의 초광대역 안테나 특성 해석에 대하여 기술한다. 시간 영역 해석을 위해 임펄스 전파 채널에 대한 모델링을 제시하였고, 이를 근거로 초광대역 안테나에 대한 임펄스 응답의 유도 방법을 제시하였다. 또한, 시간 영역에서의 안테나의 특성을 나타내는 파라미터로서 떨림(ringing), 임펄스 응답의 첨두치, 그리고 응답 폭을 제시하였다. 임펄스 응답 측정을 위하여, 변형된 초광대역 코니컬 모노폴 안테나, 초광대역 TEM 혼 안테나, 초광대역 stepped fat 모노폴 안테나를 설계 및 제작하였다. 제작된 모든 안테나는 측정을 통하여 3 GHz 이상의 대역폭을 갖는 초광대역 특성을 보였다. 무반향 반사실에서 구한 각 안테나의 임펄스 응답 특성으로부터, 이득이 높은 TEM 혼이 가장 높은 첨두치를 가짐을 보였고, 대역폭이 가장 작은 stepped fat 모노폴 안테나가 가장 넓은 임펄스 응답 폭을 가짐을 확인했다. 또한, 떨림 현상은 TEM 혼안테나를 제외한 두 안테나에서 관찰되었다.

• 한국재료학회:학술대회논문집
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• 한국재료학회 2003년도 춘계학술발표강연 및 논문개요집
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• pp.228-228
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• 2003

고강성 탄소섬유는 높은 비강도 및 고 강성 특성 때문에 탄소-탄소 복합재료의 가장 우수한 강화재로 각광을 받고 있다. 이 섬유는 미세 결정립의 높은 이방성을 나타내며, 이러한 높은 흑연화 특성은 기계적, 전기적, 전기적 그리고 화학적 특성 등을 좋게한다. 이러한 모든 방면에서의 우수한 특성 때문에 항공우주 재료분야에 의심 없이 가장 우수한 재료로 고려되고 있다. 이렇게 가벼우면서 고온강도가 요구되는 재료로써 탄소재료가 이용되면서 rocket의 nozzle이나 nosecone으로의 응용에는 고온 산화가 중요한 연구주제로 대두되어 왔다. 탄소재료의 산화반응은 결정구조 인자 및 그 배열에 가장 큰 영향을 받는다고 알려져 있는데, 출발원료 및 제조 조건에 따라 그 구조 및 배열이 현격하게 달라진다. 탄소재료의 구조 해석은 주로 TEM과 XRD를 이용해 왔다. 많은 연구자들은 오래 전부터 탄소재료 연구에 TEM에서 얻은 상이 불확실하고 문제가 있다고 보고하였고, 최근 TEM 장치의 발달과 더불어 실제 구조를 얻기가 가능함을 보여주고 있다 그러나 TEM 시편은 여전히 작고 시편으로부터 얻는 정보는 불과 nm 수준이다. 따라서 일반적으로 TEM으로 얻은 정량적인 정보는 불과 특정한 점에서의 정보이기 때문에 여전히 논란의 소지가 많다. XRD는 탄소재료의 미세구조 해석을 위하여 가장 널리 이용되는 분석기기이다.

• 한국지열·수열에너지학회논문집
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• 제14권3호
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• pp.29-34
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• 2018

To present the design direction of the thermoelectric module (TEM) refrigerator, analysis of the effect of the design parameters on the energy efficiency and performance of the refrigerator is performed. The design parameters considered are the cooling capacity of the TEM and the heat transfer performance of the heating and cooling surface of the TEM. The heat transfer performance is the most effective design parameter for improving cooling power. The smaller ΔT and cooling capacity of the TEM make the higher efficiency of the refrigerator.

• Applied Microscopy
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• 제51권
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• pp.19.1-19.7
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• 2021

The main purpose of this paper is the preparation of transmission electron microscopy (TEM) samples from the microsized powders of lithium-ion secondary batteries. To avoid artefacts during TEM sample preparation, the use of ion slicer milling for thinning and maintaining the intrinsic structure is described. Argon-ion milling techniques have been widely examined to make optimal specimens, thereby making TEM analysis more reliable. In the past few years, the correction of spherical aberration (Cs) in scanning transmission electron microscopy (STEM) has been developing rapidly, which results in direct observation at an atomic level resolution not only at a high acceleration voltage but also at a deaccelerated voltage. In particular, low-kV application has markedly increased, which requires a sufficiently transparent specimen without structural distortion during the sample preparation process. In this study, sample preparation for high-resolution STEM observation is accomplished, and investigations on the crystal integrity are carried out by Cs-corrected STEM.

• 전자공학회논문지D
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• 제34D권11호
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• pp.9-19
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• 1997

By noticing that most waveguide devices were connected to power source through coaxial line, three dimentional finite element analysis using TEM mode incident was tried. When tEM mode was used, being dissimilar to TE$_{10}$ mode incident, analysis model of TEM mode incident has almost the same geometry with real products. Therefore, the degree of trust about analysis result is improved. Reflection coefficients of coaxial line, W/G adaptor, magnetron obtained by simulation was compared with experimental results.

• 한국분말재료학회지
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• 제24권4호
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• pp.285-291
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• 2017

We propose a custom analysis technique for the dark field (DF) image based on transmission electron microscopy (TEM). The custom analysis technique is developed based on the $DigitalMicrograph^{(R)}$ (DM) script language embedded in the Gatan digital microscopy software, which is used as the operational software for most TEM instruments. The developed software automatically scans an electron beam across a TEM sample and records a series of electron diffraction patterns. The recorded electron diffraction patterns provide DF and ADF images based on digital image processing. An experimental electron diffraction pattern is recorded from a IrMn polycrystal consisting of fine nanograins in order to test the proposed software. We demonstrate that the developed image processing technique well resolves nanograins of ~ 5 nm in diameter.