The present work is concerned with the formation behavior of anodic oxide films on Al7075 alloy under a galvanostatic condition in 20 vol.% sulfuric acid solution. The formation behaviour of anodic oxide films was studied by the analyses of voltage-time curves and observations of colors, morphologies and thicknesses of anodic films with anodization time. Hardness of the anodic oxide films was also measured with anodization time and at different positions in the anodic films. Six different stages were observed with anodiziation time : barrier layer formation (stage I), pore formation (stage II), growth of porous films (stage III), abnormal rapid oxide growth (stage IV), growth of non-uniform oxide films (stage V) and breakdown of the thick oxide films under high anodic voltages (stage VI). Hardness of the anodic oxide films appeared to decrease with increasing anodization time and with the position towards the outer surface. This work provides useful information about the thickness, uniformity, imperfections and hardness distribution of the anodic oxide films formed on Al7075 alloy in sulfuric acid solution.
The anodic oxidation behaviour of a cast component of AC2A Al alloy with machined surface and ascast surface was investigated in sulfuric acid solution. The anodized specimen showed relatively uniform and thick anodic oxide films on the as-cast surface, while non-uniform and very thin oxide films were formed on the machined surface. Non-anodized as-cast surface was observed to be covered with thick oxide scales and showed a number of second-phase particles containing Si, while non-anodized machined surface showed no oxide scales and relatively very small number of Si particles. Thus, the very limited growth of anodic oxide films on the as-cast surface was attributed to the presence of thick oxide scales and Si-containing second-phase particles on its surface.
Ultra High molecular weight polyethylene(UHMWPE) films were photooxidized by UV/ozone irradiation. Reflectance of the irradiated films decreased in the low wavelength regions of visible light, indicating destructive interference of visible light due to roughened surface. The UV treatment developed the nano-scale roughness on the UHMWPE films surface, which increased by two-fold from 82.6 to 156.6nm in terms of peak-valley roughness. The UV irradiation caused the oxygen content of the UHMWPE film surface to increase. Water contact angle decreased from $83.2^{\circ}$ to $72.9^{\circ}$ and surface energy increased from 37.8 to 42.6mJ/$m^2$ with increasing UV energy. The surface energy change was attributed to significant contribution of polar component rather than nonpolar component indicating surface photooxidation of UHMWPE films. The increased dyeability to cationic dyes may be due to the photochemically introduced anionic and dipolar dyeing sites on the film surfaces.
This article reports for the first time on the lateral growth of PEO (plasma electrolytic oxidation) films on Al1050 alloy by the application of anodic pulse current in an alkaline electrolyte. Generation of microarcs was observed at the edges initially and then moved towards the central region with PEO treatment time. Disc type PEO film islands with about $20{\mu}m$ diameter were formed first and they grew laterally by the formation of new disc type PEO films at the edge of pre-formed PEO islands. The PEO film islands were found to be interconnected completely and form a continuous PEO film when generation of small size microarcs are terminated at the central part of the specimen, resulting in very smooth surface with low surface roughness less than $1{\mu}m$ of $R_a$. Further PEO treatment after the complete interconnection of PEO films islands showed local thickening of PEO films by vertical growth. It is concluded that very smooth PEO film surface can be obtained by lateral growth mechanism rather than vertical growth of them.
Plasma polymerized organic thin films were deposited on Si(100), glass and metal substrates at $25∼100 ^{\circ}C$ using thiophene and toluene precursors by PECVD method. In order to compare physical and electrochemical properties of the as-grown thin films, the effects of the RF plasma power in the range of 30∼100 W and deposition temperature on both corrosion protection efficiency and physical properties were studied. We found that the corrosion protection efficiency ($P_{k}$), which is one of the important factors for corrosion protection in the interlayer dielectrics of microelectronic devices application, was increased with increasing RF power. The highest $P_{k}$ value of plasma polymerized toluene film (85.27% at 70 W) was higher than that of the plasma polymerized thiophene film (65.17% at 100 W), indicating inhibition of oxygen reduction. The densely packed and tightly interconnected toluene film could act as an efficient barrier layer to the diffusion of molecular oxygen. The result of contact angle measurement showed that the plasma polymerized toluene films have more hydrophobic surface than those of the plasma polymerized thiophene films.
The optical and electronic properties of Indium Tin Oxide (ITO) thin films deposited on a RF-plasma treated glass substrate were investigated by X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Ultra-violet Photoelectron Spectroscopy (UPS), Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS). The modification of glass substrates was carried out by varying the time of the plasma surface treatment in an oxygen atmosphere. The focus of this research was to examine how the optical and electronic properties of ITO thin films change with the plasma treatment time. The surface energy increased since the carbon bonds were removed from the surface after the glass substrate received the surface treatment. The ITO thin films produced on the glass substrate with surface treatment showed that the high optical transmittance was approximately 85%. The measured band gap energy was as high as 3.23 eV when the plasma treatment time was 60 s and the work function after the treatment was increased by 0.5 eV in comparison to that before the treatment of 60 s. The ITO thin film exhibited an excellent sheet resistance of $2.79{\Omega}/{\Box}$. We found that the optical and electronic properties of ITO thin films can be improved by RF-plasma surface treatment.
Electron beam irradiation is widely used as a type of surface modification technology to advance surface properties. In this study, the effect of electron beam irradiation on properties, such as surface hardness, wear resistance, roughness, and critical load of Titanium Aluminium nitride (TiAlN) films was investigated. TiAlN films were deposited on the SKD-61 substrate by using cathode arc ion plating. After deposition, the films were bombarded with intense electron beam for 10 minutes. The surface hardness was increased up to 4520 HV at electron irradiation energy of 1500 eV. In addition, surface root mean square (RMS) roughness of the films irradiated at 1500 eV shows the lowest roughness of 484 nm in this study.
We attempted to fabricate polyurethane derivatives (PU-CN, PU-DCM) LB films by using LB method. Also, we investigated the monolayer behavior at the air-water interface by surface pressure-area (${\pi}$-A) isotherms. The surface morphologies and the physicochemical properties of LB films were investigated by atomic force microscopy(AFM) and UV-vis spectroscopy, respectively. And, the electrical properties of polyurethane derivatives LB films were investigated by using the conductivity and the dielectric constant. In the surface morphologies, physicochemical and electrical properties of polyurethane derivatives LB films, the properties is different as to the polyurethane derivatives, it is considered that this phenomena could be described by the difference of lumophore pendant which was adhered at PU main chain.
The BON thin films were grown on the Si substrate by the RF-PECVD method. When stored at the room temperature, the phase separation or transition of BON thin films occurred on the surface, due to the hydrophilic property of BON. The oxidation of BON thin films occurred mainly by the evaporation of B, O and N. The oxidized BON thin films consisted of an amorphous phase and a bit of the polycrystalline phase.
Transparent conductive oxides (TCO) are necessary as front electrode for most thin film solar cell. In our paper, transparent conducting aluminum-doped Zinc oxide films (ZnO:Al) were prepared by rf magnetron sputtering on glass (Corning 1737) substrate as a variation of the deposition condition. After deposition, the smooth ZnO:Al films were etched in diluted HCI (0.5%) to examine the electrical and surface morphology properties as a variation of the time. The most important deposition condition of surface-textured ZnO films by chemical etching is the processing pressure md the substrate temperature. In low pressures (0.9mTorr) and high substrate temperatures ($\leq$$300^{\circ}C$), the surface morphology of films exhibits a more dense and compact film structure with effective light-trapping to apply the silicon thin film solar cells.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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