An electric field was applied to a Mo conductive layer in the sandwiched structure of $glass/SiO_2/Mo/SiO_2/a-Si$ to induce Joule heating in order to generate the intense heat needed to carry out the crystallization of amorphous silicon. Polycrystalline silicon was produced via Joule heating through a solid state transformation. Blanket crystallization was accomplished within the range of millisecond, thus demonstrating the possibility of a new crystallization route for amorphous silicon films. The grain size of JIC poly-Si can be varied from few tens of nanometers to the one having the larger grain size exceeding that of excimer laser crystallized (ELC) poly-Si according to transmission electron microscopy. We report here the blanket crystallization of amorphous silicon films using the $2^{nd}$ generation glass substrate.
A soldering process with longitudinal ultrasonic is conducted in this work using the Au bump and substrate. Localized heating of the solder is achieved and the stirring action due to the ultrasonic is found to influence the bond strength and microstructure of the eutectic solder The acceptable bonding condition is determined from the tensile strength. Since the multiple bonds can be formed simultaneously with localized heating, the proposed ultrasonic soldering method appears to be applicable to the high-density electronic package.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제12권5호
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pp.209-212
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2011
Hafnium nitride (HfN) thin films were deposited onto a silicon substrate by inductive coupled nitrogen plasma-assisted radio frequency magnetron sputtering. The films were prepared without intentional substrate heating and a substrate negative bias voltage ($-V_b$) was varied from -50 to -150 V to accelerate the effects of nitrogen ions ($N^+$) on the substrate. X-ray diffractometer patterns showed that the structure of the films was strongly affected by the negative substrate bias voltage, and thin film crystallization in the HfN (100) plane was observed under deposition conditions of -100 $V_b$ (bias voltage). Atomic force microscopy results showed that surface roughness also varied significantly with substrate bias voltage. Films deposited under conditions of -150 $V_b$ (bias voltage) exhibited higher hardness than other films.
We investigated the effects of a high density $O_2$ plasma treatment on the structural and electrical properties of Ga-, B- codoped ZnO (GZOB) films. The GZOB films were deposited on polymer substrate without substrate heating by DC magnetron sputtering. Prior to the GZOB film growth, we treated a polymer substrate with highly dense inductively coupled oxygen plasma. The optical transmittance of the GZOB film, about 80 %, was maintained regardless of the plasma pre-treatment. The resistivity of the GZOB film on PC substrate decreased from 9.08 ${\times}$$10^{-3}$${\Omega}-cm$ without an $O_2$ plasma pre-treatment to 2.12 ${\times}$$10^{-3}$${\Omega}-cm$ with an $O_2$ plasma pre-treatment. And PES substrate decreased from 1.14 ${\times}$$10^{-2}$${\Omega}-cm$ without an $O_2$ plasma pre-treatment to 6.13 ${\times}$$10^{-3}$${\Omega}-cm$ with an $O_2$ plasma pre-treatment.
In recent years, flexible display devices such as liquid crystal display (LCD), organic light emitting diode (OLED), etc. have attracted considerable interest in a wide variety of applications. Polymer substrate is absolutely necessary to realize this kind of flexible display devices. Using the polymer as a substrate, there are lots of advantages including not only mechanical flexibility such as rolling and bending characteristics but also light weights, low cost and so on. In detail, thickness and weights is only one forth and one second of glass substrate, respectively. However, it needs low temperature below $150^{\circ}C$ in the fabrication process comparing to conventional deposition process. The polymer substrate is not thermally stable as much as the glass substrate so that some deformation can be occurred according to variation of temperature. In particular, performance of devices can be easily deteriorated by shrinkage of substrate when heating it. In this paper, pre-annealing and deposition of buffer layer was introduced and studied to solve previously mentioned problems of the shrinkage and followed shear stress.
A new method of forming silicon p$^{+}$-n-n$^{+}$ junctions has been attempted by using the VDH-Implanter (Vacuum Discharge and Heating). Each of p$^{+}$-n and n-n$^{+}$ junctions was formed on both sides of an n-type silicon substrate by means of predeposition of each dopant and their bombarding due to rarefied air ions together with the preheating of the substrate in the implanter. The recifying principle of the p$^{+}$-n-n$^{+}$ junctions is thought to be based on the theory of double injection. The I-V characteristic of the diode has shown that it has a fairly high forward current density with the desirable rise due to vary low voltage though the reverse voltage is a little low on account of the low resistivity of the silicon substrate.n substrate.
Polyphenol oxidase (PPO) was isolated from the flesh of Fuji apples by DEAE-Cellulose, ammonium sulfate precipitation, phenyl-Sepharose CL-4B, and Sephdex G-100 chromatography. The molecular mass of the purified PPO was estimated to be 40 kDa by SDS polyacrylamide gel electrophoresis. With regard to substrate specificity, maximum activity was achieved with chlorogenic acid as substrate, followed by catechin and catechol whereas, there was no detectable activity with hydroquinic acid, resorcinol, or tyrosine as substrate. The optimum pH and temperature with catechol as substrate were 6.5 and $35^{\circ}C$, respectively. The enzyme was most stable at pH 6.0 and unstable at acidic pH. The enzyme was stable when it was heated to $45^{\circ}C$ but heating at $50^{\circ}C$ for more than 30 min caused 50% loss of activity. Reduced $ZnSO_4$, L-cystein, epigallocatechin-3-o-gallate (EGCG), and gallocatechin gallate (GCG) also inhibited activity.
Silicon oxide films with high hardness and water repellency were prepared by microwave plasma-enhanced CVD using four kind of organosilicon compound-fluoro-alkyl silane mixtures as source gases. An argon gas was used as a carrier gas for fluoro-alkyl silane. The substrate temperatures during deposition were controlled by resistant heating at a constant value between 50 and $300^{\circ}C$. The hardness of the films increased, but the deposition rate and the contact angle for a water drop decreased with increasing substrate temperature. The number of methoxy groups also affected the water repellency and hardness. The deposited films became more inorganic with increasing substrate temperature because of the thermal dissociation of reactants.
The physical and electrical characteristics of MgO and Pt thin-films on it deposited by reactive sputtering and rf magnetron sputtering respectively were analyzed with annealing temperature and time by four point probe SEM and XRD. Under annealing conditions of 100$0^{\circ}C$ and 2 hr, MgO thin-film had the properties of improving Pt adhesion to SiO$_2$and insulation without chemical reaction to Pt thin-film and the sheet resistivity and the resistivity of Pt thin-film deposited on it were 0.1288 Ω/ and 12.88 $\mu$$\Omega$.cm respectively. We made Pt resistance pattern on SiO$_2$/Si substrate by life-off method and fabricated Pt thin-film type microheater for thermal microsensors by Pt-wire Pt-paste and SOG(spin-on-glass). In the temperature range of 25~40$0^{\circ}C$ we estimated TCR(temperature coefficient of resistance) and resistance ratio of thin-film type Pt-RTD(resistance thermometer device). We obtained TCR value of 3927 ppm/$^{\circ}C$ close to the bulk Pt value. Resistance values were varied linearly within the range of the measurement temperature. The thermal characteristics of fabricated thin-films type Pt micorheater were analyzed with Pt-RTD integrated on the same substrate. The heating temperature of Pt microheater could be up to 40$0^{\circ}C$ with 1.5 watts of the heating power.
Inorganic oxide colloids dispersed in alcohol were applied to a stainless steel substrate to produce oxide coatings for the purpose of minimizing emissive thermal transfer. The microstructure, roughness, infrared emissive energy, and surface heat loss of the coated substrate were observed with a variation of the nano oxide sol and coating method. It was found that the indium tin oxide, antimony tin oxide, magnesium oxide, silica, titania sol coatings may reduce surface heat loss of the stainless steel at 300${\circ}C$. It was possible to suppress thermal oxidation of the substrate with the oxide sol coatings during an accelerated thermal durability test at 600${\circ}C$. The silica sol coating was most effective to suppress thermal oxidation at 600${\circ}C$, so that it is useful to prevent the increase of radiative surface heat loss as a heating element. Therefore, the inorganic oxide sol coatings may be applied to improve energy efficiency of the substrate as the heating element.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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